本发明涉及样本检测领域,尤其是涉及一种样本数据采集设备及光耦校准方法、装置、设备和介质。
背景技术:
1、目前常见的高精度c反应蛋白(crp)和血清淀粉样蛋白(saa)检测方法为全血crp/saa检测法。该检测方法基于乳胶散射法,将样本溶血后,样本里的抗原遇到吸附有抗体的胶乳颗粒时,抗原抗体结合而出现胶乳凝集。目前crp/saa的信号采集方法是,将样品放到反应杯中(反应盘内有几十个反应杯),当放有样本的反应杯经过光学检测位时,光照射在凝集的乳胶上发生散射,散射光由传感器接收,并转换为电压值,所得电压值大小反应了crp/saa的浓度。
2、但是由于光照射到反应杯上所得到的是一系列的电压值,而该仪器采集一次只需要一个结果。由于检测装置中反应杯的材料不均匀等原因,导致反应杯的信号采集结果并非为平坦的直线,但是靠近反应杯曲线中间的部分最为平坦,结果最为准确,因此我们一般选取反应杯曲线的中点作为该次数据采集结果。
3、目前反应杯中点采集的方法有两种,一种方法为:找到反应杯曲线的起点,从起点开始,将数据全部写入历史记录单元(ram),直到记录到终点,此时可通过历史记录单元直接输出反应杯中间点的结果作为该反应杯本次的电压测量结果。另一种方法为:将光耦触发变化沿与数据采集结合起来,将光耦沿的变化调整到与反应杯的中点相对应。在光耦沿变化时,将当时的电压采集结果作为该反应杯本次的电压测量结果。在实际应用中,第二种方法用的较多,因为第一种方法由于受到起点检测和终点检测的影响,记录的中点与实际的反应杯中点偏差较大。但是第二种方法缺陷也较为明显,因为对光耦设置位置的要求较为严格,通常可以通过固定参考物的方法进行安装。但在实际应用中发现,每台仪器的设置位置还是会存在偏差,导致检测的结果在不同仪器间的差别较大。
技术实现思路
1、基于此,有必要提供的样本数据采集设备及光耦校准方法、装置、设备和介质,以解决难以准确调整光耦设置位置的问题。
2、一种样本数据采集设备,包括:
3、设置有多个杯位的反应盘,所述杯位用于放置反应杯,所述反应盘的外侧固定设置有激光器,所述反应盘的底部固定设置有调节组件和位于所述调节组件上的光耦;
4、其中,在所述反应盘进行旋转的过程中,所述反应盘依次带动多个反应杯中的样本经过所述激光器和所述光耦,所述激光器用于发射激光以使得反应杯中的样本进行光学反应,所述光耦的光耦状态在反应杯经过时发生变化,以使得根据所述光耦状态的变化采集得到反应杯每次样本数据的中点值,所述调节组件用于响应调节指令调节所述光耦的设置位置。
5、在其中一个实施例中,所述调节组件为旋转齿轮,所述光耦固定设置于所述旋转齿轮的外边沿,所述旋转齿轮用于响应所述调节指令旋转。
6、一种光耦校准装置,所述光耦校准装置包括:反应盘运动控制单元、光耦偏差位置计算单元及偏差结果校准单元,应用于上述样本数据采集设备中;
7、所述反应盘运动控制单元,用于控制所述反应盘匀速运动;
8、所述光耦偏差位置计算单元,用于计算光耦左右偏差;其中,所述光耦左右偏差为光耦第一触发时长与光耦第二触发时长之间的差值,所述光耦第一触发时长为所述样本数据满足起始计算条件的时刻到所述光耦满足计算条件的时刻之间的时长,所述光耦第二触发时长为所述光耦满足计算条件的时刻到所述样本数据满足终止计算条件的时刻之间的时长;
9、所述偏差结果校准单元,用于根据所述光耦左右偏差向所述调节组件发送调节指令,以控制所述调节组件调节所述光耦的设置位置,直至所述光耦左右偏差等于0。
10、在其中一个实施例中,所述光耦偏差位置计算单元,还用于:
11、将所述样本数据首次大于预设的电压阈值的时刻,作为所述样本数据满足起始计算条件的时刻;
12、将所述样本数据首次小于预设的电压阈值的时刻,作为所述样本数据满足终止计算条件的时刻。
13、在其中一个实施例中,所述光耦偏差位置计算单元,还用于:
14、将所述光耦的光耦状态发生变化的时刻,作为所述光耦满足计算条件的时刻。
15、一种光耦校准方法,应用于上述样本数据采集设备中,所述方法包括:
16、控制所述反应盘匀速运动;
17、计算光耦左右偏差;其中,所述光耦左右偏差为光耦第一触发时长与光耦第二触发时长之间的差值,所述光耦第一触发时长为所述样本数据满足起始计算条件的时刻到所述光耦满足计算条件的时刻之间的时长,所述光耦第二触发时长为所述光耦满足计算条件的时刻到所述样本数据满足终止计算条件的时刻之间的时长;
18、根据所述光耦左右偏差向所述调节组件发送调节指令,以控制所述调节组件调节所述光耦的设置位置,直至所述光耦左右偏差等于0。
19、在其中一个实施例中,所述方法,还包括:
20、将所述样本数据首次大于预设的电压阈值的时刻,作为所述样本数据满足起始计算条件的时刻;
21、将所述样本数据首次小于预设的电压阈值的时刻,作为所述样本数据满足终止计算条件的时刻。
22、在其中一个实施例中,所述方法,还包括:
23、将所述光耦的光耦状态发生变化的时刻,作为所述光耦满足计算条件的时刻。
24、一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行上述光耦校准方法的步骤。
25、一种光耦校准设备,包括存储器和处理器,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行上述光耦校准方法的步骤。
26、本发明提供了样本数据采集设备及光耦校准方法、装置、设备和介质,在反应盘匀速运动的前提下,计算光耦左右偏差,并根据该光耦左右偏差向调节组件发送调节指令,以控制调节组件调节光耦的设置位置,直至光耦左右偏差等于0,该方法有直观的判断标志,能基于光耦左右偏差的大小直观反映光耦满足计算条件的时刻是否在样本数据的中点,从而便于光耦设置位置的调节,应用于多台检测仪器时,保证检测的结果在不同仪器间的差别一致。
1.一种样本数据采集设备,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的样本数据采集设备,其特征在于,所述调节组件为旋转齿轮,所述光耦固定设置于所述旋转齿轮的外边沿,所述旋转齿轮用于响应所述调节指令旋转。
3.一种光耦校准装置,其特征在于,所述光耦校准装置包括:反应盘运动控制单元、光耦偏差位置计算单元及偏差结果校准单元,应用于如权利要求1-2所述的样本数据采集设备中;
4.根据权利要求3所述的光耦校准装置,其特征在于,所述光耦偏差位置计算单元,还用于:
5.根据权利要求3所述的光耦校准装置,其特征在于,所述光耦偏差位置计算单元,还用于:
6.一种光耦校准方法,其特征在于,应用于如权利要求1-2所述的样本数据采集设备中,所述方法包括:
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法,还包括:
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法,还包括:
9.一种计算机可读存储介质,存储有计算机程序,其特征在于,所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求6所述方法的步骤。
10.一种光耦校准设备,包括存储器和处理器,其特征在于,所述存储器存储有计算机程序,所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述处理器执行如权利要求6所述方法的步骤。