一种毫米波芯片测试平台的制作方法

本发明属于芯片，具体涉及一种毫米波芯片测试平台。

背景技术：

1、集成电路英语，缩写作 ic；或称微电路（microcircuit）、微芯片（microchip）、晶片/芯片（chip）在电子学中是一种将电路（主要包括半导体设备，也包括被动组件等）小型化的方式，并时常制造在半导体晶圆表面上，2023年4月，国际科研团队首次将能发射纠缠光子的量子光源完全集成在一块芯片上。

2、在电子电器以及智能设备、家具方面，毫米波芯片都是不可缺少的智能控制装置以及控制中枢，且毫米波芯片的生产需要严格的检测才可以投入使用，检测步骤包括功能测试、尺寸测试、使用测试等等，但上述步骤的测试在目前检测中，需要一个甚至多个装置对其进行检测，这不仅会导致多个装置的放置面积占用过大，且多个装置所需的成本较大，影响芯片检测的整体成本。

技术实现思路

1、本发明的目的在于提供一种毫米波芯片测试平台，旨在解决现有技术中在目前检测中，需要一个甚至多个装置对其进行检测，这不仅会导致多个装置的放置面积占用过大，且多个装置所需的成本较大，影响芯片检测的整体成本的问题。

2、为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

3、一种毫米波芯片测试平台，包括

4、顶板，所述顶板的下端固定连接有多个连接杆，多个所述连接杆的下端固定连接有底板；

5、两个检测板，两个所述检测板均固定连接于多个连接杆的圆周表面；

6、两个移动槽，两个所述移动槽分别开设于两个检测板的上端；

7、连接板，所述连接板滑动设于其中一个移动槽内；

8、啮合槽，所述啮合槽开设于顶板的上端，且啮合槽的一侧内壁开设有放置槽，所述放置槽内固定连接有第二电机；

9、齿轮，所述齿轮通过转轴转动连接于啮合槽内，且齿轮和第二电机的输出端固定连接；

10、齿条，所述齿条滑动设于啮合槽内，且齿条与齿轮相啮合；

11、丝杆，所述丝杆通过轴承转动连接于齿条的一端，且丝杆的圆周表面螺纹连接有丝杆螺母；

12、以及连接架，所述连接架固定连接于丝杆螺母的两端，且连接架的下端固定连接有检测探针。

13、作为本发明一种优选的方案，所述顶板的下端开设有带动槽，所述带动槽的一侧内壁固定连接有防滑杆，所述防滑杆的圆周表面滑动连接有带动块，所述丝杆转动连接于带动块的一端，所述带动块的一端固定连接有第一电机，所述第一电机的输出端与丝杆的一端固定连接。

14、作为本发明一种优选的方案，所述丝杆螺母的下端固定连接有防转块，所述带动块的一端固定连接有防转杆，所述防转块滑动连接于防转杆的圆周表面，所述防转杆的一端固定连接有限位板。

15、作为本发明一种优选的方案，所述顶板的一端固定连接有l杆，所述齿条的一端开设有防坠槽，且齿条通过防坠槽滑动连接于l杆的外表面，所述防坠槽的上下两侧内壁均开设有稳定槽，所述l杆的上下两端均固定连接有加强块，两个所述加强块分别滑动连接于两个稳定槽内。

16、作为本发明一种优选的方案，所述连接板的上端开设有置于槽，所述置于槽的内壁固定连接有多个接电块，所述连接板的上端固定连接有组装壳，所述组装壳的下内壁固定连接有定位弹簧和垂直杆，所述定位弹簧的上端固定连接有定位板，所述定位板滑动连接于垂直杆的圆周表面，所述垂直杆的上端固定连接有防坏板，所述定位板的上端固定连接有握把。

17、作为本发明一种优选的方案，所述连接板的一端固定连接有对接块，所述对接块和底板的一端均固定连接有连接壳，两个连接壳的相靠近端均固定连接有多个联结板，多个所述联结板的相靠近端固定连接有两个电动导轨，多个所述电动导轨的圆周表面均滑动连接有导块，多个所述导块的相靠近端通过转轴转动连接有两个铰接杆，两个所述铰接杆之间通过转轴转动连接。

18、作为本发明一种优选的方案，所述底板的一端固定连接有安装板，所述安装板的上端固定连接有伸缩杆，所述伸缩杆的上端固定连接有定位套，所述定位套内滑动连接有滑动杆，所述滑动杆的下端固定连接有摄像头。

19、作为本发明一种优选的方案，所述定位套的两侧内壁均固定连接有防掉块，所述滑动杆的两端均开设有防掉槽，且滑动杆通过两个防掉槽分别滑动连接于两个防掉块的外表面。

20、作为本发明一种优选的方案，所述滑动杆的一端开设有多个定位槽，所述防掉块和定位套的一端开设有其中一个定位槽，所述定位套的一端固定连接有两个回缩弹簧，两个所述回缩弹簧的一端固定连接有回弹板，所述回弹板的一端固定连接有定位杆，所述定位杆活动插接于其中一个定位槽内。

21、作为本发明一种优选的方案，所述回弹板的一端开设有两个垂直槽，所述定位套的一端固定连接有两个水平杆，两个所述水平杆的一端均固定连接有防离板，所述回弹板通过两个垂直槽分别滑动连接于两个水平杆的圆周表面。

22、与现有技术相比，本发明的有益效果是：

23、1、在需要对芯片进行测试时，可以将其放置于置于槽内，而后通过齿条的移动或丝杆螺母的移动，便可以带动连接架以及其下端固定连接的检测探针横向或者竖向移动，进而通过检测探针便可以对芯片的各个电极以及功能区进行探测，从而探测出芯片的供电是否正常，进而提高芯片的检测便捷性。

24、2、在需要对芯片的功能进行检测时，可以使多个接电块和芯片接触并电性连接，并通过外部与接电块电性连接的设备对芯片的各个功能进行检测，从而提高芯片功能的检测便捷性。

25、3、在需要对芯片的尺寸以及外观进行检测时，可以将连接板滑动至其中一个检测板内，而后通过滑动杆下端设置的摄像头对芯片进行扫描和拍摄，从而检测芯片的尺寸以及外观，进一步提高芯片的检测便捷性。

技术特征：

1.一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述顶板（1）的下端开设有带动槽（116），所述带动槽（116）的一侧内壁固定连接有防滑杆（118），所述防滑杆（118）的圆周表面滑动连接有带动块（117），所述丝杆（110）转动连接于带动块（117）的一端，所述带动块（117）的一端固定连接有第一电机（109），所述第一电机（109）的输出端与丝杆（110）的一端固定连接。

3.根据权利要求2所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述丝杆螺母（111）的下端固定连接有防转块（112），所述带动块（117）的一端固定连接有防转杆（113），所述防转块（112）滑动连接于防转杆（113）的圆周表面，所述防转杆（113）的一端固定连接有限位板。

4.根据权利要求3所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述顶板（1）的一端固定连接有l杆（106），所述齿条（104）的一端开设有防坠槽（107），且齿条（104）通过防坠槽（107）滑动连接于l杆（106）的外表面，所述防坠槽（107）的上下两侧内壁均开设有稳定槽，所述l杆（106）的上下两端均固定连接有加强块（108），两个所述加强块（108）分别滑动连接于两个稳定槽内。

5.根据权利要求4所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述连接板的上端开设有置于槽（206），所述置于槽（206）的内壁固定连接有多个接电块（207），所述连接板的上端固定连接有组装壳（208），所述组装壳（208）的下内壁固定连接有定位弹簧（209）和垂直杆（212），所述定位弹簧（209）的上端固定连接有定位板（210），所述定位板（210）滑动连接于垂直杆（212）的圆周表面，所述垂直杆（212）的上端固定连接有防坏板（213），所述定位板（210）的上端固定连接有握把（211）。

6.根据权利要求5所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述连接板的一端固定连接有对接块（305），所述对接块（305）和底板（101）的一端均固定连接有连接壳（3），两个连接壳（3）的相靠近端均固定连接有多个联结板（301），多个所述联结板（301）的相靠近端固定连接有两个电动导轨（302），多个所述电动导轨（302）的圆周表面均滑动连接有导块（303），多个所述导块（303）的相靠近端通过转轴转动连接有两个铰接杆（304），两个所述铰接杆（304）之间通过转轴转动连接。

7.根据权利要求6所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述底板（101）的一端固定连接有安装板（2），所述安装板（2）的上端固定连接有伸缩杆（201），所述伸缩杆（201）的上端固定连接有定位套（203），所述定位套（203）内滑动连接有滑动杆（202），所述滑动杆（202）的下端固定连接有摄像头（205）。

8.根据权利要求7所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述定位套（203）的两侧内壁均固定连接有防掉块，所述滑动杆（202）的两端均开设有防掉槽，且滑动杆（202）通过两个防掉槽分别滑动连接于两个防掉块的外表面。

9.根据权利要求8所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述滑动杆（202）的一端开设有多个定位槽（204），所述防掉块和定位套（203）的一端开设有其中一个定位槽（204），所述定位套（203）的一端固定连接有两个回缩弹簧（215），两个所述回缩弹簧（215）的一端固定连接有回弹板（214），所述回弹板（214）的一端固定连接有定位杆（218），所述定位杆（218）活动插接于其中一个定位槽（204）内。

10.根据权利要求9所述的一种毫米波芯片测试平台，其特征在于，所述回弹板（214）的一端开设有两个垂直槽，所述定位套（203）的一端固定连接有两个水平杆（216），两个所述水平杆（216）的一端均固定连接有防离板（217），所述回弹板（214）通过两个垂直槽分别滑动连接于两个水平杆（216）的圆周表面。

技术总结
本发明提供一种毫米波芯片测试平台，属于芯片技术领域，该毫米波芯片测试平台包括顶板，顶板的下端固定连接有多个连接杆，多个连接杆的下端固定连接有底板，两个检测板，两个检测板均固定连接于多个连接杆的圆周表面，在需要对芯片进行测试时，可以将其放置于置于槽内，而后通过齿条的移动或丝杆螺母的移动，便可以带动连接架以及其下端固定连接的检测探针横向或者竖向移动，进而通过检测探针便可以对芯片的各个电极以及功能区进行探测，从而探测出芯片的供电是否正常，进而提高芯片的检测便捷性。

技术研发人员：胡强,曾力,李松林,李峰
受保护的技术使用者：成都圣芯集成电路有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15