集成电路检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品与流程

本申请涉及集成电路，特别是涉及一种集成电路检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品。

背景技术：

1、集成电路是信息设备的核心，其中处理并存储了大量重要信息，因此，集成电路的安全性至关重要。

2、然而，集成电路在运行过程中不可避免地会产生电磁辐射等旁路信号，而旁路信号中可能存在集成电路的某些信息，导致集成电路发生信息泄露。

3、因此，如何检测集成电路的信息泄露情况成为目前亟待解决的技术问题。

技术实现思路

1、本申请提供一种集成电路检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品，能够全面地检测集成电路的信息泄露情况。

2、第一方面，本申请提供了一种集成电路检测方法。该方法包括：

3、获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

4、确定各电磁信号的信号类型；

5、根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

6、在其中一个实施例中，根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应的检测结果，包括：在信号类型为调制信号的情况下，将电磁信号与多个预设电路信号进行比较；若不存在与电磁信号匹配的预设电路信号，则确定检测结果为集成电路泄露有用信息。

7、在其中一个实施例中，集成电路检测方法还包括：若存在与电磁信号匹配的预设电路信号，则确定检测结果为集成电路未泄露有用信息。

8、在其中一个实施例中，集成电路检测方法还包括：在信号类型为非调制信号的情况下，确定检测结果为集成电路未泄露有用信息。

9、在其中一个实施例中，确定各电磁信号的信号类型，包括：将各电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征进行比较；若电磁信号的信号特征与预设调制信号的信号特征相匹配，则确定电磁信号的信号类型为调制信号。

10、在其中一个实施例中，集成电路检测方法还包括：采用近场扫描方式获取集成电路的强发射部位。

11、第二方面，本申请还提供了一种集成电路检测装置。该装置包括：

12、获取模块，用于获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

13、确定模块，用于确定各电磁信号的信号类型；

14、检测模块，用于根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

15、第三方面，本申请还提供了一种计算机设备。该计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现以下步骤：

16、获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

17、确定各电磁信号的信号类型；

18、根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

19、第四方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质。该计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

20、获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

21、确定各电磁信号的信号类型；

22、根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

23、第五方面，本申请还提供了一种计算机程序产品。该计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：

24、获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；

25、确定各电磁信号的信号类型；

26、根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。

27、本申请实施例提供一种集成电路检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品，可以通过信号采集设备获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号，然后确定各电磁信号的信号类型，并根据信号类型对各电磁信号进行进一步检测，得到各电磁信号对应检测结果。本申请实施例提供的方法可以对集成电路的泄露情况进行分析，在集成电路存在电磁泄露的情况下，不仅可以确定泄露的位置和频点，还可以剔除噪声、已知信号等的干扰，确定电磁信号是否泄露有用信息，提高了检测结果的全面性和准确度。

技术特征：

1.一种集成电路检测方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述信号类型对各所述电磁信号进行检测，得到各所述电磁信号对应的检测结果，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定各所述电磁信号的信号类型，包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

7.一种集成电路检测装置，其特征在于，所述装置包括：

8.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

10.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至6中任一项所述的方法的步骤。

技术总结
本申请涉及一种集成电路检测方法、装置、设备、存储介质和程序产品。所述方法包括：获取集成电路至少一个强发射部位的电磁信号；确定各电磁信号的信号类型；根据信号类型对各电磁信号进行检测，得到各电磁信号对应检测结果；检测结果用于指示集成电路是否泄露有用信息。采用本方法能够全面地检测集成电路的信息泄露情况。

技术研发人员：侯波,王力纬,邵伟恒,陈义强,曲晨冰
受保护的技术使用者：中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室））
技术研发日：
技术公布日：2024/1/11