一种芯片电压测试方法、装置、设备及存储介质与流程

本发明实施例涉及芯片测试，尤其涉及一种芯片电压测试方法、装置、设备及存储介质。

背景技术：

1、在芯片测试过程中，需要找到电源下降过程中芯片工作状态切换的阈值电压。通常实验室的做法是一步一步将芯片工作电压往下调整，直到芯片工作状态发生了切换为止，这种方法能找到准确的阈值电压，但效率低，需要以每步的间隔为调整量，一步一步的往下调整，十分耗时，无法用于量产测试。而当前大多量产测试的方法是直接测试阈值的上限和下限电压两个，记录芯片工作的状态，直接判断芯片是否符合规格，这种方法能快速测试芯片，但只能记录上下限电压，无法将准确的阈值电压测试出来。

技术实现思路

1、本发明实施例提供了一种芯片电压测试方法、装置、设备及存储介质，以提供一种基于调整二分法门限值的芯片电压测试方法，为芯片量产测试提升测试效率的同时提升测试准确度。

2、第一方面，本发明实施例提供了一种芯片电压测试方法，所述方法包括：

3、获取待测芯片的电压门限初始值；所述电压门限初始值包括电压上限初始值和电压下限初始值；

4、根据所述电压门限初始值确定中间电压值，并将所述中间电压值作为所述待测芯片的当前工作电压以确定所述待测芯片在所述当前工作电压下工作状态的切换情况；

5、根据所述切换情况对所述电压门限初始值进行调整，得到电压门限当前值；

6、在所述电压门限当前值的当前大小关系满足预设大小关系的情况下，根据所述待测芯片的电压门限标准值对所述待测芯片进行电压测试。

7、第二方面，本发明实施例还提供了一种芯片电压测试装置，该装置包括：

8、电压门限初始值获取模块，用于获取待测芯片的电压门限初始值；所述电压门限初始值包括电压上限初始值和电压下限初始值；

9、切换情况确定模块，用于根据所述电压门限初始值确定中间电压值，并将所述中间电压值作为所述待测芯片的当前工作电压以确定所述待测芯片在所述当前工作电压下工作状态的切换情况；

10、电压门限当前值获取模块，用于根据所述切换情况对所述电压门限初始值进行调整，得到电压门限当前值；

11、电压测试模块，用于在所述电压门限当前值的当前大小关系满足预设大小关系的情况下，根据所述待测芯片的电压门限标准值对所述待测芯片进行电压测试。

12、第三方面，本发明实施例提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

13、一个或多个处理器；

14、存储器，用于存储一个或多个程序；

15、当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如本发明任意实施例所提供的芯片电压测试方法。

16、第四方面，本发明实施例还提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本发明任意实施例所提供的芯片电压测试方法。

17、上述发明中的实施例具有如下优点或有益效果：

18、本发明的技术方案，通过获取待测芯片的电压门限初始值；电压门限初始值包括电压上限初始值和电压下限初始值；根据电压门限初始值确定中间电压值，并将中间电压值作为待测芯片的当前工作电压以确定待测芯片在当前工作电压下工作状态的切换情况；根据切换情况对电压门限初始值进行调整，得到电压门限当前值；在电压门限当前值的当前大小关系满足预设大小关系的情况下，根据待测芯片的电压门限标准值对待测芯片进行电压测试，解决现有一步一步减小芯片电压以测试芯片阈值电压的方法耗时且无法用于量产测试，量产测试只用上限和下限电压测试芯片阈值电压导致测试结果不准确，从而造成无法同时保证量产测试的测试效率和测试准确性的问题，提供一种基于调整二分法门限值的芯片电压测试方法，为芯片量产测试提升测试效率的同时提升测试准确度。

技术特征：

1.一种芯片电压测试方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述切换情况对所述电压门限初始值进行调整，得到电压门限当前值，包括：

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述切换情况对所述电压门限初始值进行调整，得到调整后电压门限初始值，包括：

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括：

7.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，还包括：

8.一种芯片电压测试装置，其特征在于，包括：

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的芯片电压测试方法。

技术总结
本发明实施例公开了一种芯片电压测试方法、装置、设备及存储介质，涉及芯片测试领域，该方法包括：获取待测芯片的电压门限初始值；电压门限初始值包括电压上限初始值和电压下限初始值；根据电压门限初始值确定中间电压值，并将中间电压值作为待测芯片的当前工作电压以确定待测芯片在当前工作电压下工作状态的切换情况；根据切换情况对电压门限初始值进行调整，得到电压门限当前值；在电压门限当前值的当前大小关系满足预设大小关系的情况下，根据待测芯片的电压门限标准值对待测芯片进行电压测试。采用本发明实施例的技术方案，可以提供一种基于调整二分法门限值的芯片电压测试方法，为芯片量产测试提升测试效率的同时提升测试准确度。

技术研发人员：曾俊林,宋晓琴,邱文才,田学红,林潮兴
受保护的技术使用者：广东大普通信技术股份有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/3/21