一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法与流程

本发明涉及集成电路测试，特别涉及一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法。

背景技术：

1、数模混合自动测试系统在测试直流参数和交流参数时需通过继电器切换到对应的直流资源与交流资源，传输延迟是关键的交流参数，在测试传输延迟时自动测试系统的信号发生单元提供方波信号至待测ic和时间测量单元tmu，由于继电器和tmu产生的寄生电容原因，信号发生单元的驱动能力有限，因此方波信号斜率会减小，从而导致在测试纳秒级传输延迟时会产生较大误差。

技术实现思路

1、本发明需要解决的技术问题是通过设计信号驱动模块，增强交流输入信号驱动能力，提高方波信号斜率，本方法可以提高传输延迟测试精度。

2、为解决上述技术问题，本发明提供了一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，包括：信号驱动模块和自动测试系统；所述信号驱动模块通过接入所述自动测试系统产生的方波信号ddd，将其驱动能力增强，输出可调幅度的方波信号sig，并作为输入信号分别接入到被测电路和所述自动测试系统的时间测量单元tmu的a通道tmu_cha，被测电路的输出信号接入到所述时间测量单元tmu的b通道tmu_chb，所述时间测量单元tmu根据a通道tmu_cha和b通道tmu_chb的输入信号计算出传输延迟时间。

3、优选的，所述信号驱动模块包括：驱动器u1、电阻rc1、电阻r11、电阻r12和电容c9；所述驱动器u1的脚1连接有所述电阻rc1，所述方波信号ddd经所述电阻rc1输入，所述驱动器u1的脚2和脚3共同接地gnd，所述驱动器u1的脚4和脚5分别接入所述电阻r11和所述电阻r12后共同产生方波信号sig，所述驱动器u1的脚6和脚7共同接入电源电压vdd、电容c9，所述电容c9的另一端接地gnd，所述驱动器u1的脚8接地gnd。

4、优选的，所述驱动器u1为高速低边mosfet驱动器，最大负载能力可达10a。

5、优选的，所述被测电路为待测ic电路u2，所述待测ic电路u2的脚1作为输入信号输入，所述待测ic电路u2的脚2、脚5和脚6分别接地gnd，所述待测ic电路u2的脚3接入电源电压vcc，所述待测ic电路u2的脚4作为输出信号输出。

6、优选的，还包括继电器k1和继电器k2；所述方波信号sig经所述继电器k1的脚4输入，所述继电器k1的脚3与所述待测ic电路u2的脚1相连；所述待测ic电路u2的脚4与所述继电器k2的脚3相连，所述继电器k2的脚4与所述b通道tmu_chb相连。

7、优选的，还包括如下：

8、当测试直流参数时，所述继电器k1和所述继电器k2保持断开状态，待测ic电路u2的输入脚和输出脚分别接入所述自动测试系统的直流源；

9、当测试传输延迟等交流参数时，所述继电器k1和所述继电器k2保持闭合状态，所述方波信号sig通过所述继电器k1接入所述待测ic电路u2的输入脚，所述待测ic电路u2的输出脚产生方波信号，并通过所述继电器k2接入到所述b通道tmu_chb。

10、本发明与现有技术相比，具有以下有益效果：

11、1)本发明通过设计信号驱动模块，增强交流输入信号驱动能力，提高方波信号斜率，可以减小传输延迟测试误差，提高传输延迟测试精度，简单易用。

12、2)本发明设计的信号驱动模块使用时，只需将其输入端in+接到自动测试系统的ddd信号通道，电源电压vdd接到自动测试系统的直流源，编写程序可控制输出方波信号sig的幅度和频率。本发明的方法可以将输入信号的上升时间缩短约15纳秒，有效提高测试精度。

技术特征：

1.一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，其特征在于，包括：信号驱动模块和自动测试系统；所述信号驱动模块通过接入所述自动测试系统产生的方波信号ddd，输出可调幅度的方波信号sig，并作为输入信号分别接入到被测电路和所述自动测试系统的时间测量单元tmu的a通道tmu_cha，被测电路的输出信号接入到所述时间测量单元tmu的b通道tmu_chb，所述时间测量单元tmu根据a通道tmu_cha和b通道tmu_chb的输入信号计算出传输延迟时间。

2.如权利要求1所述的一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，其特征在于，所述信号驱动模块包括：驱动器u1、电阻rc1、电阻r11、电阻r12和电容c9；所述驱动器u1的脚1连接有所述电阻rc1，所述方波信号ddd经所述电阻rc1输入，所述驱动器u1的脚2和脚3共同接地gnd，所述驱动器u1的脚4和脚5分别接入所述电阻r11和所述电阻r12后共同产生方波信号sig，所述驱动器u1的脚6和脚7共同接入电源电压vdd、电容c9，所述电容c9的另一端接地gnd，所述驱动器u1的脚8接地gnd。

3.如权利要求2所述的一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，其特征在于，所述驱动器u1为高速低边mosfet驱动器，最大负载能力达10a。

4.如权利要求1-3任一项所述的一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，其特征在于，所述被测电路为待测ic电路u2，所述待测ic电路u2的脚1作为输入信号输入，所述待测ic电路u2的脚2、脚5和脚6分别接地gnd，所述待测ic电路u2的脚3接入电源电压vcc，所述待测ic电路u2的脚4作为输出信号输出。

5.如权利要求4所述的一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，其特征在于，还包括继电器k1和继电器k2；所述方波信号sig经所述继电器k1的脚4输入，所述继电器k1的脚3与所述待测ic电路u2的脚1相连；所述待测ic电路u2的脚4与所述继电器k2的脚3相连，所述继电器k2的脚4与所述b通道tmu_chb相连。

6.如权利要求5所述的一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，其特征在于，还包括如下：

技术总结
本发明涉及集成电路测试技术领域，特别涉及一种提高自动测试系统传输延迟测试精度的方法，包括信号驱动模块和自动测试系统；所述信号驱动模块通过接入所述自动测试系统产生的方波信号DDD，输出可调幅度的方波信号SIG，并作为输入信号分别接入到被测电路和所述自动测试系统的时间测量单元TMU的A通道TMU_CHA，被测电路的输出信号接入到所述时间测量单元TMU的B通道TMU_CHB，所述时间测量单元TMU根据A通道TMU_CHA和B通道TMU_CHB的输入信号计算出传输延迟时间。本发明通过设计信号驱动模块，增强交流输入信号驱动能力，提高方波信号斜率，可以减小传输延迟测试误差，提高传输延迟测试精度，简单易用。

技术研发人员：李灿,程法勇,王建超,郭晓宇
受保护的技术使用者：中国电子科技集团公司第五十八研究所
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14