光谱仪用压样头的制作方法

本技术属于光谱分析领域，特别涉及一种傅里叶变换光谱仪用全反射测量时的压样头。

背景技术：

1、傅里叶变换红外光谱仪(ftir)一般在其干涉仪输出光与检测器之间会设置样品仓，通过在样品仓内放置适当的透射、反射等测试装置并将样品以适当固定，可实现样品的透射光谱、反射光谱测量。

2、衰减全反射装置(atr)作为一种高灵敏光信号测试技术，将样品放置在晶体的表面，引导光束透过晶体照射到样品表面，通过测量样品表面的反射信号来提取有效光谱信息，简化了样品的制作过程，同时也极大地拓展了光谱法的应用范围，已被广泛应用于纤维、塑料、涂料、橡胶、粘合剂等非金属材料制品的表面成份分析。

3、atr与ftir光谱仪相结合，发挥二者的优势，就可以在更多场合取得应用、获取更好的光谱测试灵敏度、信噪比和样品材料性质。在实际应用中，样品需要手动放置在atr的晶体表面，且需要尽量放置在晶体的中心，通过手动或电动向下移动压样头后压紧样品，才可能获取到更好的带有样品信息的光谱图。当光谱仪主机采集完样品的光谱图后，需要向上升起压样头，取走并擦拭atr的晶体表面的样品时，由于其上方接触样品的接触头阻挡，擦拭不方便容易碰到手或工具，操作不方便。

技术实现思路

1、本实用新型为了解决上述现有技术的不足，提供一种光谱仪用压样头，该压样头解决了测量完成后取走和擦拭晶体表面样品的不方便的操作。

2、本实用新型的技术解决方案如下：

3、一种光谱仪用压样头，其特点在于：包括升降杆、接触头、连接板、弹簧钉、装饰盖、钢球和压缩弹簧；

4、所述的升降杆为具有不同直径的中空的圆柱形杆状结构，所述的升降杆的中空部分从上到下依次为同轴的不同直径的圆筒形孔和螺孔；在所述的圆筒形孔的外壁中部为中空的凸起圆柱形，在所述的凸起圆柱形的下侧一边设有一挡油槽，而在所述的凸起圆柱形的上侧的一外边设置一v型槽口；

5、所述的连接板的两端呈圆弧形状，一端自下而上设有内螺纹，另一端从下往上设有同轴的第一圆柱形孔、第二圆柱形孔、第三圆柱形孔，垂直于所述的第一圆柱形孔的两侧壁设有横向的第四圆柱形孔；

6、所述的弹簧钉为直径依次由小变大的三段圆柱形结构，分别为外螺纹段、圆柱形中段和圆柱形帽；

7、所述的升降杆的上端部凸起的中空圆柱形的外径和所述的连接板的另一端的第一圆柱形孔的内径相配合；

8、所述的接触头的外螺纹连接在所述的连接板一端的内螺纹中；所述的弹簧钉依次穿过所述的连接板的第三圆柱形孔、第二圆柱形孔和第一圆柱形孔，所述的弹簧钉的外螺纹固定在所述的升降杆的螺孔中，所述的圆柱形中段嵌入所述的升降杆的圆筒形孔中，所述的圆柱形帽套在所述的连接板的第二圆柱形孔中；

9、所述的装饰盖为圆形片，嵌在所述的连接板的第三圆柱形孔中；

10、所述的压缩弹簧和钢球依次被嵌入所述的连接板的第一圆柱形孔的侧壁的所述的第四圆柱形孔中。

11、本实用新型的有益效果如下：

12、本实用新型光谱仪用压样头，应用于傅里叶变换红外光谱仪(ftir)的衰减全反射装置(atr)方式光谱测试。当升降杆带动整个压样头向下运动，接触头压紧样品在atr晶体表面，光谱仪主机测试红外光谱采集完毕后升降杆带动压样头及接触头向上运动，此时取走样品，并擦拭晶体的表面样品残留，由于接触头在晶体正上方不远处，取走或擦拭时手或者工具容易碰到接触头，不方便操作。利用本实用新型结构，用手轻轻拨动压样头的连接板，将带动接触头向侧面远离晶体，具有敞开的空间操作取走样品和擦拭晶体表面。洁净处理完晶体表面后，轻轻拨动压样头复位，本实用新型的压样头设计钢球与v型槽卡位机构，可准确将接触头复位在晶体上方，再次测试时接触头准确正压晶体表面的样品从而准确获得样品的光谱测试数据。

13、本实用新型光谱仪用压样头，具有结构简洁、零件较少、尺寸小巧紧凑、装配容易和成本低廉的特点。

技术特征：

1.一种光谱仪用压样头，其特征在于：包括升降杆（1）、接触头（2）、连接板（3）、弹簧钉（4）、装饰盖（5）、钢球（6）、压缩弹簧（7）；

技术总结
一种光谱仪用压样头，包括升降杆、接触头、连接板、弹簧钉、装饰盖、钢球、压缩弹簧。本技术结构简洁，可实现光谱仪样品测量后将接触样品的接触头移开而方便清洁，又能在压样时将接触头准确复位不影响测量，操作简单方便，本技术特别适用光谱仪全反射测量时的各种压样装置。

技术研发人员：李纪华,郑留念,陈松,黄磊,李妍,宋凯,邱亚
受保护的技术使用者：荧飒光学科技（上海）有限公司
技术研发日：20230105
技术公布日：2024/1/12