一种X射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置的制作方法

本技术为一种x射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，属于分析检测领域。

背景技术：

1、对于采用x射线荧光光谱法测定氢氧化铝中sio2、fe2o3、na2o含量的实验，针对氢氧化铝提出了一种直接压片的方法。

2、所谓的直接压片法是指将氢氧化铝试样研磨后，放置于模具内，通过压片机加压至35t，保持30s，形成样片，可以直接将样品置于x荧光机上进行测量。

3、氢氧化铝粉末制备样片需要自模具内取出，为避免污染样品，要求只能接触样片边缘。但是氢氧化铝粉末制备的样片稳定性差，脱模困难，接触样片的过程中还易导致样片破碎，检测难度较大。

技术实现思路

1、为解决上述技术问题，本实用新型提出一种x射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，可以方便快捷的对样片进行脱模，操作简单，样片破损率低。

2、为实现上述技术目的，本实用新型提供一种x射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，所述的x射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置的技术方案包括压力机和压片模具。其中，所述压片模具包括：模具本体和脱模底板，模具本体整体为块状结构，所述块状结构上设置有开口向上的凹槽。脱模底板为板状结构，所述脱模底板活动设置于所述凹槽内，且所述脱模底板具有在所述凹槽内上下往复运行的趋势。所述压力机至少包括一个加压端头，所述加压端头外形与所述凹槽形状相适应。

3、优选地，所述模具本体包括位于所述凹槽下方的凹槽底板；所述凹槽底板上至少包括一个通孔，所述通孔内活动设置有推杆，所述推杆具有在上下往复运行的趋势，所述推杆被配置为驱动所述脱模底板在所述凹槽内上下往复运行。

4、优选地，所述通孔为螺纹孔，所述推杆为螺纹杆，所述推杆靠近所述凹槽底板的下侧面一端设置有一字形槽或者十字形槽，且所述推杆长度小于所述通孔长度。

5、优选地，所述凹槽底板上设置有开口向下的安装槽，所述安装槽的底面上设置有多个通孔。

6、所述安装槽内至少包括：主动齿轮和从动齿轮。其中，所述主动齿轮的中心线经过所述脱模底板的中心点，多个所述从动齿轮与所述主动齿轮啮合，所述从动齿轮中部设置有动力螺纹孔，每个所述从动齿轮的正上方设置一个通孔，且所述动力螺纹孔的中心线与所述通孔的中心线共线，所述推杆为螺纹杆，每个动力螺纹孔和对应的所述通孔内活动设置一个推杆。

7、优选地，所述凹槽的侧面从上至下向内倾斜。所述加压端头包括端头侧面，所述加压端头下压至所述凹槽内时，所述端头侧面具有与所述凹槽的侧面贴合的趋势。

8、优选地，所述脱模底板的外形与所述凹槽的结构相适应。所述脱模底板包括底板下端面和底板侧面，所述底板下端面与所述凹槽的底面一致，所述底板侧面具有与所述凹槽的侧面贴合的趋势。

9、本实用新型与现有技术相比具有如下有益效果：

10、本实用新型采用的脱模底板，完成氢氧化铝试样加压后，通过驱动脱模底板可以将氢氧化铝样片推出凹槽，可以减少检测人员触碰，避免污染样片同时减少因触碰造成的样片破碎的概率。

技术特征：

1.一种x射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，其特征在于，包括：压力机和压片模具；

2.根据权利要求1所述的一种x射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，其特征在于，所述模具本体包括位于所述凹槽下方的凹槽底板，所述凹槽底板上至少包括一个通孔，所述通孔内活动设置有推杆，所述推杆具有在上下往复运行的趋势，所述推杆被配置为驱动所述脱模底板在所述凹槽内上下往复运行；

3.根据权利要求2所述的一种x射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，其特征在于，所述凹槽底板上设置有开口向下的安装槽，所述安装槽的底面上设置有多个通孔；

4.根据权利要求1至3任一项所述的一种x射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，其特征在于，所述凹槽的侧面从上至下向内倾斜；

技术总结
本技术为一种X射线荧光光谱法测定氢氧化铝直接压片装置，属于分析检测领域；可以方便快捷的对样片进行脱模，操作简单，样片破损率低。技术方案包括压力机和压片模具。其中，所述压片模具包括：模具本体和脱模底板，模具本体整体为块状结构，所述块状结构上设置有开口向上的凹槽。脱模底板为板状结构，所述脱模底板活动设置于所述凹槽内，且所述脱模底板具有在所述凹槽内上下往复运行的趋势。所述压力机至少包括一个加压端头，所述加压端头外形与所述凹槽形状相适应。

技术研发人员：郑中华,岳丽华,陈雅彬
受保护的技术使用者：内蒙古大唐国际呼和浩特铝电有限责任公司
技术研发日：20221221
技术公布日：2024/1/12