芯片测试装置、方法、电子设备及存储介质与流程

本申请属于芯片测试，具体涉及一种芯片测试装置、方法、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、在芯片的应用过程中，通常要经历测试其功能再确定是否投入使用，其中包括系统级测试，一般是把芯片安装到测试主板上，配置好内存，外设，启动一个操作系统，然后用软件烤机测试，记录结果并比较。

2、现有技术中，一般采用人工测试方式，并且一台机器一次仅测试一颗芯片，在芯片测试数量固定的情况下，若想提高测试效率，需要增加系统级测试的测试机台，会造成耗时较长，效率较低并且成本较高的问题。

技术实现思路

1、本申请实施例提供一种芯片测试装置、方法、电子设备及存储介质，能够解决一台机器一次仅测试一颗芯片，耗时较长，效率较低并且成本较高的问题。

2、第一方面，本申请实施例提供了一种芯片测试装置，包括多个测试模块，每个所述测试模块包括：用于安装待测试的目标芯片的测试座、与所述目标芯片匹配的外设、内存及电源控制电路；接口转换模块，包括与计算机通信连接的第一接口，以及与所述多个测试模块对应的多个串口，每个所述串口对应连接一个所述测试模块；所述接口转换模块在与计算机连接的状态下，接收计算机发送的测试指令，将所述测试指令发送至所述测试模块，由所述测试模块上安装的所述目标芯片来执行所述测试指令并生成测试结果，所述测试模块将所述测试结果通过所述接口转换模块反馈至所述计算机。

3、第二方面，本申请实施例提供了一种芯片测试的方法，应用于如第一方面所述的芯片测试装置,包括通过接口转换模块接收计算机发送的测试指令，将所述测试指令发送至相应的测试模块；通过所述测试模块上安装的目标芯片来执行所述测试指令并生成测试结果；通过测试模块将所述测试结果通过所述接口转换模块反馈至所述计算机。

4、第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，处理器；以及被安排成存储计算机可执行指令的存储器，所述可执行指令被配置由所述处理器执行，所述可执行指令包括用于执行如第二方面所述的方法。

5、第四方面，本申请实施例提供了一种可读存储介质，其特征在于，所述存储介质用于存储计算机可执行指令，所述计算机可执行指令使得计算机执行如第二方面所述的方法。

6、第五方面，本申请实施例提供了一种芯片，所述芯片包括处理器和通信接口，所述通信接口和所述处理器耦合，所述处理器用于运行程序或指令，实现如第二方面所述的方法。

7、在本申请实施例提供的芯片测试装置，包括多个测试模块，每个测试模块包括安装有与待测试的目标芯片的测试座、与目标芯片匹配的外设、内存及电源控制电路，该装置还包括接口转换模块，接口转换模块包括与计算机通信连接的第一接口，以及与多个测试模块对应的多个串口，每个串口对应连接一个测试模块。接口转换模块在与计算机连接的状态下，接收计算机发送的测试指令，将测试指令发送至每个测试模块，其中，计算机连接转换模块的第一接口，第一接口通过串口连接多个测试模块，并通过串口发送指令至每个测试模块，一个计算机能够对应多个测试模块。再由测试模块上安装的目标芯片来执行测试指令并生成测试结果，测试模块将测试结果通过接口转换模块反馈至计算机，其中通过测试模块上安装的芯片执行测试的指令，并将测试结果反馈给计算机，能够完成芯片的测试，可见，通过芯片测试装置，能够实现一台计算机测试多颗芯片，解决了一台机器一次仅测试一颗芯片，耗时较长，效率较低并且成本较高的问题。

技术特征：

1.一种芯片测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，

4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，

5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：单片机模块，

6.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：芯片执装模块，

7.一种芯片测试方法，应用于如权利要求1-6任一所述的芯片测试装置，其特征在于，包括：

8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述测试指令包括：

9.一种电子设备，其特征在于，所述设备包括：

10.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质用于存储计算机可执行指令，所述计算机可执行指令使得计算机执行如权利要求7-8任一项所述的方法。

技术总结
本申请公开了一种芯片测试装置、方法、电子设备及存储介质，属于芯片测试技术领域，用以解决一台机器一次仅测试一颗芯片，耗时较长，效率较低的问题，所述装置包括：多个测试模块，每个所述测试模块包括：用于安装待测试的目标芯片的测试座、与所述目标芯片匹配的外设、内存及电源控制电路；接口转换模块，包括与计算机通信连接的第一接口，以及与所述多个测试模块对应的多个串口，每个所述串口对应连接一个所述测试模块；接口转换模块在与计算机连接的状态下，接收计算机发送的测试指令，将测试指令发送至测试模块，由测试模块上安装的目标芯片来执行测试指令并生成测试结果，测试模块将测试结果通过接口转换模块反馈至计算机。

技术研发人员：邵林莉,庄晓楠,汤文轩,叶选腾
受保护的技术使用者：联芸科技（杭州）股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13