测试系统的高压电源控制方法与流程

本发明涉及智能化控制，尤其涉及一种测试系统的高压电源控制方法。

背景技术：

1、在电子设备测试过程中，需要对被测器件施加不同的电压以模拟实际工作条件。高压电源是提供高电压输出的关键组件，它通常由电源模块和控制模块组成。电源模块负责将输入电源转换为所需的高压输出，而控制模块则负责监测和调节输出电压，以确保其在预定范围内稳定。

2、在测试过程中，输出电压的稳定性对测试结果的准确性和被测器件的安全性至关重要。然而，在测试过程中，由于各种因素的影响（例如电源本身的波动、电路噪声、负载变化等），输出电压可能会发生波动。如果波动在预定范围内，可以认为是正常现象。但如果输出电压波动过大或超出预定范围，可能会导致测试结果的误差或甚至损坏被测器件。

3、传统的高压电源控制方法通常采用反馈控制策略，通过对输出电压进行实时监测和调节，以维持其在预定范围内的稳定。然而，由于反馈环路的延迟和响应时间，这种方法在面对快速变化的电压需求或异常情况时可能反应较慢，无法及时调整输出电压，导致测试过程中出现不稳定或超出范围的电压波动。此外，传统的高压电源控制方法通常依赖于设定的阈值或规则来判断电压是否异常。然而，这种基于规则的方法可能无法准确地检测和识别复杂的异常波动模式，特别是当异常波动的特征不明显或难以预测时。这可能导致误判或漏判，无法及时采取措施保护被测器件。

4、因此，期望一种优化的测试系统的高压电源控制方案。

技术实现思路

1、本发明实施例提供一种测试系统的高压电源控制方法，其通过电压传感器采集由可控高压源输出给被测器件的电压信号，并在后端引入数据处理和分析算法来进行该电压信号的时序分析，以此来自动判断输出电压是否正常，并在检测异常时暂停测试以避免器件烧毁。这样，能够自动对于电压波动的异常情况进行实时监测和分析，并在异常时及时采取措施，以保护被测器件的安全性，从而提高测试结果的准确性和电子设备的可靠性，并提高了测试系统的稳定性和可靠性。

2、本发明实施例还提供了一种测试系统的高压电源控制方法，其包括：

3、通过电压传感器采集由可控高压源在预定时间段内输出给被测器件的电压信号；

4、对所述电压信号进行局部特征分析以得到电压局部时序波形特征向量的序列；

5、对所述电压局部时序波形特征向量的序列中的各个电压局部时序波形特征向量进行波形特征一致性关联分析以得到波形一致性拓扑特征矩阵；

6、对所述电压局部时序波形特征向量的序列和所述波形一致性拓扑特征矩阵进行基于图结构的关联编码以得到波形间一致性拓扑全局电压波形特征；

7、基于所述波形间一致性拓扑全局电压波形特征，确定输出电压是否异常并确定是否暂停测试。

技术特征：

1.一种测试系统的高压电源控制方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的测试系统的高压电源控制方法，其特征在于，对所述电压信号进行局部特征分析以得到电压局部时序波形特征向量的序列，包括：

3.根据权利要求2所述的测试系统的高压电源控制方法，其特征在于，对所述电压局部时序波形特征向量的序列中的各个电压局部时序波形特征向量进行波形特征一致性关联分析以得到波形一致性拓扑特征矩阵，包括：

4.根据权利要求3所述的测试系统的高压电源控制方法，其特征在于，对所述电压局部时序波形特征向量的序列和所述波形一致性拓扑特征矩阵进行基于图结构的关联编码以得到波形间一致性拓扑全局电压波形特征，包括：将所述电压局部时序波形特征向量的序列和所述波形一致性拓扑特征矩阵通过图神经网络模型以得到所述波形间一致性拓扑全局电压波形特征矩阵。

5.根据权利要求4所述的测试系统的高压电源控制方法，其特征在于，基于所述波形间一致性拓扑全局电压波形特征，确定输出电压是否异常并确定是否暂停测试，包括：

6.根据权利要求5所述的测试系统的高压电源控制方法，其特征在于，还包括训练步骤：用于对所述基于卷积神经网络模型的电压波形特征提取器、所述基于卷积神经网络模型的拓扑特征提取器、所述图神经网络模型和所述svm模型进行训练。

7.根据权利要求6所述的测试系统的高压电源控制方法，其特征在于，所述训练步骤，包括：

8.根据权利要求7所述的测试系统的高压电源控制方法，其特征在于，对所述训练波形间一致性拓扑全局电压波形特征矩阵进行校正以得到校正后训练波形间一致性拓扑全局电压波形特征矩阵，包括：

技术总结
本发明公开了一种测试系统的高压电源控制方法，其通过电压传感器采集由可控高压源输出给被测器件的电压信号，并在后端引入数据处理和分析算法来进行该电压信号的时序分析，以此来自动判断输出电压是否正常，并在检测异常时暂停测试以避免器件烧毁。这样，能够自动对于电压波动的异常情况进行实时监测和分析，并在异常时及时采取措施，以保护被测器件的安全性，从而提高测试结果的准确性和电子设备的可靠性，并提高了测试系统的稳定性和可靠性。

技术研发人员：李娜,郭振轩
受保护的技术使用者：西安天光测控技术有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/15