一种光学膜片厚度检测装置的制作方法

文档序号:34098526发布日期:2023-05-10 10:00阅读:64来源:国知局
一种光学膜片厚度检测装置的制作方法

本技术属于光学膜片检测,具体涉及一种光学膜片厚度检测装置。


背景技术:

1、高精度光学膜片由pvb树脂粉、增塑剂等原料加热搅拌混合后挤出,再经过表面压花处理、烘干热处理、冷却、质量检测以及收卷等工序制得,膜片的厚度是其重要的质量标准之一,膜产品大多通过测厚仪测量厚度,测厚仪根据测定原理的不同,分为超声、磁性、涡流、激光等四种,激光测厚仪是由两个激光位移传感器上下对射的方式组成的,通过计算得到被测体的厚度,其优点在于更加精准,不会与被测体之间发生磨损,检测过程更加安全,没有辐射污染。

2、现有技术中专利公告号为cn217504690u的一种高精度光学膜片厚度检测装置,上述专利通过电动推杆推动第一支撑板进行上下移动,从而控制膜至激光测厚仪本体的检测处,通过电机带动螺纹杆转动,螺纹杆带动两组滑块在滑槽内相靠近,从而带动限位辊对膜进行限位,使得传输过程中膜与检测装置能够保持垂直,通过液压杆推动底板上下移动,从而调节检测装置的位置;

3、但从实际出发,上述专利缺乏对膜片表面清洁的结构,由于光学膜片在生产中的运输线较长,倘若膜片在持续运输检测的过程中,其表面粘附有污渍或杂质,进而膜片易同步携带污渍或杂质移至检测激光测厚仪本体处,继而会影响到激光测仪对膜片检测精度,不利用使用。

4、因此,需要一种光学膜片厚度检测装置,解决现有技术中存在的光学膜片在生产中的运输线较长,倘若膜片在运输检测过程中表面粘附有污渍或杂质,进而会影响到激光测仪对膜片检测精度的问题。


技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种光学膜片厚度检测装置,以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种光学膜片厚度检测装置,包括基座和设置于所述基座顶面中部的厚度测试仪;所述厚度测试仪的两侧均设置有限位机构,其中一个所述限位机构上设置有洁面机构;所述限位机构包括两个呈c型状对称固定于所述基座顶面上的活动架和两个滑动设置于所述活动架内侧中的移动螺母座,两个所述活动架之间对称设置有两个压辊,两个所述移动螺母座分别与两个所述压辊的端部转动相连;所述洁面机构为两组,两组所述洁面机构分别位于所述压辊远离所述厚度测试仪的一侧,所述洁面机构包括两个固定横架和设置于两个所述固定横架之间的擦拭部件,两个所述固定横架分别与两个处于水平方向的移动螺母座相垂直固接。

3、方案中需要说明的是,所述擦拭部件包括两个对称转动设置于两个所述固定横架之间的传动杆、紧固套接于所述传动杆杆身上的传动辊以及传动连接于两个所述传动辊之间的传动带,所述传动带的带身上可拆卸设置有擦布,其中一个所述固定横架的侧边上转动穿设有操控转杆,所述操控转杆与其中一个所述传动杆端部相固接。

4、进一步值得说明的是,所述活动架两端内壁之间竖直转动设置有双向螺杆,两个所述移动螺母座对称螺纹连接于所述双向螺杆的杆身上,所述活动架的顶部安装有电机,所述电机的输出轴转动贯穿所述活动架的顶板并与所述双向螺杆的一端相固接。

5、更进一步需要说明的是,所述传动带的带身上固定嵌设有魔术贴毛面,所述擦布两端的内壁上均缝合有与所述魔术贴毛面相贴的魔术贴勾面。

6、作为一种优选的实施方式,所述操控转杆的杆身紧固套接有锁紧齿轮,所述固定横架上竖直固定有供滑板,所述供滑板上设置有与所述锁紧齿轮相适配的卡固组件,所述卡固组件包括滑动设置于所述供滑板上的锁紧块,所述锁紧块的一端转动连接有螺纹推杆,所述锁紧块的另一端穿入所述锁紧齿轮两个相邻齿牙之间,所述螺纹推杆的杆身上螺纹连接有与所述供滑板相垂直固接固定螺母座。

7、作为一种优选的实施方式,所述锁紧块上固定有滑块,所述供滑板上开设有与滑块相适配的滑槽。

8、与现有技术相比,本实用新型提供的一种光学膜片厚度检测装置,至少包括如下有益效果:

9、(1)通过擦拭部件的设置,在开启电机,使得移动螺母座带动压辊接触膜片的过程中,移动螺母座仍可同步携带擦拭部件整体下行,使得擦拭部件中的擦布可同时与膜片的表面相接触,继而输送装置在传输膜片的过程中,擦布可持续擦拭膜片的表面,清洁膜片表面附着的污渍和杂质,保证膜片在经过厚度测试仪时表面的清洁程度,提高检测的精准度。

10、(2)通过操控转杆和传动带的设置,待完成一次膜片厚度检测后,使用人员可扭转操控转杆,操控其中一个传动杆携带其杆身上的传动辊自转,传动带便携带擦布运转,将擦布的两面调换,替换擦布在上一次检测过程中被污垢和杂质污染的一面替换,方便二次使用。



技术特征:

1.一种光学膜片厚度检测装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种光学膜片厚度检测装置,其特征在于:

3.根据权利要求1所述的一种光学膜片厚度检测装置,其特征在于:

4.根据权利要求2所述的一种光学膜片厚度检测装置,其特征在于:

5.根据权利要求2所述的一种光学膜片厚度检测装置,其特征在于:

6.根据权利要求5所述的一种光学膜片厚度检测装置,其特征在于:所述锁紧块(16)上固定有滑块,所述供滑板(15)上开设有与滑块相适配的滑槽。


技术总结
本技术公开了一种光学膜片厚度检测装置,属于光学膜片检测技术领域,针对了光学膜片在生产中的运输线较长,倘若膜片在运输检测过程中表面粘附有污渍或杂质,进而会影响到激光测仪对膜片检测精度的问题,包括基座和厚度测试仪,厚度测试仪的两侧均设置有限位机构,其中一个限位机构上设置有洁面机构,限位机构包括活动架和移动螺母座,洁面机构包括两个固定横架和设置于两个固定横架之间的擦拭部件;本技术通过擦拭部件的设置,输送装置在传输膜片的过程中,擦布可持续擦拭膜片的表面,清洁膜片表面附着的污渍和杂质,保证膜片在经过厚度测试仪时表面的清洁程度,提高检测的精准度。

技术研发人员:石少辉,钟福新
受保护的技术使用者:福建华沃光电科技有限公司
技术研发日:20221226
技术公布日:2024/1/11
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1