全键盘按键压力测试设备的制作方法

本发明涉及键盘测试设备，尤其是涉及一种全键盘按键压力测试设备。

背景技术：

1、随着科技的进步和现代电子技术的发展，人们对于按键输入的需求已经无法通过传统电脑键盘来满足。多功能的人机交互体验能够满足用户定制化的输入需求，因而带有压力感应的键盘正在得到越来越多的用户青睐。压力键盘相比传统键盘，具有了感应压力的能力，能够将用户手指传递到按键上的压力转变成不同程度的信号，让电子设备的输入形式变得更加多样。压力键盘的测试和校准的设备不同于传统键盘的测试设备，其压力施加过程和信号采集过程都需要较长的时间，这给压力键盘测试设备提出了挑战。

2、现有的键盘测试设备功能比较单一，不能兼具测试按键行程、按键阻值、按键压力的功能。针对具有压力功能的键盘测试，需要对产品应用过程中的整个压力范围进行信号收集，目前的测试设备往往使用固定配重施加压力，无法满足现有的测试量程。此外受限于空间，现有设备主要是使用单个测头进行全键盘的测试，影响测试效率，且设备体积大，占用厂房空间。还有的设备使用多个测头进行全键盘测试，但是驱动模组使用的是同步带，影响定位精度。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种全键盘按键压力测试设备，以缓解现有键盘测试设备测试效率低以及定位精度差的问题。

2、为了解决上述技术问题，本发明提供的技术方案在于：

3、一种全键盘按键压力测试设备，包括：变距测试模组机构，所述变距测试模组机构包括安装于底板的多个变距测试模组以及与所述变距测试模组一一对应设置的测头模组；

4、所述变距测试模组包括第一驱动装置和第二驱动装置，所述测头模组安装于所述第二驱动装置，所述第二驱动装置设置在所述第一驱动装置上，所述第一驱动装置用于调整所述测头模组在x方向上的位置，所述第二驱动装置用于调整所述测头模组在y方向上的位置；

5、所述测头模组包括升降装置以及用于测试的测头，所述升降装置与所述测头连接，用于调整所述测头在z方向上的位置。

6、更进一步的，

7、所述底板安装有导向轴固定板，所述变距测试模组还包括丝杠模组底座，所述丝杠模组底座连接于所述底板,所述第一驱动装置包括设置于所述丝杠模组底座与所述导向轴固定板之间的导向结构和调节结构。

8、更进一步的，

9、所述导向结构包括衬套和导向轴，所述衬套设置于所述丝杠模组底座的穿孔，所述导向轴穿设于所述衬套。

10、更进一步的，

11、所述调节结构包括调节螺栓，所述调节螺栓连接于所述丝杠模组底座和所述导向轴固定板之间。

12、更进一步的，

13、所述导向轴固定板设置有用于对所述调节螺栓在x方向上限位的限位槽。

14、更进一步的，

15、所述第二驱动装置包括电机和丝杠模组，所述丝杠模组安装于所述丝杠模组底座，所述丝杠模组连接有所述测头模组，所述电机与所述丝杠模组传动连接，所述电机驱动所述丝杠模组沿y方向运动。

16、更进一步的，

17、所述丝杠模组连接有滑块底座，所述滑块底座安装有测头模组固定块，所述升降装置设置于所述测头模组固定块。

18、更进一步的，

19、所述升降装置包括导轨、压力传感器固定块和压力传感器，所述导轨设置于所述测头模组固定块，所述压力传感器固定块与所述导轨滑动连接，所述压力传感器一端与所述压力传感器固定块连接，另一端与所述测头连接。

20、更进一步的，

21、所述测头模组固定块与所述压力传感器固定块之间设置有预紧弹簧，所述预紧弹簧呈压缩状态以施加给所述测头一预紧力。

22、更进一步的，

23、所述测头模组固定块安装有提升气缸，所述提升气缸与所述压力传感器固定块连接，用于将所述测头在z方向上提升至避让高度。

24、本发明至少带来了以下有益效果：

25、由于本发明提供了一种全键盘按键压力测试设备，包括：变距测试模组机构，所述变距测试模组机构包括安装于底板的多个变距测试模组以及与所述变距测试模组一一对应设置的测头模组；所述变距测试模组包括第一驱动装置和第二驱动装置，所述测头模组安装于所述第二驱动装置，所述第二驱动装置设置在所述第一驱动装置上，所述第一驱动装置用于调整所述测头模组在x方向上的位置，所述第二驱动装置用于调整所述测头模组在y方向上的位置；所述测头模组包括升降装置以及用于测试的测头，所述升降装置与所述测头连接，用于调整所述测头在z方向上的位置。

26、变距测试模组机构包括多个变距测试模组，每个变距测试模组一一对应设置测头，因而可以同时通过多个测头进行全键盘的测试，提高了测试效率。进行全键盘按键压力测试前，首先依据被测键盘的按键行距，通过第一驱动装置调整多个测头在x方向上的间距。然后依据被测键盘每行按键在y方向上的间距，编写控制程序并导入全键盘按键压力测试设备。进行全键盘按键压力测试时，第二驱动装置能够根据控制程序实时调节测头在y方向上的位置，调节到位后升降装置控制测头在z方向上的高度并进行变距测试，从而快速高效的完成全键盘按键压力测试。变距测试模组使用丝杠模组控制测头的运动，提高了定位精度。

27、为使本发明的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

技术特征：

1.一种全键盘按键压力测试设备，其特征在于，包括：变距测试模组机构，所述变距测试模组机构包括安装于底板的多个变距测试模组以及与所述变距测试模组一一对应设置的测头模组；

2.根据权利要求1所述的全键盘按键压力测试设备，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的全键盘按键压力测试设备，其特征在于，

4.根据权利要求2所述的全键盘按键压力测试设备，其特征在于，

5.根据权利要求4所述的全键盘按键压力测试设备，其特征在于，

6.根据权利要求2所述的全键盘按键压力测试设备，其特征在于，

7.根据权利要求6所述的全键盘按键压力测试设备，其特征在于，

8.根据权利要求7所述的全键盘按键压力测试设备，其特征在于，

9.根据权利要求8所述的全键盘按键压力测试设备，其特征在于，

10.根据权利要求8所述的全键盘按键压力测试设备，其特征在于，

技术总结
本发明涉及键盘测试设备技术领域，尤其是涉及一种全键盘按键压力测试设备。包括：变距测试模组机构，变距测试模组机构包括安装于底板的多个变距测试模组以及与变距测试模组一一对应设置的测头模组；变距测试模组包括第一驱动装置和第二驱动装置，测头模组安装于第二驱动装置，第二驱动装置设置在第一驱动装置上，第一驱动装置用于调整测头模组在X方向上的位置，第二驱动装置用于调整测头模组在Y方向上的位置；测头模组包括升降装置以及用于测试的测头，升降装置与测头连接，用于调整测头在Z方向上的位置。本发明提供的全键盘按键压力测试设备同时通过多个测头进行全键盘的测试，提高了测试效率，且提高了定位精度。

技术研发人员：李泽峰,唐家骏,张炯斌,孙淑萍,杨朴
受保护的技术使用者：湃瑞电子科技（苏州）有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/2/1