用于检测缺陷位置的方法及装置、电子设备、存储介质与流程

本申请涉及无损检测，例如涉及一种用于检测缺陷位置的方法及装置、电子设备、存储介质。

背景技术：

1、目前，在家电产业至于冰箱产业，对结构件例如注塑件、钣金件、发泡料等和整机结构的潜在缺陷的判断和定位没有很好的方式。而冰箱在出厂前还会进行出厂检测，此时冰箱内部的结构是已经装配好的结构。

2、在实现本公开实施例的过程中，发现相关技术中至少存在如下问题：

3、相关技术中在检测冰箱的结构缺陷时，通常需要对已经装配好的结构进行拆机甚至剖开结构件等破坏性方式，并依赖经验丰富的研发工程师和产线工人通过人工观察来判断缺陷是否存在和缺陷位置。而且人工观察的方式精度低误差大，难以准确判断缺陷是否存在和缺陷位置。难以实现无损检测的同时，提高缺陷位置的检测准确性。

4、以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本申请。

技术实现思路

1、为了对披露的实施例的一些方面有基本的理解，下面给出了简单的概括。所述概括不是泛泛评述，也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围，而是作为后面的详细说明的序言。

2、本公开实施例提供了一种用于检测缺陷位置的方法及装置、电子设备、存储介质，以能够实现无损检测的同时，提高缺陷位置的检测准确性。

3、在一些实施例中，所述用于检测缺陷位置的方法，待检测部位处设置有声发射源和多个声发射传感器；所述声发射传感器用于发射声信号，所述声发射传感器用于接收声发射源发射的声信号，所述方法包括：获取声信号，获取所述声信号的到达时间和波速信息，根据所述到达时间和所述波速信息确定所述待检测部位的缺陷位置。

4、在一些实施例中，所述获取声信号，包括：接收待处理声信号，对所述待处理声信号进行滤波处理获得声信号。

5、在一些实施例中，所述声发射传感器包括第一传感器和第二传感器，所述第一传感器设置在所述待检测部位的一端，所述第二传感器设置在所述待检测部位的另一端；获取所述声信号的到达时间，包括：将所述第一传感器接收到声信号的第一到达时间和所述第二传感器接收到声信号的第二到达时间确定为所述声信号的到达时间。

6、在一些实施例中，所述声信号由横波和纵波组成，所述波速信息包括横波波速和纵波波速，获取所述声信号的波速信息，包括：获取所述待检测部位的材料信息和所述声信号的类型信息。从预设的波速信息数据库中匹配出与所述材料信息和所述类型信息共同对应的波速信息；所述波速信息数据库中存储有材料信息、类型信息和波速信息三者之间的对应关系。

7、在一些实施例中，所述声信号由横波和纵波组成，所述波速信息包括横波波速和纵波波速，获取所述声信号的波速信息，包括：获取所述第一传感器与所述第二传感器之间的安装距离，获取所述第二到达时间和所述第一到达时间之间的时间差，根据所述安装距离和所述时间差获取波速信息。

8、在一些实施例中，根据所述到达时间和所述波速信息确定所述待检测部位的缺陷位置，包括：获取所述声信号在所述待检测部位传播的波形图。根据所述波形图确定所述待检测部位是否存在缺陷。在所述待检测部位存在缺陷的情况下，根据所述到达时间和所述波速信息确定所述待检测部位的缺陷位置。

9、在一些实施例中，所述波速信息包括横波波速和纵波波速，根据所述到达时间和所述波速信息确定所述待检测部位的缺陷位置，包括：获取所述第二到达时间和所述第一到达时间之间的时间差。根据所述时间差、所述横波波速和所述纵波波速获取所述第二传感器与缺陷边缘尾部之间的距离。将所述第二传感器与缺陷边缘尾部之间的距离确定为所述待检测部位的缺陷位置。

10、在一些实施例中，所述用于检测缺陷位置的装置包括：处理器和存储有程序指令的存储器，所述处理器被配置为在执行所述程序指令时，执行上述用于检测缺陷位置的方法。

11、在一些实施例中，所述电子设备包括：电子设备本体；如上述的用于检测缺陷位置的装置，被安装于所述电子设备本体。

12、在一些实施例中，所述存储介质存储有程序指令，所述程序指令在运行时，执行上述的用于检测缺陷位置的方法。

13、本公开实施例提供的用于检测缺陷位置的方法及装置、电子设备、存储介质，可以实现以下技术效果：通过获取声信号，获取声信号的到达时间和波速信息。根据到达时间和波速信息确定待检测部位的缺陷位置。这样，通过在待检测部位处设置声发射源和多个声发射传感器，由于声信号在结构缺陷时波速会发生显著变化。通过发射声信号在待检测部位中传播，根据声信号的到达时间和波速信息确定缺陷位置的方式相较于人工观察的方式更准确，也不需要进行结构拆解。实现无损检测的同时，提高了缺陷位置的检测准确性。

14、以上的总体描述和下文中的描述仅是示例性和解释性的，不用于限制本申请。

技术特征：

1.一种用于检测缺陷位置的方法，其特征在于，待检测部位处设置有声发射源和多个声发射传感器；所述声发射传感器用于发射声信号，所述声发射传感器用于接收声发射源发射的声信号，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取声信号，包括：

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述声发射传感器包括第一传感器和第二传感器，所述第一传感器设置在所述待检测部位的一端，所述第二传感器设置在所述待检测部位的另一端；获取所述声信号的到达时间，包括：

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述声信号由横波和纵波组成，所述波速信息包括横波波速和纵波波速，获取所述声信号的波速信息，包括：

5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述声信号由横波和纵波组成，所述波速信息包括横波波速和纵波波速，获取所述声信号的波速信息，包括：

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述到达时间和所述波速信息确定所述待检测部位的缺陷位置，包括：

7.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述波速信息包括横波波速和纵波波速，根据所述到达时间和所述波速信息确定所述待检测部位的缺陷位置，包括：

8.一种用于检测缺陷位置的装置，包括处理器和存储有程序指令的存储器，其特征在于，所述处理器被配置为在运行所述程序指令时，执行如权利要求1至7任一项所述的用于检测缺陷位置的方法。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

10.一种存储介质，存储有程序指令，其特征在于，所述程序指令在运行时，执行如权利要求1至7任一项所述的用于检测缺陷位置的方法。

技术总结
本申请涉及无损检测技术领域，公开一种用于检测缺陷位置的方法，待检测部位处设置有声发射源和多个声发射传感器；声发射传感器用于发射声信号，声发射传感器用于接收声发射源发射的声信号，该方法包括：获取声信号，获取声信号的到达时间和波速信息。根据到达时间和波速信息确定待检测部位的缺陷位置。这样，通过在待检测部位处设置声发射源和多个声发射传感器，由于声信号在结构缺陷时波速会发生显著变化。通过发射声信号在待检测部位中传播，根据声信号的到达时间和波速信息确定缺陷位置的方式相较于人工观察的方式更准确，实现了无损检测，同时提高了缺陷位置的检测准确性。本申请还公开一种用于检测缺陷位置的装置及电子设备、存储介质。

技术研发人员：胡彦坤,王世超,张存瑞
受保护的技术使用者：青岛海尔电冰箱有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14