本文涉及芯片技术,尤指一种芯片的测试方法和系统。
背景技术:
1、在芯片测试方案中,一种方案是采用专业设备进行芯片测试,例如,使用自动测试设备(auto test equipment,ate)对芯片的测试目标进行测试,由于芯片的功能各异,为匹配不同的芯片,ate的板卡设计较为复杂,测试成本高。另一种方案是采用软件测试,由于软件测试程序的编写较为复杂,且无法完全覆盖芯片的电路结构,测试效果不佳。鉴于上述情况,如何对芯片进行测试是亟待解决的问题。
技术实现思路
1、为了解决上述任一技术问题,本申请实施例提供了一种芯片的测试方法和系统。
2、为了达到本申请实施例目的,本申请实施例提供了一种芯片的测试系统,所述芯片具有测试电路,所述测试电路用于对所述芯片执行测试操作,所述系统包括:
3、输入接口,用于接收用于启动测试的启动命令;
4、所述测试电路,还用于根据所述启动命令,对所述芯片执行测试操作,得到测试结果;
5、输出接口,用于输出所述测试结果。
6、在一个示例性实施例中,所述测试电路包括用于存储测试数据的存储模块和用于执行测试操作的控制模块;其中:
7、所述存储模块,还用于存储所述芯片的测试数据;
8、所述控制模块,还用于根据所述存储模块的测试数据执行测试操作。
9、在一个示例性实施例中,所述存储模块存储的测试数据包括所述芯片中至少两个测试目标对应的测试数据;其中:
10、所述启动命令还包括当前测试操作的测试目标;
11、所述控制模块,用于根据所述启动命令,利用所述存储模块存储的测试数据中当前测试操作的测试目标对应的测试数据进行测试操作。
12、在一个示例性实施例中,所述系统还包括:
13、启动模块,与所述输入接口相连,被配置为发送启动命令。
14、在一个示例性实施例中,所述启动模块,与所述输出接口相连,被配置为在输出启动命令后,根据从所述输出接口接收到所述启动命令对应的测试结果,确定是否输出新的启动命令。
15、在一个示例性实施例中,所述启动模块,被配置为通过状态机、cpu、通用通信接口、芯片引脚中的一种或多种启动方式启动。
16、在一个示例性实施例中,所述输入接口和所述输出接口中至少一个为所述芯片中与所述测试电路相连的引脚。
17、在一个示例性实施例中,所述测试数据包括老化测试数据。
18、一种芯片的测试方法,应用于上文所述的系统,所述方法包括:
19、在接收到用于启动测试的启动命令后,根据所述启动命令,对所述芯片执行测试操作,得到测试结果;
20、输出所述测试结果。
21、在一个示例性实施例中,所述根据所述启动命令,对所述芯片执行测试操作,得到测试结果,包括:
22、获取所述启动命令中当前测试操作的测试目标;
23、根据所述启动命令,利用存储的测试数据中当前测试操作的测试目标对应的测试数据进行测试操作。
24、上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点或有益效果:
25、将原本用于芯片的设计和研发使用的测试电路用于芯片的测试操作,达到复用芯片内自带的测试电路的目的,避免了使用ate测试方案的复杂板卡和昂贵的测试设备,同时,基于该测试电路与芯片内的多个测试目标直接地或间接地相连,可以利用该测试电路更全面地对芯片内的元器件进行测试,解决了软件测试程序复杂和覆盖率不高的问题,从而在节约大量硬件成本的前提下还保证了测试的质量。
1.一种芯片的测试系统,其特征在于,所述芯片具有测试电路,所述测试电路用于对所述芯片执行测试操作,所述系统包括:
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述测试电路包括用于存储测试数据的存储模块和用于执行测试操作的控制模块;其中:
3.根据权利要求1所述的系统,其特征在于:
4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述系统还包括:
5.根据权利要求4所述的系统,其特征在于:
6.根据权利要求4所述的系统,其特征在于:
7.根据权利要求1所述的系统,其特征在于:
8.根据权利要求1至7任一项所述的系统,其特征在于,所述测试数据包括老化测试数据。
9.一种芯片的测试方法,其特征在于,应用于如权利要求1至8项任一所述的系统,所述方法包括:
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,所述根据所述启动命令,对所述芯片执行测试操作,得到测试结果,包括: