本发明公开了一种立体补光暗室及自动检测装置,属于表面检测。
背景技术:
1、电子元器件生产过程中,为保证质量,需要对其进行表面检测,否则缺陷产品流入下一道工序,不仅对整体产品的质量产生影响,也会造成生产成本的巨大浪费。
2、现有技术中,电子元器件表面缺陷的检测方法通常是获取电子元器件表面清晰图像,然后利用视觉缺陷检测算法自动识别出缺陷。在获取电子元器件表面清晰图像时,需要使用暗室并对暗室进行补光,然后使用摄像机进行拍摄。
3、现有暗室内的补光方法包括使用闪光灯补光或者常亮灯补光。电子闪光灯,又称为高速闪光灯,能够通过电容器储存高电压,通过脉冲触发使闪光灯放电来完成瞬间的闪光,其能够进行瞬间的闪光,光线很强,色差很小,色温5500k与太阳光相近,可以模拟阳光。但是其没有办法连续的进行闪光,受到回电时间的影响,无法做到所见即所得,只能在拍照的时候使用,没有办法在录视频的时候使用,同时需要引闪器进行引闪,操作起来比较麻烦。常亮灯又称持续光、恒光灯,拍摄的时候不受回电速度的影响。其光线柔和,可控性强,补光相对来说比较容易,所见即所得,能够持续发光,拍照片和拍视频的时候都可以使用。但是同功率表下比不上闪光灯的光线强,色温需要进行调整。常亮灯包括led点光源、平板led灯、钨丝灯、镝灯和rgb灯等。
4、上述两种补光方法均存在光源位置、光源强度、光源颜色和色温难以实时调整的问题,导致补光效果欠佳,影响元器件表面检测的精度。
技术实现思路
1、本申请的目的在于,提供一种立体补光暗室及自动检测装置,以解决现有技术中暗室补光方法存在光源位置、光源强度、光源颜色和色温难以实时调整,导致补光效果欠佳,影响元器件表面检测的精度的技术问题。
2、本发明的第一方面提供了一种立体补光暗室,包括框架、控制器和多块补光屏;
3、所述框架上设置有所述多块补光屏,组成一个一端开口的暗室;
4、所述多块补光屏的屏幕朝向所述暗室内部,用于为所述暗室补光;
5、所述控制器与所述多块补光屏连接,用于控制每块所述补光屏的补光参数。
6、优选地,所述补光屏为液晶屏或者投影屏。
7、优选地,所述补光参数包括颜色、位置、形状、亮度和色温中的一种或多种。
8、优选地,所述补光屏的数量为4-8块。
9、优选地,还包括hdmi显卡接口;
10、所述控制器通过所述hdmi显卡接口与所述多块补光屏连接。
11、本发明的第二方面提供了一种自动检测装置,包括传送单元、摄像单元和上述立体补光暗室;
12、所述立体补光暗室设置于所述传送单元的上端,且所述立体补光暗室的开口朝向所述传送单元;
13、所述摄像单元设置于所述立体补光暗室内,用于采集所述传送单元上放置的待测元器件的表面图像。
14、本发明的立体补光暗室及自动检测装置,相较于现有技术,具有如下
15、有益效果:
16、本发明的立体补光暗室,可实现立体补光,且由于所使用的补光屏为液晶屏或者投影屏,因此光源位置可以做到实时可调,从而达到最佳的补光效果,不会受到障碍物的影响,补光效果佳,调节速度快。
17、在实际运用中,摄像中对补光要求是各种各样的。强度、颜色、色温等因素对于摄像成像均有很大的影响。现有的补光技术光源单一,无法做到光源种类的自由切换,导致补光效果欠佳,而本发明的补光暗室可实现光源强度,光源颜色和色温的实时调控,提高补光效果,进而提升表面检测的准确性。
18、在实际应用中,不同的场景需要不同的补光光源支撑,切换光源在实际操作中很费时费力,而本发明采用液晶屏或者投影屏作为补光屏,其可以实现光源的实时切换,操作简单,且能达到优异的补光效果。
19、在元器件的识别领域,摄像的对象为立体元件,单一或者多个光源进行补光时,容易出现元件器的阴影影响成像效果的问题,导致表面检测准确度降低。而本发明的补光暗室可以实现无影灯效果,从而可以提升成像质量,仅为保证表面检测的准确性。
20、本发明实施例中的自动检测装置,由于使用了立体补光暗室,可以达到优异的补光效果,从而使得摄像单元采集的元器件的表面图像更为清晰、准确,进而保证了元器件表面检测的精度,且装置简单,成本低、易于操作,检测效率高。
1.一种立体补光暗室,其特征在于,包括框架、控制器和多块补光屏;
2.根据权利要求1所述的立体补光暗室,其特征在于,所述补光屏为液晶屏或者投影屏。
3.根据权利要求2所述的立体补光暗室,其特征在于,所述补光参数包括颜色、位置、形状、亮度和色温中的一种或多种。
4.根据权利要求1所述的立体补光暗室,其特征在于,所述补光屏的数量为4-8块。
5.根据权利要求1所述的立体补光暗室,其特征在于,还包括hdmi显卡接口;
6.一种自动检测装置,其特征在于,包括传送单元、摄像单元和权利要求1-5任一项所述的立体补光暗室;