本发明涉及燃料电池设计的,尤其是涉及一种膜电极边框耐久评价方法、装置和电子设备。
背景技术:
1、膜电极边框对催化剂涂覆膜(catalyst-coated membrane,ccm)起到支撑和密封作用,便于生产设备对ccm的操作,并和极板一起构筑水、气通道,膜电极边框的耐久性直接影响膜电极的性能。
2、随着电堆的容量不断变大,对温度和压力的要求不断的提高,高温高压下的树脂会变得更加柔软且不稳定,边框的厚度容易发生变化,同时电堆容量的变大使得边框厚度公差的不可操作性逐步提高;然而在车辆行驶中,由于震动等不可抗因素影响,使得单片膜电极的均一性需求更高,因此当前膜电极边框的耐久评价无法满足实际应用要求。
技术实现思路
1、本发明的目的在于提供一种膜电极边框耐久评价方法、装置和电子设备,以缓解现有技术中膜电极边框的耐久评价无法满足实际应用要求的技术问题。
2、第一方面,本发明实施例提供了一种膜电极边框耐久评价方法,包括:
3、对膜电极边框进行耐久测试,分别获取所述膜电极边框在耐久测试前的第一厚度和耐久测试后的第二厚度;
4、基于所述第一厚度和所述第二厚度,确定所述膜电极边框的耐久厚度保持率;
5、根据所述膜电极边框的耐久厚度保持率,评价所述膜电极边框的耐久性。
6、结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式,其中,对膜电极边框进行耐久测试,分别获取所述膜电极边框在耐久测试前的第一厚度和耐久测试后的第二厚度的步骤,包括:
7、根据业务需求制备膜电极边框,测量所述膜电极边框的第一厚度;
8、对所述膜电极边框进行耐久测试,获得耐久测试后所述膜电极边框的第二厚度。
9、结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式,其中,根据业务需求制备膜电极边框,测量所述膜电极边框的第一厚度的步骤,包括:
10、通过压合方式制备符合业务需求的膜电极边框;
11、将所述膜电极边框的横向和纵向的目标位置分别选取预设数目的采样点,对每个所述采样点对应的所述膜电极边框的采样厚度进行测量;
12、基于每个所述采样厚度的平均值,确定所述膜电极边框的第一厚度。
13、结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式,其中,基于所述第一厚度和所述第二厚度,确定所述膜电极边框的耐久厚度保持率的步骤,包括:
14、基于所述膜电极边框在耐久测试后的第二厚度和耐久测试前的第一厚度的比值,确定所述膜电极边框的耐久厚度保持率。
15、结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第四种可能的实施方式,其中,根据业务需求制备膜电极边框,测量所述膜电极边框的第一厚度的步骤,包括:
16、通过压合方式制备符合业务需求的膜电极边框;
17、将所述膜电极边框的横向和纵向的目标位置分别选取预设数目的采样点,对每个所述采样点对应的所述膜电极边框的第一厚度进行测量,确定所述膜电极边框的第一厚度。
18、结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第五种可能的实施方式,其中,基于所述第一厚度和所述第二厚度,确定所述膜电极边框的耐久厚度保持率的步骤,包括:
19、根据所述膜电极边框的横向和/或纵向每个采样点对应的第二厚度和第一厚度的比值,得到横向和/或纵向每个采样点的厚度保持率;
20、基于横向和/或纵向所述每个采样点的厚度保持率,确定所述膜电极边框的横向和/或纵向的厚度保持率平均值和标准偏差。
21、结合第一方面,本发明实施例提供了第一方面的第六种可能的实施方式,其中,根据所述膜电极边框的耐久厚度保持率,评价所述膜电极边框的耐久性的步骤,包括:
22、基于横向和/或纵向的所述厚度保持率平均值与预设厚度保持率阈值的比对结果,以及横向和/或纵向的所述标准偏差与预设标准偏差阈值的比对结果,评价所述膜电极边框的耐久性。
23、第二方面,本发明实施例还提供一种膜电极边框耐久评价装置,包括:
24、获取模块,对膜电极边框进行耐久测试,分别获取所述膜电极边框在耐久测试前的第一厚度和耐久测试后的第二厚度;
25、确定模块,基于所述第一厚度和所述第二厚度,确定所述膜电极边框的耐久厚度保持率;
26、评价模块,根据所述膜电极边框的耐久厚度保持率,评价所述膜电极边框的耐久性。
27、第三方面,实施例提供一种电子设备,包括存储器、处理器,所述存储器中存储有可在所述处理器上运行的计算机程序,所述处理器执行所述计算机程序时实现上述前述实施方式任一项所述的方法的步骤。
28、第四方面,实施例提供一种机器可读存储介质,所述机器可读存储介质存储有机器可执行指令,所述机器可执行指令在被处理器调用和执行时,机器可执行指令促使处理器实现前述实施方式任一项所述的方法的步骤。
29、本发明实施例带来了一种膜电极边框耐久评价方法、装置和电子设备,可通过对膜电极边框耐久测试之前的第一厚度以及耐久测试之后的第二厚度分别进行测量,并将第二厚度与第一厚度进行计算确定出能够表征膜电极边框耐久前后状态变化的耐久厚度保持率,基于该耐久厚度保持率能够对膜电极边框的耐久性进行评价,简单精准地从电池开发设计阶段即可避免膜电极边框均一性差导致的整堆性能低的问题。
30、本发明的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点在说明书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
31、为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
1.一种膜电极边框耐久评价方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对膜电极边框进行耐久测试,分别获取所述膜电极边框在耐久测试前的第一厚度和耐久测试后的第二厚度的步骤,包括:
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据业务需求制备膜电极边框,测量所述膜电极边框的第一厚度的步骤,包括:
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,基于所述第一厚度和所述第二厚度,确定所述膜电极边框的耐久厚度保持率的步骤,包括:
5.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,根据业务需求制备膜电极边框,测量所述膜电极边框的第一厚度的步骤,包括:
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,基于所述第一厚度和所述第二厚度,确定所述膜电极边框的耐久厚度保持率的步骤,包括:
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,根据所述膜电极边框的耐久厚度保持率,评价所述膜电极边框的耐久性的步骤,包括:
8.一种膜电极边框耐久评价装置,其特征在于,包括:
9.一种电子设备,其特征在于,包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并且能够在所述处理器上运行的程序,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1至7中任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述可读存储介质中存储有计算机程序,所述计算机程序被执行时实现权利要求1-7中任意一项所述的方法。