尺寸测量装置的制作方法

文档序号:33814858发布日期:2023-04-19 15:11阅读:62来源:国知局
尺寸测量装置的制作方法

本发明涉及机械测量,具体涉及一种尺寸测量装置。


背景技术:

1、机械测量技术是对机械零件的几何量进行测量和检验的一门技术。随着现代制造业的发展,机械测量技术在机械产品的设计、研发、生产监督、质量控制和性能试验中有着举足轻重的地位。为了提高机械零件的性能,其结构和零件的设计尺寸必须得到保证,而无论采用怎样的设计和制造过程,都需要通过测量来检验零件的尺寸。

2、尺寸是指用特定单位表示线性长度的数值,包括直径、半径、宽度、深度、高度和中心距等。对于具有台阶面的机械零件(例如台阶孔)的深度、高度和中心距进行测量时,现有技术通常在台阶面的上下端面分别设置量具并通过二者测量结果的差值得到待测尺寸。由于需要设置两组量具,现有技术的测量精度较低且成本较高。


技术实现思路

1、为了解决现有技术的上述问题,本发明公开了一种尺寸测量装置,该尺寸测量装置包括:基准组件,该基准组件上形成有基准端面以贴靠工件的基准表面;和,接触组件,该接触组件活动连接于所述基准组件并设置为能够接触工件的待测面;和,量具,所述量具设置为能够反馈所述接触组件与所述基准组件的间距。

2、本发明的有益效果在于,通过基准组件的基准端面与工件的基准表面进行贴靠形成了测量基准,并通过测量所述接触组件与所述基准组件的间距间接地获得待测尺寸,从而实现了对基准表面量具的省用,且通过接触组件与基准组件的活动连接保证了接触组件和工件的待测面进行贴合,从而提高了尺寸测量精度。



技术特征:

1.一种尺寸测量装置,其特征在于,该尺寸测量装置包括:

2.根据权利要求1所述的尺寸测量装置,其特征在于,所述基准端面(110)延伸设置至少三个支撑足(120)以形成容置空间(130),所述接触组件(200)安装于所述容置空间(130)。

3.根据权利要求1所述的尺寸测量装置,其特征在于,该尺寸测量装置包括驱动组件(500)以使所述基准组件(100)跟随所述驱动组件(500)运动。

4.根据权利要求3所述的尺寸测量装置,其特征在于,所述驱动组件(500)包括能够作轴向运动的心轴(510),所述基准组件(100)包括连接所述心轴(510)的传动端(140),以使所述基准组件(100)跟随所述心轴(510)运动。

5.根据权利要求4所述的尺寸测量装置,其特征在于,所述传动端(140)与所述心轴(510)的连接处设置有对正机构(600)以使得所述基准组件(100)上的参考点与所述心轴(510)的相对位置在所述基准组件(100)贴靠工件的基准表面时保持不变;和/或,所述传动端(140)通过第一挠性连接结构连接所述心轴(510)以使得所述基准组件(100)能够相对于所述心轴(510)作线性运动和/或摆动。

6.根据权利要求1所述的尺寸测量装置,其特征在于,所述接触组件(200)设置为能够相对于所述基准组件(100)作线性运动和/或摆动。

7.根据权利要求6所述的尺寸测量装置,其特征在于,所述接触组件(200)通过第二挠性连接结构(310)连接所述基准组件(100),该第二挠性连接结构(310)设置为轴孔间隙配合结构,该轴孔间隙配合结构包括所述接触组件(200)上开设的通孔(311)与一端固定连接于所述基准组件(100)的轴体(312),所述轴体(312)的自由端形成能够相对于所述通孔(311)在轴向方向滑动并在预定范围内摆动的限位部(313)。

8.根据权利要求1所述的尺寸测量装置,其特征在于,所述接触组件(200)设置为平行于所述基准端面(110)的板状结构,所述板状结构包括与所述量具(400)配合的测量端面(210)和用于接触所述工件待测面的接触端面(220)。

9.根据权利要求8所述的尺寸测量装置,其特征在于,所述量具(400)连接于所述基准端面(110)并设置为能够与所述测量端面(210)交互,以反馈所述基准端面(110)与所述测量端面(210)的间距;和/或,所述量具(400)设置为多个并散布于所述基准端面(110)。

10.根据权利要求1-9中的任一项所述的尺寸测量装置,其特征在于,所述基准端面(110)设置有至少一个在位检测单元以检测所述基准端面(110)与待测工件基准表面的贴合状态;和/或,所述尺寸测量装置包括压紧组件(700),用于将所述基准组件(100)压紧于工件的基准表面。


技术总结
本发明公开了一种尺寸测量装置,该尺寸测量装置包括:基准组件,该基准组件上形成有基准端面以贴靠工件的基准表面;和,接触组件,该接触组件活动连接于所述基准组件并设置为能够接触工件的待测面;和,量具,所述量具设置为能够反馈所述接触组件与所述基准组件的间距。本发明的有益效果在于,通过基准组件的基准端面与工件的基准表面进行贴靠形成了测量基准,并通过测量所述接触组件与所述基准组件的间距间接地获得待测尺寸,从而实现了对基准表面量具的省用,且通过接触组件与基准组件的活动连接保证了接触组件和工件的待测面进行贴合,从而提高了尺寸测量精度。

技术研发人员:刘树林,蔡明元,熊传辉
受保护的技术使用者:南京泰普森自动化设备有限公司
技术研发日:
技术公布日:2024/1/13
网友询问留言 已有0条留言
  • 还没有人留言评论。精彩留言会获得点赞!
1