单板测试装置、方法、电子设备及存储介质与流程

本公开涉及器件测试，尤其涉及一种单板测试装置、方法、电子设备及存储介质。

背景技术：

1、随着技术的发展，各种类型的单板设计日益复杂，对单板进行测试十分必要。然而，在对待测单板进行测试时，需要搭建系统环境，会存在成本过高的问题，导致资源占用过高。对待测单板中的高速模拟量信号进行检测时需要进行协议转换，由于测试成本较高且测试架构设计复杂，往往直接将待测单板装入机箱内进行整机测试，导致对待测单板的测试覆盖性不全。

2、有鉴于此，如何在对待测单板进行测试时，避免资源占用过高和测试覆盖性不全成为亟待解决的技术问题。

技术实现思路

1、有鉴于此，本公开的目的在于提出一种单板测试装置、方法、电子设备及存储介质用以解决或部分解决上述技术问题。

2、基于上述目的，本公开的第一方面提出了一种单板测试装置，所述装置包括：

3、fmc高速信号适配器，被配置为：接收到待测单板的初始测试数据；

4、至少一种接口，与所述fmc高速信号适配器电连接；被配置为：对所述fmc高速信号适配器接收到的所述初始测试数据进行转发；

5、fpga控制芯片，与所述至少一种接口电连接；被配置为：通过所述至少一种接口接收所述fmc高速信号适配器发来的初始测试数据，对所述初始测试数据进行分析处理得到目标测试数据，并基于所述目标测试数据对所述待测单板进行测试，得到所述待测单板的测试结果。

6、基于同一个发明构思，本公开的第二方面提出了一种单板测试方法，应用于第一方面所述的单板测试装置；所述方法包括：

7、fmc高速信号适配器接收到待测单板的初始测试数据，并通过至少一种接口将所述初始数据发送至fpga控制芯片；

8、所述fpga控制芯片对所述初始测试数据进行分析处理得到目标测试数据，并基于所述目标测试数据对所述待测单板进行测试，得到所述待测单板的测试结果。

9、基于同一发明构思，本公开的第三方面提出了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可由所述处理器执行的计算机程序，所述处理器在执行所述计算机程序时实现如上所述的方法。

10、基于同一发明构思，本公开的第四方面提出了一种非暂态计算机可读存储介质，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行如上所述的方法。

11、从上面所述可以看出，本公开提供的单板测试装置、方法、电子设备及存储介质。单板测试装置包括：fmc高速信号适配器、至少一种接口和fpga控制芯片。fmc高速信号适配器能够采集待测单板中的高速模拟量信号的初始测试数据，并将高速模拟量信号的初始待测数据通过至少一种接口发送至fpga控制芯片，不需要对高速模拟量信号的初始测试数据进行协议转换，减少测试成本且测试方式简单易实现，同时避免对待测单板测试覆盖性不全的问题。至少一种接口可以实现对不同类型的初始测试数据的转发，fmc高速信号适配器将高速模拟量信号的初始待测数据通过至少一种接口发送至fpga控制芯片，以便fpga控制芯片基于不同类型的初始测试数据对待测单板进行全面测试。另外，由fmc高速信号适配器、至少一种接口和fpga控制芯片构成的单板测试装置集成度高，可以避免资源占用过高的问题。

技术特征：

1.一种单板测试装置，其特征在于，所述装置包括：

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述fpga控制芯片包括：

3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述接口包括下列至少之一：每秒数据包数量接口、高速信号接口、数据传输协议接口、模数转换接口、数模转换接口、数字接口、串行外设接口和开集极电路接口。

4.一种单板测试方法，其特征在于，应用于权利要求1至3任意一项所述的单板测试装置；所述方法包括：

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述fpga控制芯片包括可编程逻辑端和处理端；

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述可编程逻辑端对所述初始测试数据进行解析处理得到解析测试数据，对所述解析测试数据进行重新组帧处理得到数据包，包括：

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述可编程逻辑端对所述解码测试数据的数据帧进行判断处理，将数据帧符合预设帧条件的解码测试数据作为所述解析测试数据，包括：

8.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于所述目标测试数据对所述待测单板进行测试，得到所述待测单板的测试结果，包括：

9.一种电子设备，其特征在于，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述程序时实现如权利要求4至8任意一项所述的方法。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，其特征在于，所述非暂态计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令用于使计算机执行权利要求4至8任意一项所述的方法。

技术总结
本公开提供一种单板测试装置、方法、电子设备及存储介质。所述装置包括：FMC高速信号适配器，被配置为：接收到待测单板的初始测试数据；至少一种接口，与所述FMC高速信号适配器电连接；被配置为：对所述FMC高速信号适配器接收到的所述初始测试数据进行转发；FPGA控制芯片，与所述至少一种接口电连接；被配置为：通过所述至少一种接口接收所述FMC高速信号适配器发来的初始测试数据，对所述初始测试数据进行分析处理得到目标测试数据，并基于所述目标测试数据对所述待测单板进行测试，得到所述待测单板的测试结果。

技术研发人员：刘瀛,侯佳振,叶波,曹火焰,王振华,边远
受保护的技术使用者：航天新长征大道科技有限公司
技术研发日：
技术公布日：2024/6/5