本发明涉及地质勘探,特别涉及一种勘探地形校正方法。
背景技术:
1、在地质勘探技术领域,有很多技术都可以进行地质勘探,比如通过重力探测、通过超声波探测、通过电磁电阻探测等等,也有很多对这些探测技术进行校正的技术方案,比如现有专利cn103064124a公开的一种校正电磁勘探中地形影响的比值方法,现有专利cn101526616b公开的多波束声纳回波图像地形校正方法等。
2、但是现有的勘探地形的校正基本都是对勘探方法本身的方法算法进行校正,不能广泛的应用在多种探测方案中,而且计算复杂。
技术实现思路
1、本发明实施例提供了一种勘探地形校正方法,用以解决现有技术中勘探地形的校正方法算法计算复杂,不能广泛的应用在多种探测方案中的问题。
2、一方面,本发明实施例提供了一种勘探地形校正方法,包括:
3、根据实测地形数据建立剖面模型;
4、根据探测需求设置探测误差阈值;
5、通过连续性检测所述剖面模型获得连续性检测结果;
6、根据所述连续性检测结果和所述探测误差阈值获得地形断层数据;
7、通过重新勘探校正所述地形断层数据获得最终剖面模型。
8、在一种可能的实现方式中,所述实测地形数据通过对已经测得的地形数据进行网点采样获取。
9、在一种可能的实现方式中,所述剖面模型有纵向剖面模型和横向剖面模型,所述纵向剖面模型根据所述网点采样的纵向采样数据建立,所述横向剖面模型根据所述网点采样的横向采样数据建立。
10、在一种可能的实现方式中,所述剖面模型的建立包括:
11、将所述网点采样的采样点距离作为固定横坐标间隔;
12、将地面数据的起始海拔高度写为零值;
13、将横坐标值对应的网点采样的采样数据加载在所述零值上得纵坐标值;
14、根据所述横坐标值和纵坐标值绘制剖面模型。
15、在一种可能的实现方式中,所述探测需求包括精度需求和所述网点采样的采样间隔数据。
16、在一种可能的实现方式中,所述连续性检测是检测构建所述剖面模型的相邻探测点的地形数据之间的差值。
17、在一种可能的实现方式中,所述根据所述连续性检测结果和所述探测误差阈值获得地形断层数据是根据比较法获取。
18、在一种可能的实现方式中,所述通过重新勘探校正所述地形断层数据获得最终剖面模型是通过所述重新勘探确认所述地形断层数据真实性,然后根据所述地形断层数据真实性和所述重新勘探获得的地形数据修正剖面模型获得最终剖面模型。
19、在一种可能的实现方式中,在获得所述最终剖面模型之前还包括获得纵向最终剖面模型和横向最终剖面模型,所述纵向最终剖面模型根据所述地形断层数据真实性和所述重新勘探获得的地形数据修正所述纵向剖面模型获得,所述横向最终剖面模型根据所述地形断层数据真实性和所述重新勘探获得的地形数据修正所述横向剖面模型获得。
20、在一种可能的实现方式中,所述最终剖面模型是通过所述纵向最终剖面模型的集合和所述横向剖面模型的集合叠加获得。
21、本发明中的一种勘探地形校正方法,具有以下优点:
22、(1)检测方法简单,泛用性强,能快速检验校正地形的勘探结果。
23、(2)设备兼容性高,能根据检测需求和设备需求灵活调整检测校正难度。
1.一种勘探地形校正方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的一种勘探地形校正方法,其特征在于,所述实测地形数据通过对已经测得的地形数据进行网点采样获取。
3.根据权利要求2所述的一种勘探地形校正方法,其特征在于,所述剖面模型有纵向剖面模型和横向剖面模型,所述纵向剖面模型根据所述网点采样的纵向采样数据建立,所述横向剖面模型根据所述网点采样的横向采样数据建立。
4.根据权利要求3所述的一种勘探地形校正方法,其特征在于,所述剖面模型的建立包括:
5.根据权利要求2所述的一种勘探地形校正方法,其特征在于,所述探测需求包括精度需求和所述网点采样的采样间隔数据。
6.根据权利要求1所述的一种勘探地形校正方法,其特征在于,所述连续性检测是检测构建所述剖面模型的相邻采样点的地形数据之间的差值。
7.根据权利要求1所述的一种勘探地形校正方法,其特征在于,所述根据所述连续性检测结果和所述探测误差阈值获得地形断层数据是根据比较法获取。
8.根据权利要求3所述的一种勘探地形校正方法,其特征在于,所述通过重新勘探校正所述地形断层数据获得最终剖面模型是通过所述重新勘探确认所述地形断层数据真实性,然后根据所述地形断层数据真实性和所述重新勘探获得的地形数据修正剖面模型获得最终剖面模型。
9.根据权利要求8所述的一种勘探地形校正方法,其特征在于,在获得所述最终剖面模型之前还包括获得纵向最终剖面模型和横向最终剖面模型,所述纵向最终剖面模型根据所述地形断层数据真实性和所述重新勘探获得的地形数据修正所述纵向剖面模型获得,所述横向最终剖面模型根据所述地形断层数据真实性和所述重新勘探获得的地形数据修正所述横向剖面模型获得。
10.根据权利要求9所述的一种勘探地形校正方法,其特征在于,所述最终剖面模型是通过所述纵向最终剖面模型的集合和所述横向剖面模型的集合叠加获得。