一种芯片烧录测试设备的制作方法

本发明涉及芯片烧录检测，具体的说是一种芯片烧录测试设备。

背景技术：

1、随着集成电路技术的不断发展，使得电子产品体积越来越小型化，不仅方便人们携带，也具有强大的运算处理功能。芯片在生产时，需要经过多道繁杂的手续，成品制作完成后，进一步地需将特定功能的程序数据烧录到芯片中，以使芯片能实现特定的功能。

2、然而，目前在对芯片烧录检测时，大部分都是将芯片单个进行放置在夹具上烧录，来回操作耗时耗力，拆卸繁琐，降低了整体的工作效率，并且夹具只能对一个种类的芯片进行放置，当需要更换芯片时需要更换夹具，十分不方便，并且在烧录过程中不方便很好的对芯片散热防护，从而影响芯片烧录的质量，同时在芯片烧录时，操作夹具是直接放置在台面，操作夹具稳定性差容易松动，缺乏固定组件，从而影响正常的芯片安装，并稍有不慎容易造成线路接触不良，影响芯片的烧录检测工作。

技术实现思路

1、针对现有技术中的问题，本发明提供了一种芯片烧录测试设备。

2、本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种芯片烧录测试设备，包括：

3、控制台；

4、放置机构，所述控制台上安装有放置机构；

5、固定机构，所述控制台底部安装有固定机构，所述固定机构包括吸盘，所述控制台四角内部分别安装有吸盘，所述吸盘通过按压弹簧与控制台内部滑动连接，所述吸盘底部延伸至控制台外侧，所述吸盘内部中心处设有导流槽，所述控制台四角分别垂直螺纹连接有螺杆，所述螺杆底部转动连接有橡胶柱，所述橡胶柱与控制台内部滑动连接，所述橡胶柱底部位于吸盘顶部，所述橡胶柱底部直径小于吸盘顶部直径；

6、闭锁机构，所述控制台内部安装有闭锁机构。

7、具体的，所述放置机构包括底座，所述控制台上可拆卸连接有底座，所述底座顶部安装有转盘，所述转盘顶侧边缘处设有多个等距分布的放置槽，所述底座底部内侧中心处可拆卸连接有电机，所述底座顶部中心处转动连接有驱动盘，所述电机输出轴与驱动盘底部连接，所述驱动盘顶侧边缘处固定连接有多个等距分布的卡扣，所述转盘底部中心处设有多个呈环形等距分布的卡槽，所述卡扣与卡槽内部卡合，所述转盘通过驱动盘与底座顶部转动连接，所述卡槽和卡扣均为“l”形结构。

8、具体的，所述底座顶部边缘处安装有多个呈环形分布的凸块，所述凸块底部通过抵触弹簧与底座内部滑动连接，所述凸块顶部为半圆形结构，所述转盘底部设有多个呈环形分布的凹槽，所述凸块顶部与凹槽内部抵触。

9、具体的，所述放置机构上安装有抵触机构，所述抵触机构包括立柱，所述底座一侧可拆卸连接有立柱，所述立柱为“7”字形结构，所述立柱延伸至转盘顶部，所述立柱顶部一端位于放置槽顶部，所述立柱顶部一端内侧安装有连接块，所述连接块通过活动弹簧与立柱内部滑动连接，所述连接块底部延伸至立柱外侧，所述连接块底部转动连接有压轮，所述压轮位于放置槽顶部。

10、具体的，多个所述放置槽内部中心处分别设有顶套，所述顶套内部安装有压缩弹簧，所述顶套底部通过压缩弹簧与转盘内部滑动连接。

11、具体的，所述放置机构内部安装有连接机构，所述连接机构包括连通槽，所述转盘边缘处内部设有多组对称的分布的连通槽，所述连通槽顶部延伸至放置槽顶部，所述连通槽底部延伸至转盘底部外侧，所述底座边缘处内部安装有集成板，所集成板通过复位弹簧与底座内部纵向滑动连接，所述集成板顶部两端垂直连接有多个等距分布的金属板，多个所述金属板位于多个连通槽底部，所述底座内部滑动连接有控制板，所述集成板与控制板之间连接有两个缓冲弹簧，所述集成板底部垂直连接有两个导杆，所述导杆贯穿于缓冲弹簧与控制板内部滑动连接，所述底座内部边缘处可拆卸连接有气缸，所述气缸输出轴延伸至底座内部与控制板连接。

12、具体的，所述抵触机构上连接有散热机构，所述散热机构包括连接管，所述立柱一侧连接有连接管，所述立柱顶部内侧设有导槽，所述导槽两端延伸至立柱外侧，所述连接管延伸至导槽一端内部，所述导槽另一端连接有进气管，所述底座内部设有导气槽，所述导气槽一端延伸至集成板一侧，所述连接管另一端延伸至导气槽另一端内部，所述立柱内部滑动连接有皮塞，所述皮塞为长方形结构，所述皮塞顶部延伸至导槽内部，所述皮塞上设有通槽，所述皮塞底部贯穿于活动弹簧与连接块顶部垂直固定连接。

13、具体的，所述控制台上安装有存放机构，所述存放机构包括收集盒，所述控制台内部滑动连接有收集盒，所述收集盒一端延伸至控制台外侧，所述收集盒外侧中心处设有拉槽，所述收集盒内侧安装有静电板。

14、具体的，所述闭锁机构包括限位杆，所述控制台一端内部安装有限位杆，所述限位杆通过挤压弹簧与控制台内部横向滑动连接，所述限位杆两端为弧形结构，所述收集盒侧壁和其中一个橡胶柱侧壁分别设有对称的锁槽，所述限位杆一端与橡胶柱侧壁抵触，所述限位杆另一端与收集盒上的锁槽内部抵触。

15、本发明的有益效果是：

16、（1）本发明所述的一种芯片烧录测试设备，通过放置机构的作用下有利于对多个需要烧录和检测的芯片放置，通过抵触机构的安装，有利于对需要烧录和检测的芯片进行抵触防止松动。

17、（2）本发明所述的一种芯片烧录测试设备，通过连接机构利于不同大小的芯片引脚插入稳定，并且方便后续与芯片引脚电性连接，实现数据传输，通过抵触机构驱动使散热机构工作，有利于散热机构对连接机构及芯片散热防护。

18、（3）本发明所述的一种芯片烧录测试设备，通过固定机构的作用下有利于使控制台与台面吸附牢固，使控制台不会滑动，实现更稳定的检测工作，并且方便快速的进行复位拆卸，通过存放机构的作用下，有利于对烧录或检测失败的芯片存放回收，通过固定机构的驱动利于使闭锁机构工作，实现对存放机构的闭锁控制。

技术特征：

1.一种芯片烧录测试设备，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：所述放置机构（2）包括底座（201），所述控制台（1）上可拆卸连接有底座（201），所述底座（201）顶部安装有转盘（202），所述转盘（202）顶侧边缘处设有多个等距分布的放置槽（203），所述底座（201）底部内侧中心处可拆卸连接有电机（207），所述底座（201）顶部中心处转动连接有驱动盘（205），所述电机（207）输出轴与驱动盘（205）底部连接，所述驱动盘（205）顶侧边缘处固定连接有多个等距分布的卡扣（204），所述转盘（202）底部中心处设有多个呈环形等距分布的卡槽（206），所述卡扣（204）与卡槽（206）内部卡合，所述转盘（202）通过驱动盘（205）与底座（201）顶部转动连接，所述卡槽（206）和卡扣（204）均为“l”形结构。

3.根据权利要求2所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：所述底座（201）顶部边缘处安装有多个呈环形分布的凸块（208），所述凸块（208）底部通过抵触弹簧（209）与底座（201）内部滑动连接，所述凸块（208）顶部为半圆形结构，所述转盘（202）底部设有多个呈环形分布的凹槽（210），所述凸块（208）顶部与凹槽（210）内部抵触。

4.根据权利要求2所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：所述放置机构（2）上安装有抵触机构（3），所述抵触机构（3）包括立柱（301），所述底座（201）一侧可拆卸连接有立柱（301），所述立柱（301）为“7”字形结构，所述立柱（301）延伸至转盘（202）顶部，所述立柱（301）顶部一端位于放置槽（203）顶部，所述立柱（301）顶部一端内侧安装有连接块（302），所述连接块（302）通过活动弹簧（303）与立柱（301）内部滑动连接，所述连接块（302）底部延伸至立柱（301）外侧，所述连接块（302）底部转动连接有压轮（304），所述压轮（304）位于放置槽（203）顶部。

5.根据权利要求4所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：多个所述放置槽（203）内部中心处分别设有顶套（305），所述顶套（305）内部安装有压缩弹簧（306），所述顶套（305）底部通过压缩弹簧（306）与转盘（202）内部滑动连接。

6.根据权利要求4所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：所述放置机构（2）内部安装有连接机构（4），所述连接机构（4）包括连通槽（401），所述转盘（202）边缘处内部设有多组对称的分布的连通槽（401），所述连通槽（401）顶部延伸至放置槽（203）顶部，所述连通槽（401）底部延伸至转盘（202）底部外侧，所述底座（201）边缘处内部安装有集成板（403），所集成板（403）通过复位弹簧（407）与底座（201）内部纵向滑动连接，所述集成板（403）顶部两端垂直连接有多个等距分布的金属板（402），多个所述金属板（402）位于多个连通槽（401）底部，所述底座（201）内部滑动连接有控制板（404），所述集成板（403）与控制板（404）之间连接有两个缓冲弹簧（406），所述集成板（403）底部垂直连接有两个导杆（405），所述导杆（405）贯穿于缓冲弹簧（406）与控制板（404）内部滑动连接，所述底座（201）内部边缘处可拆卸连接有气缸（408），所述气缸（408）输出轴延伸至底座（201）内部与控制板（404）连接。

7.根据权利要求6所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：所述抵触机构（3）上连接有散热机构（5），所述散热机构（5）包括连接管（501），所述立柱（301）一侧连接有连接管（501），所述立柱（301）顶部内侧设有导槽（503），所述导槽（503）两端延伸至立柱（301）外侧，所述连接管（501）延伸至导槽（503）一端内部，所述导槽（503）另一端连接有进气管（502），所述底座（201）内部设有导气槽（506），所述导气槽（506）一端延伸至集成板（403）一侧，所述连接管（501）另一端延伸至导气槽（506）另一端内部，所述立柱（301）内部滑动连接有皮塞（504），所述皮塞（504）为长方形结构，所述皮塞（504）顶部延伸至导槽（503）内部，所述皮塞（504）上设有通槽（505），所述皮塞（504）底部贯穿于活动弹簧（303）与连接块（302）顶部垂直固定连接。

8.根据权利要求1所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：所述控制台（1）上安装有存放机构（7），所述存放机构（7）包括收集盒（702），所述控制台（1）内部滑动连接有收集盒（702），所述收集盒（702）一端延伸至控制台（1）外侧，所述收集盒（702）外侧中心处设有拉槽（701），所述收集盒（702）内侧安装有静电板（703）。

9.根据权利要求8所述的一种芯片烧录测试设备，其特征在于：所述闭锁机构（8）包括限位杆（802），所述控制台（1）一端内部安装有限位杆（802），所述限位杆（802）通过挤压弹簧（801）与控制台（1）内部横向滑动连接，所述限位杆（802）两端为弧形结构，所述收集盒（702）侧壁和其中一个橡胶柱（602）侧壁分别设有对称的锁槽（803），所述限位杆（802）一端与橡胶柱（602）侧壁抵触，所述限位杆（802）另一端与收集盒（702）上的锁槽（803）内部抵触。

技术总结
本发明涉及芯片烧录检测技术领域，具体的说是一种芯片烧录测试设备，包括控制台；固定机构，所述控制台底部安装有固定机构，所述固定机构包括吸盘，所述控制台四角内部分别安装有吸盘，所述吸盘通过按压弹簧与控制台内部滑动连接，所述吸盘底部延伸至控制台外侧，所述吸盘内部中心处设有导流槽，所述控制台四角分别垂直螺纹连接有螺杆，所述螺杆底部转动连接有橡胶柱，所述橡胶柱与控制台内部滑动连接，所述橡胶柱底部位于吸盘顶部，所述橡胶柱底部直径小于吸盘顶部直径；闭锁机构，所述控制台内部安装有闭锁机构；通过固定机构的作用下有利于使控制台与台面吸附牢固，固定机构的驱动利于使闭锁机构工作，实现对存放机构的闭锁控制。

技术研发人员：陈华平,李小山
受保护的技术使用者：深圳市迪科贝科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/13