一种平行间距快速检测方法及装置

文档序号:34394030发布日期:2023-06-08 11:32阅读:60来源:国知局
一种平行间距快速检测方法及装置

本发明属于非接触检测的,具体而言,涉及一种平行间距快速检测方法及装置。


背景技术:

1、申请号为201710615803.1的发明专利,公开了一种测量孔、槽的位置与几何尺寸的机器视觉系统,采用线激光和线扫描相机检测平板对象上水平方向上的孔、槽位置与尺寸的视觉系统,该系统只能检测平面上孔、槽几何尺寸,无法或难以检测微小的起伏。

2、采用传统激光三角测量法,为了能得到被测物的深度信息,必须采用面阵相机,而且要提取光条的中心线,由于被测物表面材质、表面性状和反射不均等情况较复杂,精度和速度都不高。


技术实现思路

1、鉴于此,为了解决现有技术存在的上述问题,本发明的目的在于提供一种平行间距快速检测方法及装置,可高效的重构被测物表面形态三维特征,高速,高精度检测物表面的微小起伏。

2、本发明所采用的技术方案为:

3、第一方面,本发明提供了一种平行间距快速检测方法,包括以下步骤:

4、将被测物放置于基准面上,将至少一条激光照射在被测物上,并与被测物的表面具有夹角;

5、水平移动被测物,获取被测物移动前后激光的偏移量和激光的明暗变化量;

6、根据激光的偏移、夹角和激光的明暗关系,得到被测物表面的高度起伏。

7、在进一步的技术方案中,水平移动被测物,获取被测物移动前后激光的偏移量和激光的明暗变化量,包括:

8、设置线扫描摄像机,线扫描摄像机逐帧记录激光的偏移量和激光的明暗变化量。

9、在进一步的技术方案中,激光的数量为两个,设为激光a和激光b;

10、激光a和激光b平行;

11、根据激光a和激光b照射在被测物表面的强度变化,判断被测物的表面为平整、凸起或凹陷。

12、在进一步的技术方案中,设激光a和激光b的平行距离为s;平行距离s为激光a宽度的一半或激光b宽度的一半。

13、在进一步的技术方案中,激光a和激光b的波长不同,线扫描摄像机采用rgb三通道彩色相机。

14、在进一步的技术方案中,将激光照射在纯白背景样品进行测试,记录一次明暗变化与位置的关系,并记为标定函数。

15、第二方面,本发明还提供了一种使用第一方面中方法的平行间距快速检测装置,包括:

16、测量平台,测量平台用于放置被测物,并使得被测物移动;

17、线扫描摄像机,线扫描摄像机设于测量平台的上方;线扫描摄像机的镜头垂直于测量平台;

18、激光发射器,激光发射器至少为一个,设于测量平台的上方;激光发射器用于发出激光,并与放置在测量平台上的被测物形成夹角。

19、在进一步的技术方案中,激光发射器为两个;两个激光发射器平行设置,且两个激光发射器发出的激光波长不同。

20、在进一步的技术方案中,线扫描摄像机采用rgb三通道彩色相机。

21、本发明的有益效果为:

22、本发明采用线扫描相机获取光条的明暗图像来被测物的深度信息,无需提取光条中心线,高效的重构被测物表面形态三维特征;高速,高精度检测物表面的微小起伏。



技术特征:

1.一种平行间距快速检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种平行间距快速检测方法,其特征在于,所述水平移动被测物,获取被测物移动前后所述激光的偏移量和激光的明暗变化量,包括:

3.根据权利要求2所述的一种平行间距快速检测方法,其特征在于,所述激光的数量为两个,设为激光a和激光b;

4.根据权利要求3所述的一种平行间距快速检测方法,其特征在于,设所述激光a和激光b的平行距离为s;所述平行距离s为激光a宽度的一半或激光b宽度的一半。

5.根据权利要求3所述的一种平行间距快速检测方法,其特征在于,所述激光a和激光b的波长不同,所述线扫描摄像机采用rgb三通道彩色相机。

6.根据权利要求1所述的一种平行间距快速检测方法,其特征在于,还包括步骤:

7.一种使用权利要求1-6任一项方法所述的平行间距快速检测装置,其特征在于,包括:

8.根据权利要求7所述的一种平行间距快速检测装置,其特征在于,所述激光发射器为两个;两个所述激光发射器平行设置,且两个所述激光发射器发出的激光波长不同。

9.根据权利要求8所述的一种平行间距快速检测装置,其特征在于,所述线扫描摄像机采用rgb三通道彩色相机。


技术总结
本发明公开了一种平行间距快速检测方法,属于非接触检测的技术领域,包括将被测物放置于基准面上,将至少一条激光照射在被测物上,并与被测物的表面具有夹角;水平移动被测物,获取被测物移动前后激光的偏移量和激光的明暗变化量;根据激光的偏移、夹角和激光的明暗关系,得到被测物表面的高度起伏。还公开了使用该方法的装置,包括测量平台、线扫描摄像机和激光发射器。本发明采用线扫描相机获取光条的明暗图像来被测物的深度信息,无需提取光条中心线,高效的重构被测物表面形态三维特征;高速,高精度检测物表面的微小起伏。

技术研发人员:刘锋,蒋世奇,张雪原,李云冀
受保护的技术使用者:成都信息工程大学
技术研发日:
技术公布日:2024/1/13
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