一种集成电路测试设备稳定性分析方法及系统

本发明属于集成电路测试，涉及一种集成电路测试设备稳定性分析方法及系统。

背景技术：

1、集成电路测试设备是对集成电路进行测试的专用仪器设备，在集成电路生产过程中用于对芯片进行测试和分析，是保证集成电路性能、质量的关键手段。集成电路测试设备及其测试设备稳定性分析是基于自动化测试技术、测试系统软硬件技术等现有技术的进展而发展的，随着集成电路的日益复杂和高性能需求，测试设备需要不断提升测试能力和稳定性以满足芯片制造的要求。同时，稳定性分析技术的发展也有助于确保测试设备的长期可靠性和性能一致性，提高测试结果的可信度和准确性。因此，对于集成电路测试设备稳定性分析方法的研究还是至关重要的。集成电路测试设备稳定性分析包括以下几个方面：

2、(1)长期稳定性测试：通过长时间运行测试设备并监测其性能表现，评估测试设备在长期使用过程中是否存在性能波动或漂移情况；

3、(2)环境适应性测试：将测试设备置于不同温湿度条件下进行测试，并监测设备的性能表现和响应，通过对测试数据的比较与分析，确定设备在不同环境下的安全性与稳定性；

4、(3)电源稳定性测试：对测试设备的电源进行稳定性检测，包括检测电源电压、电流的稳定性以及功率因素等，通过监测与记录电源的相关参数，并将设备性能与测试结果进行对比分析，评估设备电源对设备稳定性的影响；

5、(4)定期校准与维护：检查设备的各项功能和性能是否与标准规范一致，并进行必要的校准调整，维护清洁设备、更换耗材与零部件、进行预防性维护等，定期校准和维护可以确保设备的性能和稳定性得到维持，并减少故障和不准确结果的发生。

6、上述方法的实施需要综合测试设备的特性、生产环境的要求以及质量管理体系的要求，通过采用上述方法并结合数据分析和评估，提高测试设备的稳定性，并保证设备测试结果的准确性和一致性。

7、如文献《利用python对集成电路测试数据进行可视化分析》(张鹏辉,章慧彬.电子与封装,2018(a1):53-59.)公开了一种利用python对集成电路测试数据进行可视化分析的方法,对比目前集成电路测试领域常见的数据分析方法,可应用于多种测试系统输出的数据文件,得出初步的直观分析结果,在集成电路测试领域具有明显的技术进步意义。但其仍存在不充分的长期稳定性测试的问题，现有的测试方法没有充足的长期测试来验证设备的稳定性，只能进行有限的测试时间，导致对测试设备长期稳定性的评估不准确。

技术实现思路

1、本发明的技术方案用于解决现有的集成电路测试设备缺乏长期检测及测试的问题。

2、本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的：

3、一种集成电路测试设备稳定性分析方法，包括：

4、s1、采集集成电路测试设备的测试数据；

5、s2、对测试数据进行预处理，通过去除测试异常数据与处理缺失测试数据获取完整数据集；

6、s3、对测试数据进行分组并编号；

7、s4、定义合格区间并对每组测试数据进行合格性判断，判断测试数据是否在预设的合格区间范围内；

8、s5、统计不合格测试数据数量；

9、s6、设置阈值并对测试数据进行报警检测；

10、s7、输出报警信息。

11、进一步地，s2中所述处理缺失测试数据的方法为中位数填充。

12、进一步地，s3中所述对测试数据进行分组并编号的方法如下：

13、s31、将每列测试数据以多个数据点为一组进行分组；

14、s32、对每列测试数据及和每组测试数据进行编号。

15、进一步地，s4中所述定义合格区间并对每组测试数据进行合格性判断，判断测试数据是否在预设的合格区间范围内的方法如下：

16、s41、定义合格测试数据区间；

17、s42、若该组测试数据位于定义的合格区间内，则判断为合格测试数据；若该组测试数据超出定义的合格区间，则判断为不合格测试数据。

18、进一步地，s5中所述统计不合格测试数据数量的方法如下：

19、s51、循环每一列测试数据，初始化不合格测试数据的组号及起始索引；

20、s52、循环每一组测试数据，对每组测试数据从起始索引计算至结束索引，获取存在不合格测试数据的组号及不合格测试数据的数量。

21、进一步地，s6中所述设置阈值并对测试数据进行报警检测的方法如下：

22、s61、定义报警阈值；

23、s62、若某一组中不合格测试数据的数量超过定义的阈值时，触发报警，若某一组中不合格数据的数量未超过定义的阈值时，不触发报警。

24、进一步地，s7中所述输出报警信息包括：输出对应测试数据的列数、不合格测试数据的组号、不合格测试数据的数量。

25、进一步地，s7中所述输出报警信息的方法如下：

26、s71、定义报警列表用于存储报警信息，初始化报警列表；

27、s72、若触发报警，将报警信息添加到报警列表中；若未触发报警，循环下一组测试数据；直至循环结束，输出报警列表。

28、一种集成电路测试设备稳定性分析系统，包括：数据采集模块、数据预处理模块、数据分组模块、数据合规性判断模块、不合格数据统计模块、数据报警检测模块、报警信息输出模块；

29、所述数据采集模块用于采集集成电路测试设备的测试数据；

30、所述数据预处理模块用于对测试数据进行预处理，通过去除测试异常数据与处理缺失测试数据获取完整数据集；

31、所述数据分组模块用于对测试数据进行分组并编号；

32、所述数据合规性判断模块用于定义合格区间并对每组测试数据进行合格性判断，判断测试数据是否在预设的合格区间范围内；

33、所述不合格数据统计模块用于统计不合格测试数据数量；

34、所述数据报警检测模块用于设置阈值并对测试数据进行报警检测；

35、所述报警信息输出模块用于输出报警信息。

36、进一步地，所述数据预处理模块中处理缺失测试数据的方法为中位数填充。

37、本发明的优点在于：通过按列读取采集的测试数据并将数据按照一定规则分组，通过对每组数据进行合格性判断，统计不合格数据的数量，根据设定的阈值进行报警检测，具有以下优点：

38、(1)实现对测试数据的智能处理和异常检测，提高测试设备稳定性的检测效率；

39、(2)根据多维度数据分析，考虑多个测试参数、多个时间点的数据来评估设备的稳定性；

40、(3)在设备运行时实时获取和处理测试数据并及时发出警报，有助于及时发现设备稳定性的问题，并采取措施进行调整和修复，提高测试设备的稳定性评估能力，确保测试结果的准确性和稳定性。

技术特征：

1.一种集成电路测试设备稳定性分析方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试设备稳定性分析方法，其特征在于，s2中所述处理缺失测试数据的方法为中位数填充。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试设备稳定性分析方法，其特征在于，s3中所述对测试数据进行分组并编号的方法如下：

4.根据权利要求3所述的一种集成电路测试设备稳定性分析方法，其特征在于，s4中所述定义合格区间并对每组测试数据进行合格性判断，判断测试数据是否在预设的合格区间范围内的方法如下：

5.根据权利要求4所述的一种集成电路测试设备稳定性分析方法，其特征在于，s5中所述统计不合格测试数据数量的方法如下：

6.根据权利要求5所述的一种集成电路测试设备稳定性分析方法，其特征在于，s6中所述设置阈值并对测试数据进行报警检测的方法如下：

7.根据权利要求6所述的一种集成电路测试设备稳定性分析方法，其特征在于，s7中所述输出报警信息包括：输出对应测试数据的列数、不合格测试数据的组号、不合格测试数据的数量。

8.根据权利要求7所述的一种集成电路测试设备稳定性分析方法，其特征在于，s7中所述输出报警信息的方法如下：

9.一种集成电路测试设备稳定性分析系统，其特征在于，包括：数据采集模块、数据预处理模块、数据分组模块、数据合规性判断模块、不合格数据统计模块、数据报警检测模块、报警信息输出模块；

10.根据权利要求9所述的一种集成电路测试设备稳定性分析系统，其特征在于，所述数据预处理模块中处理缺失测试数据的方法为中位数填充。

技术总结
一种集成电路测试设备稳定性分析方法及系统，属于集成电路测试技术领域，解决现有的集成电路测试设备缺乏长期检测及测试的问题；采集集成电路测试设备的测试数据，对测试数据进行预处理，通过去除测试异常数据与处理缺失测试数据获取完整数据集，对测试数据进行分组并编号，定义合格区间并对每组测试数据进行合格性判断，判断测试数据是否在预设的合格区间范围内，统计不合格测试数据数量，设置阈值并对测试数据进行报警检测，输出报警信息；提高测试设备的稳定性评估能力，确保测试结果的准确性和稳定性。

技术研发人员：詹文法,胡心怡,潘盼,章礼华,吴兆旺,郑江云,蔡雪原,张庆平,余储贤,郝凯明
受保护的技术使用者：安庆师范大学
技术研发日：
技术公布日：2024/1/16