电容校准系统、方法、设备及存储介质与流程

本申请实施例涉及但不限于设备测试，尤其涉及一种电容校准系统、方法、设备及存储介质。

背景技术：

1、目前在测试机行业中，往往需要对电容器(如多层陶瓷电容器(mlcc))测量容值及损耗这两个重要参数，此时通常借助于电容测量装置进行容值和损耗的测量。但是，在电容测量装置使用前，往往需要完成开路、短路两项校准，但是相关技术中电容测量装置无法实现内部编程，因此需要人为进行校准。以电容测量装置为电容计e4981a为例，在进行测量之前，在无被测物时，需要先进行开路以及短路的测量，且由于电容计上待测量的通道较多，需要逐一测试，从而导致校准时间较长，因此，需要一种方式能提升电容测量装置的电容的校准效率。

技术实现思路

1、以下是对本文详细描述的主题的概述。本概述并非是为了限制权利要求的保护范围。

2、本申请实施例提供了一种电容校准系统、方法、设备及存储介质，能提升电容测量装置的电容的校准效率。

3、第一方面，根据本申请一些实施例提供的一种电容校准系统，所述校准系统包括：

4、电容测量装置；

5、切换装置，所述切换装置与所述电容测量装置的测试接口电连接；

6、电极驱动组件，所述电极驱动组件包括驱动件、第一电极组件以及第二电极组件，所述驱动件的驱动端与所述第一电极组件连接，所述第一电极组件以及所述第二电极组件均与所述切换装置电连接；

7、控制模块，所述控制模块与所述切换装置、所述电容测量装置以及所述驱动件均通信连接，所述控制模块用于控制所述驱动件使得所述第一电极组件和所述第二电极组件处于开路状态并通过所述电容测量装置和所述切换装置进行开路校准得到的第一校准参数，所述控制模块还用于控制所述驱动件使得所述第一电极组件和所述第二电极组件处于短路状态并通过所述电容测量装置和所述切换装置进行短路校准得到的第二校准参数，所述第一校准参数和所述第二校准参数用于对所述电容测量装置进行电容校准。

8、第二方面，根据本申请一些实施例提供的一种电容校准方法，所述校准方法应用于电容校准系统，所述电容校准系统包括：电容测量装置、切换装置以及电极驱动组件，所述切换装置与所述电容测量装置的测试接口电连接；所述电极驱动组件包括驱动件、第一电极组件以及第二电极组件，所述驱动件的驱动端与所述第一电极组件连接，所述第一电极组件以及所述第二电极组件均与所述切换装置电连接，所述方法包括：

9、控制所述驱动件使得所述第一电极组件和所述第二电极组件处于开路状态并通过所述电容测量装置和所述切换装置进行开路校准得到的第一校准参数；

10、控制所述驱动件使得所述第一电极组件和所述第二电极组件处于短路状态并通过所述电容测量装置和所述切换装置进行短路校准得到的第二校准参数；所述第一校准参数和所述第二校准参数用于对所述电容测量装置进行电容校准。

11、第三方面，根据本申请一些实施例提供的电子设备，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如第二方面任意一项所述的电容校准方法。

12、第四方面，根据本申请一些实施例提供的一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于实现如第二方面任意一项所述的电容校准方法。

13、本申请实施例包括：通过设置驱动件使得第一电极组件和第二电极组件分别处于开路状态和短路状态，从而使得电容测量装置进行开路校准和短路校准的物理环境可以实现自动就绪，且通过切换装置可以实现电容测量装置对不同待测通道的电极切换，此时，通过控制模块分别对驱动件、切换装置以及电容测量装置下发控制指令，实现电容测量装置分别在开路状态和短路状态下对不同待测通道的开路校准以及短路校准，从而得到电容测量装置在实际测量过程中用于电容校准所需的第一校准参数和第二校准参数。和相关技术相比，本申请实施例在电容测量装置不支持内部编程的情况下，通过控制模块、电机驱动组件以及切换装置共同实现不同待测通道的开路和短路的自动校准，因此，本申请实施例能能提升电容测量装置的电容的校准效率。

技术特征：

1.一种电容校准系统，其特征在于，所述电容校准系统包括：

2.根据权利要求1所述的电容校准系统，其特征在于，所述控制模块还用于：

3.根据权利要求1所述的电容校准系统，其特征在于，所述电容校准系统还包括显示模块，所述控制模块还用于：

4.根据权利要求3所述的电容校准系统，其特征在于，所述第一校准参数与所述电容测量装置的待测通道一一对应，所述待测通道设置有多个，所述控制模块还用于：

5.根据权利要求1所述的电容校准系统，其特征在于，所述电容校准系统还包括显示模块，所述控制模块还用于：

6.根据权利要求5所述的电容校准系统，其特征在于，所述第二校准参数与所述电容测量装置的待测通道一一对应，所述待测通道设置有多个，所述控制模块还用于：

7.根据权利要求1所述的电容校准系统，其特征在于，所述控制模块还用于：

8.一种电容校准方法，其特征在于，所述校准方法应用于电容校准系统，所述电容校准系统包括：电容测量装置、切换装置以及电极驱动组件，所述切换装置与所述电容测量装置的测试接口电连接；所述电极驱动组件包括驱动件、第一电极组件以及第二电极组件，所述驱动件的驱动端与所述第一电极组件连接，所述第一电极组件以及所述第二电极组件均与所述切换装置电连接，所述方法包括：

9.根据权利要求8所述的电容校准方法，其特征在于，所述控制所述驱动件使得所述第一电极组件和所述第二电极组件处于开路状态，包括：

10.根据权利要求8所述的电容校准方法，其特征在于，所述第一校准参数和所述第二校准参数均通过如下步骤获取：

11.根据权利要求8所述的电容校准方法，其特征在于，所述电容校准系统还包括显示模块，所述电容校准方法还包括：

12.根据权利要求11所述的电容校准方法，其特征在于，所述第一校准参数与所述电容测量装置的待测通道一一对应，所述待测通道设置有多个，所述电容校准方法还包括：

13.根据权利要求8所述的电容校准方法，其特征在于，所述电容校准系统还包括显示模块，所述电容校准方法还包括：

14.根据权利要求13所述的电容校准方法，其特征在于，所述第二校准参数与所述电容测量装置的待测通道一一对应，所述待测通道设置有多个，所述电容校准方法还包括：

15.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求8至14中任意一项所述的电容校准方法。

16.一种计算机可读存储介质，其特征在于，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于实现至少如权利要求8至14中任意一项所述的电容校准方法。

技术总结
本申请提供了一种电容校准系统、方法、设备及存储介质，涉及但不限于设备测试技术领域，通过将切换装置与电容测量装置的测试接口电连接、电极驱动组件的第一电极组件以及第二电极组件与切换装置电连接；通过控制模块控制电极驱动组件的驱动件使得第一电极组件和第二电极组件处于开路状态以及通过控制模块控制驱动件使得第一电极组件和第二电极组件处于短路状态，并分别在开路状态和短路状态时通过电容测量装置和切换装置进行校准以分别得到用于电容校准的第一校准参数和第二校准参数。因此通过控制模块、电机驱动组件以及切换装置实现不同待测通道的开路和短路的自动校准，提升电容的校准效率。

技术研发人员：张岩晨,吴海城,刘锋,龚博,周浩贤
受保护的技术使用者：珠海市奥德维科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13