半导体激光器老化测量装置的制作方法

本发明属于半导体激光器，具体为半导体激光器老化测量装置。

背景技术：

1、目前用于高速光纤通信的光信号发射器件，都是以半导体激光器芯片作为信号光源；并且需要对半导体激光器芯片做老化处理，以筛选出早期失效的半导体激光器；只有使用老化合格的半导体激光器芯片的光器件才能正式投入使用；目前业界对半导体激光器芯片的老化工艺主要有两种，一种是在将半导体激光器芯片组装成较完整的光器件后，利用光器件上的引脚接入老化电流，对内部的半导体激光器芯片进行老化；另一种是在光器件的前期组装阶段，利用与半导体激光器芯片焊接在一起的陶瓷基板，接入老化电流，提前对半导体激光器芯片进行老化。而后一种直接在陶瓷基板上进行老化的工艺，能在光器件组装前段，提前发现不良的半导体激光器芯片，相比于前一种老化工艺，能节约大量的光器件物料，降低成本；其中在对半导体激光器进行老化测量的过程中，半导体激光器通电后会在局部产生高温，不利于老化测量的进行。

技术实现思路

1、针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本发明提供半导体激光器老化测量装置，有效的解决了需要提供一种半导体激光器通电后会能够进行冷却的老化测量装置的问题。

2、为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：半导体激光器老化测量装置，包括箱体，箱体的顶部铰接有箱盖，所述箱体的内部开设有安装槽，安装槽用于放置半导体激光器；箱体的内部还设置有锁定单元、冷却单元以及检测单元，锁定单元用于半导体激光器的定位，冷却单元用于半导体激光器的散热，检测单元用于半导体激光器的检测。

3、优选的，所述锁定单元包括主动件以及两个从动件，在箱盖与箱体闭合时，主动件带动两个从动件对安装槽内的半导体激光器固定。

4、优选的，所述主动件包括转钮，转钮与转杆固定连接，转杆与箱盖上的杆孔滑动连接，转杆与转筒固定连接，转筒与筒体螺纹连接，筒体与箱体固定连接，筒体与第一活塞滑动连接，第一活塞与第一杆体固定连接，第一杆体与顶板固定连接；从动件包括设在箱体内的连通槽以及容纳槽，容纳槽通过连通槽与筒体的内部连通，容纳槽的内部设置有挤压件。

5、优选的，所述挤压件包括与容纳槽滑动连接的第二活塞以及第三活塞，第二活塞与第三活塞之间设有第一弹簧，第三活塞与第二杆体固定连接，第二杆体上套接有第二弹簧，第二杆体与侧压板固定连接。

6、优选的，所述冷却单元包括导热水块，导热水块的出水端与水泵的进水端连通，水泵的出水端与散热槽的进水端连通，散热槽的出水端与散热水块的进水端连通，散热水块的出水端与导热水块的进水端连通，其中导热水块位于箱体的内部且导热水块的顶部固定连接有制冷片，制冷片上固定连接有散热筒，散热筒的内部固定连接有散热扇；散热槽位于箱体的内部并靠近安装槽；散热水块位于箱体的内部并与箱体内的蓄电池贴合。

7、优选的，所述检测单元包括安装板，安装板与箱盖固定连接，安装板上对称固定连接有检测探头，安装板的下方设有防护板，防护板的内部开设有供检测探头通过的开口，且安装板与防护板之间通过对称设置的弹性件固定连接。

8、优选的，所述弹性件包括检测筒，检测筒与安装板固定连接，检测筒的内部设有第三弹簧以及位于第三弹簧下方并与检测筒滑动连接的第一滑块，第一滑块的下方设有第四弹簧以及位于第四弹簧下方并与检测筒滑动连接的第二滑块，第二滑块的底部固定连接有连接杆，连接杆与防护板固定连接。

9、优选的，所述第一滑块上固定连接有上触片，第二滑块的顶部固定连接有下触片，上触片与下触片接触后使得检测探头通电，检测探头与外接仪器连接。

10、与现有技术相比，本发明的有益效果是：

11、1）、在工作中，通过设置的冷却单元，能够通过制冷片的热面现象为半导体激光器的老化测量提供高温，同时能够通过制冷片的冷面现象为半导体激光器通电后进行局部的冷却，保证老化测量在适合的温度范围内；

12、2）、在工作中，通过设置的散热水块，能够在对半导体测量进行冷却的过程中，同时通过散热水块对蓄电池进行降温处理，以保证蓄电池的正常工作；

13、3）、在工作中，通过设置的锁定单元，能够通过主动件配合两个从动件实现对半导体激光器的定位过程，同时通过主动件实现箱盖与箱体之间的锁定，保证测量的稳定性；

14、4）、在工作中，通过设置的检测单元，能够自动实现对半导体激光器的检测过程，同时在检测时，通过弹性件配合防护板能够对检测探头起到缓冲保护的作用。

技术特征：

1.半导体激光器老化测量装置，包括箱体（1），箱体（1）的顶部铰接有箱盖（2），其特征在于，所述箱体（1）的内部开设有安装槽（3），安装槽（3）用于放置半导体激光器；箱体（1）的内部还设置有锁定单元（4）、冷却单元（5）以及检测单元（6），锁定单元（4）用于半导体激光器的定位，冷却单元（5）用于半导体激光器的散热，所述冷却单元（5）包括导热水块（501），导热水块（501）的出水端与水泵（502）的进水端连通，水泵（502）的出水端与散热槽（503）的进水端连通，散热槽（503）的出水端与散热水块（504）的进水端连通，散热水块（504）的出水端与导热水块（501）的进水端连通，其中导热水块（501）位于箱体（1）的内部且导热水块（501）的顶部固定连接有制冷片（505），制冷片（505）上固定连接有散热筒（506），散热筒（506）的内部固定连接有散热扇（507）；散热槽（503）位于箱体（1）的内部并靠近安装槽（3）；散热水块（504）位于箱体（1）的内部并与箱体（1）内的蓄电池贴合，检测单元（6）用于半导体激光器的检测。

2.根据权利要求1所述的半导体激光器老化测量装置，其特征在于：所述锁定单元（4）包括主动件以及两个从动件，在箱盖（2）与箱体（1）闭合时，主动件带动两个从动件对安装槽（3）内的半导体激光器固定。

3.根据权利要求2所述的半导体激光器老化测量装置，其特征在于：所述主动件包括转钮（401），转钮（401）与转杆（402）固定连接，转杆（402）与箱盖（2）上的杆孔滑动连接，转杆（402）与转筒（403）固定连接，转筒（403）与筒体（404）螺纹连接，筒体（404）与箱体（1）固定连接，筒体（404）与第一活塞（405）滑动连接，第一活塞（405）与第一杆体（406）固定连接，第一杆体（406）与顶板（407）固定连接；从动件包括设在箱体（1）内的连通槽（408）以及容纳槽（409），容纳槽（409）通过连通槽（408）与筒体（404）的内部连通，容纳槽（409）的内部设置有挤压件（7）。

4.根据权利要求3所述的半导体激光器老化测量装置，其特征在于：所述挤压件（7）包括与容纳槽（409）滑动连接的第二活塞（701）以及第三活塞（703），第二活塞（701）与第三活塞（703）之间设有第一弹簧（702），第三活塞（703）与第二杆体（704）固定连接，第二杆体（704）上套接有第二弹簧（705），第二杆体（704）与侧压板（706）固定连接。

5.根据权利要求1所述的半导体激光器老化测量装置，其特征在于：所述检测单元（6）包括安装板（601），安装板（601）与箱盖（2）固定连接，安装板（601）上对称固定连接有检测探头（602），安装板（601）的下方设有防护板（604），防护板（604）的内部开设有供检测探头（602）通过的开口（605），且安装板（601）与防护板（604）之间通过对称设置的弹性件（603）固定连接。

6.根据权利要求5所述的半导体激光器老化测量装置，其特征在于：所述弹性件（603）包括检测筒（6031），检测筒（6031）与安装板（601）固定连接，检测筒（6031）的内部设有第三弹簧（6032）以及位于第三弹簧（6032）下方并与检测筒（6031）滑动连接的第一滑块（6033），第一滑块（6033）的下方设有第四弹簧（6035）以及位于第四弹簧（6035）下方并与检测筒（6031）滑动连接的第二滑块（6036），第二滑块（6036）的底部固定连接有连接杆（6038），连接杆（6038）与防护板（604）固定连接。

7.根据权利要求6所述的半导体激光器老化测量装置，其特征在于：所述第一滑块（6033）上固定连接有上触片（6034），第二滑块（6036）的顶部固定连接有下触片（6037），上触片（6034）与下触片（6037）接触后使得检测探头（602）通电，检测探头（602）与外接仪器连接。

技术总结
本发明涉及半导体激光器老化测量装置，其包括箱体，箱体的顶部铰接有箱盖，所述箱体的内部开设有安装槽，安装槽用于放置半导体激光器；箱体的内部还设置有锁定单元、冷却单元以及检测单元，锁定单元用于半导体激光器的定位，冷却单元用于半导体激光器的散热，检测单元用于半导体激光器的检测；本发明，在工作中，通过设置的冷却单元，能够通过制冷片的热面现象为半导体激光器的老化测量提供高温，同时能够通过制冷片的冷面现象为半导体激光器通电后进行局部的冷却，保证老化测量在适合的温度范围内；通过设置的散热水块，能够在对半导体测量进行冷却的过程中，同时通过散热水块对蓄电池进行降温处理，以保证蓄电池的正常工作。

技术研发人员：许桢,熊杰,关小伟,刘金峰,陈志远,祝贝贝
受保护的技术使用者：中久光电产业有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/14