高分辨率连续旋转工业放射摄影成像过程的制作方法

本公开内容总体上涉及工业放射摄影成像过程，并且更具体地，涉及高分辨率、连续旋转的工业放射摄影成像过程。

背景技术：

1、工业放射摄影成像系统用于采集工业应用中使用的部件的二维(2d)放射摄影图像。这样的工业应用可以包括例如航空航天、汽车、电子、医疗、制药、军事和/或国防应用。可以对2d放射摄影图像进行检查，以检查(多个)零件的裂纹、瑕疵和/或缺陷，这些裂纹、瑕疵和/或缺陷通常对于人眼可能是可见的，也可能是不可见的。

2、通过将这种系统与在本申请的其余部分参照附图阐述的本公开内容相比较，常规方法和传统方法的局限性和缺点对本领域技术人员而言将变得清楚。

技术实现思路

1、本公开内容涉及基本上如至少一个附图所示的和/或结合至少一个附图所描述的并且如权利要求中更完整地阐述的高分辨率、连续旋转的工业放射摄影成像过程。

2、从以下说明书和附图，将更加充分地理解本公开内容的这些和其他优点、方面和新颖特征以及本公开内容的所展示示例的细节。

技术特征：

1.一种非暂时性计算机可读介质，包括机器可读指令，所述机器可读指令在由处理器执行时使所述处理器：

2.如权利要求1所述的非暂时性计算机可读介质，其中，所述第一参数包括图像投影的数量，并且所述第二参数包括被一起求平均以产生一个图像投影的图像帧的数量。

3.如权利要求2所述的非暂时性计算机可读介质，进一步包括：机器可读指令，所述机器可读指令用于所述高分辨率图像采集过程，所述机器可读指令在由所述处理电路系统执行时使所述处理电路系统：

4.如权利要求3所述的非暂时性计算机可读介质，进一步包括：机器可读指令，所述机器可读指令用于所述高分辨率图像采集过程，所述机器可读指令在由所述处理电路系统执行时使所述处理电路系统：将所述第三组更高分辨率的放射摄影图像组合成所述物体的图像，所述物体的图像包括表示二维(2d)图像的数据、表示三维(3d)体积的数据、或表示所述3d体积的2d切片的数据。

5.如权利要求3所述的非暂时性计算机可读介质，其中，所述第一组放射摄影图像和所述第二组放射摄影图像的大小等于所述第一参数值乘以所述第二参数值，并且所述第三组放射摄影图像的大小等于所述第一参数值。

6.如权利要求3所述的非暂时性计算机可读介质，其中，基于所述最大起始角度变化，将所述第一参数的第一参数值设置或推荐为所述第一值，或将所述第二参数的第二参数值设置或推荐为所述第二值，包括：

7.如权利要求6所述的非暂时性计算机可读介质，其中，基于所述最大起始角度变化，将所述第一参数的第一参数值设置或推荐为所述第一值，或将所述第二参数的第二值设置或推荐为所述第二值进一步包括自动设置所述第一参数值或所述第二参数值，使得所述起始角度变化将不会超过所述最大起始角度变化。

8.如权利要求3所述的非暂时性计算机可读介质，其中，所述第一检测器位置与所述第二检测器的位置错开小于所述辐射检测器的像素大小。

9.如权利要求1所述的非暂时性计算机可读介质，进一步包括：机器可读指令，所述机器可读指令在由所述处理电路系统执行时使所述处理电路系统：将所述图像显示在显示屏上。

10.如权利要求1所述的非暂时性计算机可读介质，其中，所述最大起始角度变化是基于所述工业放射摄影成像系统的几何放大倍数或所述工业放射摄影成像系统的特定应用所需的画质识别的，所述几何放大倍数包括从所述辐射发射器到所述辐射检测器的第一距离除以从所述辐射发射器到所述物体的第二距离。

11.一种工业放射摄影成像系统，包括：

12.如权利要求11所述的系统，其中，所述第一参数包括图像投影的数量，并且所述第二参数包括被一起求平均以产生一个图像投影的图像帧的数量。

13.如权利要求12所述的系统，其中，所述存储器电路系统进一步包括用于所述高分辨率图像采集过程的机器可读指令，所述机器可读指令在由所述处理电路系统执行时使所述处理电路系统：

14.如权利要求13所述的系统，其中，所述存储器电路系统包括用于所述高分辨率图像采集过程的机器可读指令，所述机器可读指令在由所述处理电路系统执行时进一步使所述处理电路系统：将所述第三组更高分辨率的放射摄影图像组合成所述物体的图像，所述物体的图像包括表示二维(2d)图像的数据、表示三维(3d)体积的数据、或表示所述3d体积的2d切片的数据。

15.如权利要求13所述的系统，其中，所述第一组放射摄影图像和所述第二组放射摄影图像的大小等于所述第一参数值乘以所述第二参数值，并且所述第三组放射摄影图像的大小等于所述第一参数值。

16.如权利要求13所述的系统，其中，基于所述最大起始角度变化，将所述第一参数的第一参数值设置或推荐为所述第一值，或将所述第二参数的第二参数值设置或推荐为所述第二值，包括：

17.如权利要求16所述的系统，其中，基于所述最大起始角度变化，将所述第一参数的第一参数值设置或推荐为所述第一值，或将所述第二参数的第二参数值设置或推荐为所述第二值，进一步包括自动设置所述第一参数值或所述第二参数值，使得所述起始角度变化将不会超过所述最大起始角度变化。

18.如权利要求13所述的系统，其中，所述第一检测器位置与所述第二检测器的位置错开小于所述辐射检测器的像素大小。

19.如权利要求11所述的系统，其中，所述存储器电路系统进一步包括机器可读指令，所述机器可读指令在由所述处理器执行时：将所述物体的图像显示在所述用户界面的显示屏上。

20.如权利要求11所述的系统，其中，所述最大起始角度变化是基于所述工业放射摄影成像系统的几何放大倍数或所述工业放射摄影成像系统的特定应用所需的画质识别的，所述几何放大倍数包括从所述辐射发射器到所述辐射检测器的第一距离除以从所述辐射发射器到所述物体的第二距离。

技术总结
本文描述了工业放射摄影系统的示例，该工业放射摄影系统控制或推荐高分辨率、连续旋转的放射摄影成像过程的某些参数值。通过控制或推荐特定参数值，可能可以缓解在高分辨率、连续旋转的放射摄影成像过程期间出现的某些同步问题。在同步问题得到缓解的情况下，用户能够高速执行高分辨率、连续旋转的放射摄影成像过程，而不会出现有时由于同步问题而导致的细节丢失和/或模糊。

技术研发人员：卡马伦·米切尔·莱梅尔,布雷特·亚伦·缪劳泽尔,肖恩·彼得·库格林
受保护的技术使用者：伊利诺斯工具制品有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/6/18