一种消除光泽目标物多重反射的光学测量系统的制作方法

本发明涉及光学测量领域，更具体的，涉及一种消除光泽目标物多重反射的光学测量系统。

背景技术：

1、随着光学、图像处理和计算机技术的发展，3d线激光测量技术得到广泛应用。它利用工业相机拍摄得到相应的图像信息，并对图像进行一系列的处理，提取出所需要的信息，最终达到测量的目的。3d线激光测量技术是一种快速发展的非接触式测量，具有灵活性好、速度快、精度高以及智能化等优点。

2、但是3d线激光相机在拍摄凹凸复杂目标样品表面，尤其是光泽凹凸复杂样品表面时，容易在样品表面发生多重反射现象，产生杂散光，造成测量结果偏离真实样品轮廓。

技术实现思路

1、为了解决上述至少一个技术问题，本发明提出了一种消除光泽目标物多重反射的光学测量系统。

2、本发明第一方面提供了一种消除光泽目标物多重反射的光学测量系统，包括：

3、激光端，所述激光端的端部设置有波片，所述激光端发射线偏振光穿过波片转换为环形偏振光投射至样品表面；

4、接收端，所述接收端设置在所述激光端的一侧，所述接收端一侧设置有偏振片，圆偏振光经过样品表面进行多重折射后反射至偏振片；

5、所述偏振片进行特定光源遮挡后传输至接收端进行接收测试，得到样品轮廓。

6、本发明一个较佳实施例中，所述环形偏振光包括圆形偏振光或椭圆形偏振光，所述圆形偏振光与所述椭圆形偏振光分解为相互垂直的o光信号与e光信号，所述o光信号的能量与所述e光信号的能量相同。

7、本发明一个较佳实施例中，所述激光端位于所述样品的正上方，所述o光信号的方向与所述e光信号的方向均与所述样品表面平行。

8、本发明一个较佳实施例中，所述偏振片设置在所述接收端的下方，所述偏振片能够旋转，所述偏振片旋转过程中用于调整所述偏振片与接收端的下表面之间的角度。

9、本发明一个较佳实施例中，所述偏振片与接收端的下表面之间的角度包括第一角度与第二角度，所述偏振片与所述接收端的下表面之间的角度为第一角度时，所述偏振片将e光信号遮挡，并允许o光信号通过；

10、所述偏振片与所述接收端的下表面之间的角度为第二角度时，所述偏振片将o光信号遮挡，并允许e光信号通过。

11、本发明一个较佳实施例中，所述激光端为两个时，所述激光端与所述接收端数量相同，所述激光端与所述接收端一一对应。

12、本发明一个较佳实施例中，所述偏振片包括o光偏振片与e光偏振片，其中一个所述接收端的下方设置有o光偏振片，另一个所述接收端的下方设置有e光偏振片，所述o光偏振片至只允许o光通过；

13、所述e光偏振片至只允许e光通过，o光遮挡。

14、本发明的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：

15、本发明提出一种消除光泽目标物多重反射的3d线激光相机，通过o光和e光对样品表面多重反射能量差，利用偏振片滤除能量差，有效减少杂散光干扰，提高检测精度。

技术特征：

1.一种消除光泽目标物多重反射的光学测量系统，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的消除光泽目标物多重反射的光学测量系统，其特征在于，所述环形偏振光包括圆形偏振光或椭圆形偏振光，所述圆形偏振光与所述椭圆形偏振光分解为相互垂直的o光信号与e光信号，所述o光信号的能量与所述e光信号的能量相同。

3.根据权利要求2所述的消除光泽目标物多重反射的光学测量系统，其特征在于,所述激光端位于所述样品的正上方，所述o光信号的方向与所述e光信号的方向均与所述样品表面平行。

4.根据权利要求3所述的消除光泽目标物多重反射的光学测量系统，其特征在于，所述偏振片设置在所述接收端的下方，所述偏振片能够旋转，所述偏振片旋转过程中用于调整所述偏振片与接收端的下表面之间的角度。

5.根据权利要求4所述的消除光泽目标物多重反射的光学测量系统，其特征在于，所述偏振片与接收端的下表面之间的角度包括第一角度与第二角度，所述偏振片与所述接收端的下表面之间的角度为第一角度时，所述偏振片将e光信号遮挡，并允许o光信号通过；

6.根据权利要求2或3所述的消除光泽目标物多重反射的光学测量系统，其特征在于，所述激光端为两个时，所述激光端与所述接收端数量相同，所述激光端与所述接收端一一对应。

7.根据权利要求6所述的消除光泽目标物多重反射的光学测量系统，其特征在于，所述偏振片包括o光偏振片与e光偏振片，其中一个所述接收端的下方设置有o光偏振片，另一个所述接收端的下方设置有e光偏振片，所述o光偏振片至只允许o光通过；

技术总结
本发明公开的一种消除光泽目标物多重反射的光学测量系统，包括激光端与接收端，激光端的端部设置有波片，激光端发射线偏振光穿过波片转换为环形偏振光投射至样品表面；接收端设置在所述激光端的一侧，接收端一侧设置有偏振片，圆偏振光经过样品表面进行多重折射后反射至偏振片；偏振片进行特定光源遮挡后传输至接收端进行接收测试，得到样品轮廓；通过o光和e光对样品表面多重反射能量差，利用偏振片滤除能量差，有效减少杂散光干扰，提高检测精度。

技术研发人员：赵效楠,李强,杜向丽,唐亮,郭晓峰
受保护的技术使用者：苏州中科行智智能科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15