考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法与流程

本发明涉及电力绝缘子人工涂污，尤其涉及考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法。

背景技术：

1、绝缘子是电力系统中使用量最大的器件，绝缘子的积污特性及污秽闪络特性是影响其稳定运行的重要指标。因此，研究绝缘子的积污情况，对绝缘子进行污秽闪络试验，对于设计制造高性能绝缘子，保证电网安全稳定运行有极大的理论研究和工程实践意义。

2、进行污秽闪络等试验前需对绝缘子进行人工涂污，传统的人工污秽模拟方法采用氯化钠模拟导电物质，硅藻土或高岭土等模拟不导电物质，将二者混合后对绝缘子试品进行染污。但是，在不同地区，由于污染源的不同影响，绝缘子表面沉积的污秽类型有很大差异，不同污秽对污闪电压的影响是不同的，可见目前的方法不能准确反映现实线路中绝缘子的积污状态，得到的污闪特性也可能有所偏差。

技术实现思路

1、本发明的主要目的在于提供一种考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法，能够得到特定区域的污秽组成，准确配制出研究区域的典型污秽，以对绝缘子表面污秽进行人工模拟。

2、为实现上述目的，本申请提供一种考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法，所述方法包括：

3、选取待分析区域中污染源处的取样绝缘子，收集所述取样绝缘子的表面污秽物质；

4、收集所述污染源处的结构物表面覆盖的污秽物质；

5、对所述取样绝缘子的表面污秽物质进行等值盐密测试和灰密测试，获取污秽物质的质量区间；

6、对所述污染源处的结构物表面覆盖的污秽物质进行成分分析，获取污秽物质的组分比例；

7、根据所述污秽物质的质量区间和所述组分比例配制人工污秽，使用所述人工污秽对试验绝缘子染污处理。

8、可选的，所述选取待分析区域中污染源处的取样绝缘子，包括：

9、以所述待分析区域的污染源中心为起始点，基于采集最小范围，每隔第一距离选取一处绝缘子串，其中，选取的绝缘子的积污时间大于一个完整的饱和积污期。

10、可选的，所述收集所述污染源处的结构物表面覆盖的污秽物质，包括：

11、以所述待分析区域的污染源中心为起始点，基于所述采集最小范围，每隔第二距离选取一处结构物。

12、可选的，所述等值盐密测试，包括：

13、采用定量蒸馏水将所述取样绝缘子表面的污秽物全部清洗下来，充分溶解并搅拌后，测定获得的污液的溶液电导率，查出相应的等值含盐量；

14、根据所述取样绝缘子的表面积将所述等值含盐量换算为等值盐密。

15、可选的，所述灰密测试，包括：

16、将所述污液过滤后提取不溶物，干燥称重后获取灰的质量；

17、根据所述取样绝缘子的表面积将所述灰的质量换算为灰密。

18、可选的，所述根据所述污秽物质的质量区间，使用所述人工污秽对试验绝缘子染污处理，包括：

19、根据计算获得的等值盐密、灰密及试验绝缘子的表面积，计算出每只所述试验绝缘子所需的各种可溶性盐和不溶性灰的重量；

20、根据计算获得的重量，用天平称取所述所需的各种可溶性盐和不溶性灰进行混合后，加入糊精和水调匀，均匀涂刷在所述试验绝缘子表面。

21、可选的，所述对所述污染源处的结构物表面覆盖的污秽物质进行成分分析，包括：

22、对于可溶物采用离子色谱法进行成分分析；

23、对于不溶物采用元素分析和晶体检测的方法进行成分分析。

24、可选的，所述对于不溶物采用元素分析和晶体检测的方法进行成分分析，包括：

25、使用元素分析仪分析获得所述不溶物中的元素组分与含量，再通过x射线衍射仪获取所述不溶物的晶体结构，进而判断所述不溶物的类型和含量。

26、可选的，所述结构物包括但不限于以下任意一种或几种：

27、屋顶、窗台、水塔、管道、工厂设施。

28、可选的，所述取样绝缘子包括：

29、带电的悬式绝缘子、复合绝缘子、支柱绝缘子或绝缘套管。

30、本申请提供一种考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法，通过选取待分析区域中污染源处的取样绝缘子，收集所述取样绝缘子的表面污秽物质；收集所述污染源处的结构物表面覆盖的污秽物质；对所述取样绝缘子的表面污秽物质进行等值盐密测试和灰密测试，获取污秽物质的质量区间；对所述污染源处的结构物表面覆盖的污秽物质进行成分分析，获取污秽物质的组分比例；根据所述污秽物质的质量区间和所述组分比例配制人工污秽，使用所述人工污秽对试验绝缘子染污处理，可根据某一区域的污染源性质，针对性地对试品绝缘子进行人工染污，模拟试品在特定环境中的污秽特性，以便进行后续的污闪试验，提高试验的针对性和典型性，获取更精准的试验数据，为理论和技术研究提供支撑。

技术特征：

1.一种考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法，其特征在于，所述选取待分析区域中污染源处的取样绝缘子，包括：

3.根据权利要求2所述的考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法，其特征在于，所述收集所述污染源处的结构物表面覆盖的污秽物质，包括：

4.根据权利要求1所述的考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法，其特征在于，所述等值盐密测试，包括：

5.根据权利要求4所述的考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法，其特征在于，所述灰密测试，包括：

6.根据权利要求5所述的考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法，其特征在于，所述根据所述污秽物质的质量区间，使用所述人工污秽对试验绝缘子染污处理，包括：

7.根据权利要求1所述的考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法，其特征在于，所述对所述污染源处的结构物表面覆盖的污秽物质进行成分分析，包括：

8.根据权利要求7所述的考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法，其特征在于，所述对于不溶物采用元素分析和晶体检测的方法进行成分分析，包括：

9.根据权利要求1所述的考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法，其特征在于，所述结构物包括但不限于以下任意一种或几种：

10.根据权利要求1所述的考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法，其特征在于，所述取样绝缘子包括：

技术总结
本发明实施例公开了一种考虑污染源性质的绝缘子人工污秽模拟方法，该方法包括：选取待分析区域中污染源处的取样绝缘子，收集所述取样绝缘子的表面污秽物质；收集所述污染源处的结构物表面覆盖的污秽物质；对所述取样绝缘子的表面污秽物质进行等值盐密测试和灰密测试，获取污秽物质的质量区间；对所述污染源处的结构物表面覆盖的污秽物质进行成分分析，获取污秽物质的组分比例；根据所述污秽物质的质量区间和所述组分比例配制人工污秽，使用所述人工污秽对试验绝缘子染污处理，可根据某一区域的污染源性质，针对性地对试品绝缘子进行人工染污，模拟试品在特定环境中的污秽特性，以便进行后续准确的污闪试验等。

技术研发人员：曹俊,马御棠,周仿荣,马仪,耿浩,文刚,王国芳,柏兴山,邹玉才,秦红湖
受保护的技术使用者：云南电网有限责任公司电力科学研究院
技术研发日：
技术公布日：2024/2/19