光纤损耗测试装置的制作方法

本发明涉及光纤测试，尤其涉及一种光纤损耗测试装置。

背景技术：

1、光纤损耗是光通过光纤传播时光功率减小程度的一种度量，是特种光纤产品基础的光学测试指标，在特定环境下对光纤损耗变化情况进行长期监测，对特种光纤在光纤激光器中的应用有着重要的影响。

2、相关技术中，在光纤特殊环境试验研究中，利用单根光纤连接功率计直接获取接光纤功率并计算光纤损耗情况，当待测光纤的样品增多时，采用单根样品进行测试的方法需要消耗大量人力和物力，测试效率低；而采用光纤离线测试法获取光纤损耗时，无法对特定环境中光纤的光谱持续变化情况进行监测，且离线测试过程易收到外界环境和人为因素的影响，测试结果误差较大，稳定性差。

技术实现思路

1、本发明提供一种根据本发明提供的一种光纤损耗测试装置，用以解决现有技术中长期测量多个光纤功率数据的效率低，采用离线测试方法得到光纤损耗结果误差大，稳定性差的缺陷，提高了对多个光纤在特定环境试验下的损耗测试效率和可靠性。

2、本发明提供一种光纤损耗测试装置，包括：

3、光源；

4、至少两个光开关，每个光开关包括一个输入端和多个输出端，所述至少两个光开关与所述光源的距离不同，其中，靠近所述光源的光开关的输入端用于接收所述光源发射的光束；

5、至少两个光输入系统，光输入系统的数目与光开关的数目相同，其中，靠近所述光源的光输入系统的入光端与靠近所述光源的光开关的多个输出端连接，靠近所述光源的光输入系统的出光端与至少几个待测光纤的一端连接，远离所述光源的光输入系统的出光端与所述至少几个待测光纤的另一端连接，远离所述光源的光输入系统的入光端与远离所述光源的光开关的多个输出端连接；

6、光谱检测系统，所述光谱检测系统的输入端与远离所述光源的光开关的输入端连接，所述光谱检测系统用于根据目标待测光纤的长度和经过所述目标待测光纤的光束的光谱变化量，确定所述目标待测光纤的损耗信息或光谱变化信息；

7、控制器，所述光谱检测系统的输出端和所述至少两个光开关均与所述控制器电连接，所述控制器用于控制所述至少两个光开光与所述光谱检测系统按照相同的频率工作。

8、根据本发明提供的一种光纤损耗测试装置，所述至少两个光开关采用特种光纤制备。

9、根据本发明提供的一种光纤损耗测试装置，所述至少两个光开关的光纤发散角大于等于所述至少几个待测光纤的发散角。

10、根据本发明提供的一种光纤损耗测试装置，所述至少两个光输入系统采用特种光纤经过拉锥得到，所述至少两个光输入系统与待测光纤匹配，所述至少两个光输入系统与所述至少两个光开关均采用特种光纤制备。

11、根据本发明提供的一种光纤损耗测试装置，所述至少两个光输入系统的入光端的尺寸大于所述出光端尺寸。

12、根据本发明提供的一种光纤损耗测试装置，所述至少两个光开关的尺寸与所述至少两个光输入系统的入光端的光纤的尺寸相同。

13、根据本发明提供的一种光纤损耗测试装置，远离所述光源的光开关的输出端的数目大于所述至少几个待测光纤的数目。

14、根据本发明提供的一种光纤损耗测试装置，所述光谱检测系统用于对光开关的目标分路中光束的光谱进行扫描和保存。

15、根据本发明提供的一种光纤损耗测试装置，所述控制器用于对光开关的目标分路中光束的光谱进行同步切换，所述控制器还用于存储光开关的各分路中的光束的光谱信息和所述目标待测光纤的损耗信息。

16、本发明提供的光纤损耗测试装置，通过至少两个光开关、至少两个光输入系统组成的光路将光源发出的光束分成多个光谱不同的分束光，待所有分束光经过待测光纤后，利用控制器控制光谱检测系统自动测定任一分束光对应的光纤损耗，提高了对多个光纤的损耗测试效率和可靠性；降低了人工成本，且测试过程无需改变光纤位置，减少环境及人为因素带来的测试不确定性，同时支持光纤多样品同时测试，为大批量光纤损耗长期测试减少了时间成本，极大提高了测试效率。

技术特征：

1.一种光纤损耗测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的光纤损耗测试装置，其特征在于，所述至少两个光开关采用特种光纤制备。

3.根据权利要求1所述的光纤损耗测试装置，其特征在于，所述至少两个光开关的光纤发散角大于等于所述至少几个待测光纤的发散角。

4.根据权利要求1所述的光纤损耗测试装置，其特征在于，所述至少两个光输入系统采用特种光纤经过拉锥得到，所述至少两个光输入系统与待测光纤匹配，所述至少两个光输入系统与所述至少两个光开关均采用特种光纤制备。

5.根据权利要求1或4所述的光纤损耗测试装置，其特征在于，所述至少两个光输入系统的入光端的尺寸大于所述出光端尺寸。

6.根据权利要求1所述的光纤损耗测试装置，其特征在于，所述至少两个光开关的尺寸与所述至少两个光输入系统的入光端的光纤尺寸相同。

7.根据权利要求1所述的光纤损耗测试装置，其特征在于，远离所述光源的光开关的输出端的数目大于所述至少几个待测光纤的数目。

8.根据权利要求1所述的光纤损耗测试装置，其特征在于，所述光谱检测系统用于对光开关的目标分路中光束的光谱进行扫描和保存。

9.根据权利要求1所述的光纤损耗测试装置，其特征在于，所述控制器用于对光开关的目标分路中光束的光谱进行同步切换，所述控制器还用于存储光开关的各分路中的光束的光谱信息和所述目标待测光纤的损耗信息。

技术总结
本发明提供一种光纤损耗测试装置，该光纤损耗测试装置包括：光源；至少两个光开关，每个光开关包括一个输入端和多个输出端；至少两个光输入系统；光谱检测系统，用于根据目标待测光纤的长度和经过目标待测光纤的光束的光谱变化量，确定目标待测光纤的损耗信息；控制器，用于控制至少两个光开光与光谱检测系统按照相同的频率工作。本发明所述装置提高了对多个光纤的损耗测试效率和可靠性；降低了人工成本，且测试过程无需改变光纤位置，减少环境及人为因素带来的测试不确定性，同时支持光纤多样品同时测试，为大批量光纤损耗长期测试减少了时间成本，极大提高了测试效率。

技术研发人员：王颖,王静,刘锐,倪志龙,王钊,毕浩,肖攀,李双,周程丽
受保护的技术使用者：武汉睿芯特种光纤有限责任公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14