一种雷达校准方法、电子设备及雷达校准系统与流程

本发明涉及雷达校准，具体涉及一种雷达校准方法、电子设备及雷达校准系统。

背景技术：

1、相控阵雷达是一种利用相控阵技术实现目标检测和跟踪的高科技雷达系统。它由许多发射和接收单元组成，这些单元可以通过改变它们之间的相对相位来控制辐射方向和波束形状，从而提高雷达性能。

2、当相控阵雷达因一些因素造成方向图出现偏差时，需要对相控阵雷达进行校准，调整相控阵雷达的方向图，使得雷达的辐射方向和接收灵敏度与理论设计相符，提高相控阵雷达的探测准确性。

3、目前，在对相控阵雷达进行校准时，通常需要人工进行校准，人工校准的方式校准时间长，校准效率低。

技术实现思路

1、本发明实施例的一个目的旨在提供一种雷达校准方法、电子设备及雷达校准系统，能够解决雷达校准效率低的技术问题。

2、在第一方面，本发明实施例提供一种雷达校准方法，应用于电子设备，所述电子设备分别与雷达设备及测试设备通信连接，所述雷达设备还与所述测试设备通信连接，所述雷达设备包括多个天线通道，所述方法包括：

3、依序控制各所述天线通道按照指定模式工作，所述指定模式为发射模式与接收模式中的一个；

4、获取所述测试设备采集的每组原始幅相数据，所述原始幅相数据为所述测试设备采集所述天线通道工作在指定模式时的幅相数据；

5、根据所述原始幅相数据，生成雷达校准矩阵；

6、根据所述雷达校准矩阵，校准所述雷达设备。

7、可选地，所述根据所述原始幅相数据，生成雷达校准矩阵包括：

8、根据所述原始幅相数据，生成目标原始数据集合，所述目标原始数据集合包括所述天线通道工作在指定模式时的多个原始幅值数据或多个原始相位数据；

9、根据所述目标原始数据集合，生成目标校准数据集合；

10、根据所述目标校准数据集合，生成雷达校准矩阵。

11、可选地，所述根据所述目标原始数据集合，生成目标校准数据集合包括：

12、获取校准配置参数信息；

13、根据所述校准配置参数信息，计算校准调节值；

14、对所述目标原始数据集合中的每个所述原始幅值数据或原始相位数据进行归一化处理，得到每个所述原始幅值数据或原始相位数据对应的数据归一化值；

15、根据每个所述原始幅值数据或原始相位数据对应的数据归一化值及所述校准调节值，生成目标校准数据集合。

16、可选地，所述根据所述校准配置参数信息，计算校准调节值包括：

17、根据所述校准配置参数信息，生成目标窗函数；

18、对所述目标窗函数进行归一化处理，得到窗函数归一化值；

19、将所述窗函数归一化值转换为对数形式，得到所述校准调节值。

20、可选地，所述根据每个所述原始幅值数据或原始相位数据对应的数据归一化值及所述校准调节值，生成目标校准数据集合包括：

21、计算每个所述原始幅值数据或原始相位数据对应的归一化值与所述校准调节值的差值并对所述差值进行取整处理，得到每个所述原始幅值数据或原始相位数据对应的校准数据；

22、根据所述校准数据，生成目标校准数据集合。

23、可选地，在所述根据所述雷达校准矩阵，校准所述雷达设备后，还包括：

24、控制所述雷达设备在预设旋转角度范围内步进旋转，并在每个旋转角度下控制每个天线通道按照指定模式工作；

25、获取所述测试设备采集的每组幅相测试数据并记录每组幅相测试数据对应的旋转角度，所述幅相测试数据为所述测试设备采集所述天线通道在每个旋转角度下工作在指定模式时的幅相数据；

26、根据每组所述幅相测试数据及每组所述幅相测试数据对应的旋转角度，生成测试方向图，所述测试方向图用于验证雷达校准效果。

27、可选地，所述测试方向图包括发射方向图，所述幅相测试数据为发射测试数据，所述发射测试数据为所述测试设备采集所述天线通道在每个旋转角度下工作在发射模式时的幅相数据，所述根据每组所述幅相测试数据及所述旋转角度，生成测试方向图包括：

28、根据每组所述发射测试数据及每组所述发射测试数据对应的旋转角度，生成发射测试数据集合；

29、根据所述发射测试数据集合，生成发射方向图。

30、可选地，所述测试方向图包括接收方向图，所述幅相测试数据为接收测试数据，所述接收测试数据为所述测试设备采集所述天线通道在每个旋转角度下工作在接收模式时的幅相数据，所述根据每组所述幅相测试数据及所述旋转角度，生成测试方向图包括：

31、根据每组所述接收测试数据及每组所述接收测试数据对应的旋转角度，生成接收测试数据集合；

32、根据所述接收测试数据集合，生成接收方向图。

33、在第二方面，本发明实施例提供一种电子设备，包括：

34、至少一个处理器；以及，

35、与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

36、所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的命令，所述命令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如上所述的雷达校准方法。

37、在第三方面，本发明实施例提供一种雷达校准系统，包括：

38、雷达设备，用于目标探测；

39、测试设备，与所述雷达设备通信连接，用于对所述雷达设备进行测试；以及

40、如上所述的电子设备，所述电子设备分别与所述雷达设备及所述测试设备通信连接。

41、在第四方面，本发明实施例提供一种非易失性计算存储介质，所述非易失性计算机存储介质存储有计算机可执行命令，所述计算机可执行命令用于使电子设备执行如上所述的雷达校准方法。

42、在本发明实施例提供的雷达校准方法中，雷达校准方法应用于电子设备，电子设备分别与雷达设备及测试设备通信连接，雷达设备还与测试设备通信连接，雷达设备包括多个天线通道，该方法包括：依序控制各天线通道按照指定模式工作，指定模式为发射模式与接收模式中的一个，获取测试设备发送的每组原始幅相数据，原始幅相数据为测试设备采集天线通道工作在指定模式时的幅相数据，根据原始幅相数据，生成雷达校准矩阵，根据雷达校准矩阵，校准雷达设备。因此，本实施例能够自动生成雷达校准矩阵来自动校准雷达设备，有利于缩短雷达校准时间，提高雷达校准效率。

技术特征：

1.一种雷达校准方法，应用于电子设备，其特征在于，所述电子设备分别与雷达设备及测试设备通信连接，所述雷达设备还与所述测试设备通信连接，所述雷达设备包括多个天线通道，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的雷达校准方法，其特征在于，所述根据所述原始幅相数据，生成雷达校准矩阵包括：

3.根据权利要求2所述的雷达校准方法，其特征在于，所述根据所述目标原始数据集合，生成目标校准数据集合包括：

4.根据权利要求3所述的雷达校准方法，其特征在于，所述根据所述校准配置参数信息，计算校准调节值包括：

5.根据权利要求3所述的雷达校准方法，其特征在于，所述根据每个所述原始幅值数据或原始相位数据对应的数据归一化值及所述校准调节值，生成目标校准数据集合包括：

6.根据权利要求1所述的雷达校准方法，其特征在于，在所述根据所述雷达校准矩阵，校准所述雷达设备后，还包括：

7.根据权利要求6所述的雷达校准方法，其特征在于，所述测试方向图包括发射方向图，所述幅相测试数据为发射测试数据，所述发射测试数据为所述测试设备采集所述天线通道在每个旋转角度下工作在发射模式时的幅相数据，所述根据每组所述幅相测试数据及所述旋转角度，生成测试方向图包括：

8.根据权利要求6所述的雷达校准方法，其特征在于，所述测试方向图包括接收方向图，所述幅相测试数据为接收测试数据，所述接收测试数据为所述测试设备采集所述天线通道在每个旋转角度下工作在接收模式时的幅相数据，所述根据每组所述幅相测试数据及所述旋转角度，生成测试方向图包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

10.一种雷达校准系统，其特征在于，包括：

11.一种非易失性计算存储介质，其特征在于，所述非易失性计算机存储介质存储有计算机可执行命令，所述计算机可执行命令用于使电子设备执行如权利要求1至8任一项所述的雷达校准方法。

技术总结
本发明涉及雷达校准技术领域，公开一种雷达校准方法、电子设备及雷达校准系统。雷达校准方法应用于电子设备，电子设备分别与雷达设备及测试设备通信连接，雷达设备还与测试设备通信连接，雷达设备包括多个天线通道，该方法包括：依序控制各天线通道按照指定模式工作，指定模式为发射模式与接收模式中的一个，获取测试设备发送的每组原始幅相数据，原始幅相数据为测试设备采集天线通道工作在指定模式时的幅相数据，根据原始幅相数据，生成雷达校准矩阵，根据雷达校准矩阵，校准雷达设备。因此，本实施例能够自动生成雷达校准矩阵来自动校准雷达设备，有利于缩短雷达校准时间，提高雷达校准效率。

技术研发人员：杨名业,赵兴华
受保护的技术使用者：深圳市塞防科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/1/5