电阻检测结构及待测电阻的制作方法

本技术涉及电阻检测结构领域，特别涉及一种电阻检测结构及待测电阻。

背景技术：

1、一般而言，精密电阻是在基板上以多种制作过程形成多个电阻，但各项制作过程变异会造成电阻值产生偏差。所以需要对电阻进行修阻，将待修阻样品置于修阻机台载板上，由一机械修磨电阻或是电射激光切割电阻，以将电阻值调整至目标值，也就是改变(减小)金属本体截面积，从而得到最终的目标阻值。

2、但是电射修阻时电压检测是检测一个位置的电压，对单一点位进行电压检测有可能发生待测点位无法代表实际阻值的情况，从而导致修阻出现误差。

技术实现思路

1、本实用新型的主要目的是提出一种电阻检测结构及待测电阻，旨在提高电阻检测的精确度。

2、为实现上述目的，本实用新型提出一种电阻检测结构，应用于待测电阻，所述待测电阻具有第一电极和第二电极，所述电阻检测结构包括：

3、至少一个第一检测针，所述至少一个第一检测针设置于第一电极上；

4、至少两个第二检测针，所述至少两个第二检测针设置于第二电极上。

5、可选地，所述第一电极上设置有一个所述第一检测针，所述第二电极上设置有两个所述第二检测针；所述第一检测针设置于所述第一电极的中心点上，两个所述第二检测针设置与所述第二电极的中心点对称设置。

6、可选地，所述第一电极上设置有一个所述第一检测针，所述第二电极上设置有三个所述第二检测针；一个所述第一检测针设置在所述第一电极的中心点上，一个所述第二检测针设置在所述第二电极的中心点上，另两个所述第二检测针与所述第二电极的中心点对称设置。

7、可选地，所述第一电极上设置有三个所述第一检测针，所述第二电极上设置有三个所述第二检测针；一所述第一检测针设置于所述第一电极的中心点上，另两个所述第一检测针与所述第一电极的中心点对称设置，三个所述第二检测针与三个所述第一检测针一一对应平行设置。

8、可选地，所述第一检测针及所述第二检测针采用导电材料制成。

9、可选地，所述第一检测针及所述第二检测针的形状为圆柱形或针形。

10、本实用新型还提出一种待测电阻，所述待测电阻包括第一电极和第二电极，如上所述的电阻检测结构设置于所述第一电极和所述第二电极上；其中，所述电阻检测结构的至少一个第一检测针设置于所述第一电极上，所述电阻检测结构的至少两个第二检测针设置于所述第二电极上。

11、可选地，所述第一电极分为至少一个第一电压感应区，所述第一电压感应区的数量对应所述第一检测针的数量设置，每一所述第一检测针对应设置在一所述第一电压感应区上，所述第二电极分为至少两个第二电压感应区，所述第二电压感应区的数量对应所述第二检测针的数量设置，每一所述第二检测针对应设置在一所述第二电压感应区上。

12、本实用新型技术方案通过至少一个第一检测针和至少两个第二检测针构成电阻检测结构，其中，至少一个第一检测针设置在待测电阻的第一电极上，至少两个第二检测针设置在待测电阻的第二电极上，如此可以检测第一检测针到多个第二检测针之间通路的电阻，得到多个电阻值，从而降低对于电阻阻值测试的误差。本实用新型旨在提高电阻检测的精确度。

技术特征：

1.一种电阻检测结构，应用于待测电阻，所述待测电阻具有第一电极和第二电极，其特征在于，所述电阻检测结构包括：

2.如权利要求1所述的电阻检测结构，其特征在于，所述待测电阻第一电极上设置有一个所述第一检测针，所述待测电阻第二电极上设置有两个所述第二检测针；所述第一检测针设置于所述第一电极的中心点上，两个所述第二检测针设置与所述第二电极的中心点对称设置。

3.如权利要求1所述的电阻检测结构，其特征在于，所述待测电阻第一电极上设置有一个所述第一检测针，所述待测电阻第二电极上设置有三个所述第二检测针；一个所述第一检测针设置在所述第一电极的中心点上，一个所述第二检测针设置在所述第二电极的中心点上，另两个所述第二检测针与所述第二电极的中心点对称设置。

4.如权利要求1所述的电阻检测结构，其特征在于，所述待测电阻第一电极上设置有三个所述第一检测针，所述待测电阻第二电极上设置有三个所述第二检测针；一所述第一检测针设置于所述第一电极的中心点上，另两个所述第一检测针与所述第一电极的中心点对称设置，三个所述第二检测针与三个所述第一检测针一一对应平行设置。

5.如权利要求1所述的电阻检测结构，其特征在于，所述第一检测针及所述第二检测针采用导电材料制成。

6.如权利要求1所述的电阻检测结构，其特征在于，所述第一检测针及所述第二检测针的形状为圆柱形或针形。

7.一种待测电阻，其特征在于，所述待测电阻包括第一电极和第二电极，如权利要求1-6任意一项所述的电阻检测结构设置于所述第一电极和所述第二电极上；其中，所述电阻检测结构的至少一个第一检测针设置于所述第一电极上，所述电阻检测结构的至少两个第二检测针设置于所述第二电极上。

8.如权利要求7所述的待测电阻，其特征在于，所述第一电极分为至少一个第一电压感应区，所述第一电压感应区的数量对应所述第一检测针的数量设置，每一所述第一检测针对应设置在一所述第一电压感应区上，所述第二电极分为至少两个第二电压感应区，所述第二电压感应区的数量对应所述第二检测针的数量设置，每一所述第二检测针对应设置在一所述第二电压感应区上。

技术总结
本技术公开一种电阻检测结构及待测电阻，待测电阻具有第一电极和第二电极，电阻检测结构包括：至少一个第一检测针，至少一个第一检测针设置于第一电极上；至少两个第二检测针，至少两个第二检测针设置于第二电极上。本技术技术方案旨在提高电阻检测及修阻的精确度。

技术研发人员：江显伟
受保护的技术使用者：钧崴电子科技股份有限公司
技术研发日：20221227
技术公布日：2024/1/12