一种用于多个试样电老化试验的电极系统及其制备方法

本发明涉及电极领域，更具体地涉及一种用于多个试样电老化试验的电极系统及其制备方法。

背景技术：

1、随着经济科技的发展，各行业对电力的需求日益增长，通过高压输电可以有效地减少损耗来提高经济性，随着电压的上升，对于电缆以及其他高压电力设备绝缘性能要求不断提高。在各种电力设备和电缆投入使用后，受到长期电老化，热老化，机械力以及其他环境因素的影响，绝缘部分会逐渐劣化并最终失效而短路使得设备烧毁或线路被切断，从而导致电力系统出现故障造成损失。为了提高高压电力设备绝缘的可靠性，对于其进行研究势在必行，从材料出发是个不错的选择。

2、在对绝缘材料的研究中，其试样大多为片状试样。常常在交流、直流等条件下进行电老化试验来研究其绝缘性能，需要用一对圆柱电极夹住试样，两端加上电压进行试验。在加速老化的过程中，场强越高，与实际情况的工作场强差值就越大，劣化机理也会存在变化，得出的试验结果会存在误差，无法准确地评估该材料的绝缘性能。为了让试验更加接近实际的老化过程，则需要尽可能地降低场强，使其更加接近实际工作的场强，场强一旦降低，电老化试验的时间则会大幅度增加；除此之外，在试验的过程中，试样之间存在差异，试验环境也会有所变化，需要进行多次试验得到大量的数据来减小这些干扰因素对试验结果的影响。综上所述，如果只使用一对电极进行试验则会耗费大量的时间。为了能够加快实验进度节省人力，或在固定时间内得到更多的试验数据以减小试验误差，设计一个能同时进行多次电老化试验的电极系统是十分必要的。

技术实现思路

1、为解决上述技术问题，本发明提供一种用于多个试样电老化试验的电极系统及其制备方法。

2、本发明采用的具体方案为：一种用于多个试样电老化试验的电极系统，所述电极系统包括支撑架、上电极、下电极、螺丝，所述支撑架的上部设置顶板，下部设置底板；所述顶板、底板上对应设置螺纹孔，所述顶板的上部、底板的下部分别设置导电条，所述导电条上设置与螺纹孔对应的通孔，所述上电极的顶部，下电极的底部分别设置凹槽，所述凹槽内部设置与螺丝匹配的螺纹，所述螺丝依次穿过通孔、螺纹孔后与上电极或下电极连接；与顶板连接的所述导电条的端部设置第一连接孔，所述支柱穿过第一连接孔与导电条连接；与底板连接的所述导电条的端部设置第二连接孔，所述支柱穿过第二连接孔与导电条连接，所述上电极与下电极之间夹持待测片状试样。

3、所述支撑架为由4根支柱、顶板、底板组成的方形框架。

4、所述上电极及下电极均为柱状电极。

5、所述顶板上设置的螺纹孔的个数为12个。

6、所述导电条为铝条。

7、所述支柱的中部的直径大于所述支柱两端的直径。

8、所述上电极为黄铜圆柱电极。

9、另一方面，本发明提供一种用于片状试样电老化电极系统的制作方法，所述方法包括如下步骤：

10、步骤一、底板、顶板及支架组成支撑架，在顶板及底板对应位置分别设置螺纹孔，通过仿真软件确定干扰距离；

11、步骤二、在顶板的顶部及底板的底部分别设置导电条，导电条上设置与螺纹孔配合的通孔；

12、步骤三、螺栓伸入支撑架内分别与上电极或下电极连接，上电极与下电极之间夹持待测片状试样；

13、步骤四、将设置在顶板上的导电条与高压端导线连接，设置在底板上的导电条与接地导线连接，构成测试用的回路。

14、本发明相对于现有技术具有如下有益效果：

15、本发明提供一种用于多个试样电老化试验的电极系统，电极系统包括支撑架、上电极、下电极、螺丝，支撑架的上部设置顶板，下部设置底板；顶板、底板上对应设置螺纹孔，顶板的上部、底板的下部分别设置导电条，导电条上设置与螺纹孔对应的通孔，所述上电极的顶部，下电极的底部分别设置凹槽，凹槽内部设置与螺丝匹配的螺纹，螺丝依次穿过通孔、螺纹孔后与上电极或下电极连接；与顶板连接的所述导电条的端部设置第一连接孔，支柱穿过第一连接孔与导电条连接；与底板连接的所述导电条的端部设置第二连接孔，支柱穿过第二连接孔与导电条连接，所述上电极与下电极之间夹持待测片状试样，解决了目前只能使用一对电极进行片状试样电老化试验耗费大量的时间的问题。另一方面，本发明提供的一种电极系统可以同时进行多个绝缘材料片状试样电老化的试验，该系统可以装配多对电极以达到同时进行多组试验的目的，时间成本低。

技术特征：

1.一种用于多个试样电老化试验的电极系统，其特征在于，所述电极系统包括支撑架(1)、上电极(2)、下电极(3)、螺丝(4)，所述支撑架(1)的上部设置顶板(5)，下部设置底板(6)；所述顶板(5)、底板(6)上对应设置螺纹孔(8)，所述顶板(5)的上部、底板(6)的下部分别设置导电条(7)，所述导电条(7)上设置与螺纹孔(8)对应的通孔(9)，所述上电极(2)的顶部，下电极(3)的底部分别设置凹槽(11)，所述凹槽(11)内部设置与螺丝(4)匹配的螺纹，所述螺丝(4)依次穿过通孔(9)、螺纹孔(8)后与上电极(2)或下电极(3)连接；与顶板(5)连接的所述导电条(7)的端部设置第一连接孔，所述支柱(12)穿过第一连接孔与导电条(7)连接；与底板(6)连接的所述导电条(7)的端部设置第二连接孔，所述支柱(12)穿过第二连接孔与导电条(7)连接，所述上电极(2)与下电极(3)之间夹持待测片状试样。

2.根据权利要求1所述的用于多个试样电老化试验的电极系统，其特征在于，所述支撑架(1)为由4根支柱(12)、顶板(5)、底板(6)组成的方形框架。

3.根据权利要求2所述的用于多个试样电老化试验的电极系统，其特征在于，所述上电极(2)及下电极(3)均为柱状电极。

4.根据权利要求3所述的用于多个试样电老化试验的电极系统，其特征在于，所述顶板(5)上设置的螺纹孔(8)的个数为12个。

5.根据权利要求4所述的用于多个试样电老化试验的电极系统，其特征在于，所述导电条(7)为铝条。

6.根据权利要求5所述的用于多个试样电老化试验的电极系统，其特征在于，所述支柱(12)的中部的直径大于所述支柱(12)两端的直径。

7.根据权利要求6所述的用于多个试样电老化试验的电极系统，其特征在于，所述上电极(2)为黄铜圆柱电极。

8.一种如权利要求2-7任一项所述的用于多个试样电老化试验的电极系统的制作方法，所述方法包括如下步骤：

技术总结
本发明涉及电极领域，公开了一种用于多个试样电老化试验的电极系统，电极系统包括支撑架、上电极、下电极、螺丝，支撑架的上部设置顶板，下部设置底板；顶板、底板上对应设置螺纹孔，顶板的上部、底板的下部分别设置导电条，导电条上设置与螺纹孔对应的通孔，上电极的顶部，下电极的底部分别设置凹槽，凹槽内部设置与螺丝匹配的螺纹，所述螺丝依次穿过通孔、螺纹孔后与上电极或下电极连接；上电极与下电极之间夹持待测片状试样。本发明解决了只使用一对电极进行片状试样的电老化试验造成的耗费大量的时间的问题。

技术研发人员：聂洪岩,梅哲朋,孙茂轩,陈嘉浩
受保护的技术使用者：哈尔滨理工大学
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13