一种基于白光干涉仪测量样品表面粗糙度的样品夹持装置的制作方法

本技术属于材料表面粗糙度测量，具体为一种基于白光干涉仪测量样品表面粗糙度的样品夹持装置。

背景技术：

1、白光干涉仪作为一种测量材料表面粗糙度的仪器之一，是现代科学技术中不可缺少的重要工具。在采用白光干涉仪测量不规则样品的表面粗糙度时，由于白光干涉仪的样品台在水平和垂直方向上的旋转角度有限，通常无法将待测区域调整至水平面，不仅会增大测试的难度，而且会导致测量结果产生测量误差。因此，在测量无法将待测区域调整至水平面的样品时，需要通过机加工的方式将待测区域切割下来，使加工好的样品放置在样品台上时待测区域接近水平面，才能够准确的测量待测区域的表面粗糙度。此外，机加工不仅会破坏样品，耗时耗力，而且极有可能会破坏待测区域的表面，影响表面粗糙度的测量结果的准确性。因此，在不破坏样品的前提下，需要一种样品夹持装置来辅助完成不规则样品的表面粗糙度测量。

技术实现思路

1、针对背景技术中存在的问题，本实用新型提供了一种基于白光干涉仪测量样品表面粗糙度的样品夹持装置，其特征在于，包括：夹持装置、球形凹槽、球形连接杆和底座，其中夹持装置为圆盘形，夹持装置的下端中央固接有球形凹槽，球形凹槽与球形连接杆球铰连接，球形连接杆的杆件部与下方的底座通过底座螺栓相连，通过垫片螺栓和垫片螺母安装于“工”字截面滑槽上的l型垫片朝向冲上，l型垫片在“工”字截面滑槽中滑动；夹持装置上均匀开有四个“工”字截面滑槽，“工”字截面滑槽的长度方向过夹持装置的轴线；

2、所述样品为至少拥有一个平整表面的不规则六面体，所述平整表面与夹持装置接触，平整表面的四边分别被一个l型垫片夹紧。

3、所述“工”字截面滑槽包括：上方的垫片滑槽、下方的螺母滑槽和腰型连接孔，其中垫片滑槽和螺母滑槽通过中央的腰型连接孔相连，l型垫片的宽度小于垫片滑槽的宽度，垫片螺母的端面间距小于下方的螺母滑槽的宽度。

4、所述球形凹槽的外形为圆台，球形凹槽内壁装有阻尼材料。

5、所述夹持装置在水平方向上旋转360°，在垂直方向上旋转270°。

6、所述底座为圆盘形，底部贴有防滑垫。

7、本实用新型的有益效果在于：弥补了白光干涉仪的样品台在水平和垂直方向旋转角度有限的不足，在不对样品进行机加工的前提下，能够在采用白光干涉仪测量不规则样品的表面粗糙度时快速、准确地测量不规则样品的表面粗糙度。同时，结构合理，使用方便，操作简单，便于携带。

技术特征：

1.一种基于白光干涉仪测量样品表面粗糙度的样品夹持装置，其特征在于，包括：夹持装置(1)、球形凹槽(2)、球形连接杆(3)、底座(4)和样品(5)，其中夹持装置(1)为圆盘形，夹持装置(1)的下端中央固接有球形凹槽(2)，球形凹槽(2)与球形连接杆(3)球铰连接，球形连接杆(3)的杆件部与下方的底座(4)通过底座螺栓(402)相连，通过垫片螺栓(102)和垫片螺母(104)安装于“工”字截面滑槽(101)上的l型垫片(103)朝向冲上，l型垫片(103)在“工”字截面滑槽(101)中滑动；夹持装置(1)上均匀开有四个“工”字截面滑槽(101)，“工”字截面滑槽(101)的长度方向过夹持装置(1)的轴线；所述样品(5)为至少拥有一个平整表面的不规则六面体，所述平整表面与夹持装置(1)接触，平整表面的四边分别被一个l型垫片(103)夹紧。

2.根据权利要求1所述的一种基于白光干涉仪测量样品表面粗糙度的样品夹持装置，其特征在于，所述“工”字截面滑槽(101)包括：上方的垫片滑槽(1011)、下方的螺母滑槽(1012)和腰型连接孔(1013)，其中垫片滑槽(1011)和螺母滑槽(1012)通过中央的腰型连接孔(1013)相连，l型垫片(103)的宽度小于垫片滑槽(1011)的宽度，垫片螺母(104)的端面间距小于下方的螺母滑槽(1012)的宽度。

3.根据权利要求1所述的一种基于白光干涉仪测量样品表面粗糙度的样品夹持装置，其特征在于，所述球形凹槽(2)的外形为圆台，球形凹槽(2)内壁装有阻尼材料。

4.根据权利要求1所述的一种基于白光干涉仪测量样品表面粗糙度的样品夹持装置，其特征在于，所述夹持装置(1)在水平方向上旋转360°，在垂直方向上旋转270°。

5.根据权利要求1所述的一种基于白光干涉仪测量样品表面粗糙度的样品夹持装置，其特征在于，所述底座(4)为圆盘形，底部贴有防滑垫(401)。

技术总结
本技术公开了一种基于白光干涉仪测量样品表面粗糙度的样品夹持装置；其中夹持装置为圆盘形，夹持装置的下端中央固接有球形凹槽，球形凹槽与球形连接杆球铰连接，球形连接杆的杆件部与下方的底座通过底座螺栓相连，通过垫片螺栓和垫片螺母安装于“工”字截面滑槽上的L型垫片朝向冲上，L型垫片在“工”字截面滑槽中滑动；夹持装置上均匀开有四个“工”字截面滑槽，“工”字截面滑槽的长度方向过夹持装置的轴线。本技术弥补了白光干涉仪的样品台在水平和垂直方向旋转角度有限的不足，在不对样品进行机加工的前提下，能够在采用白光干涉仪测量不规则样品的表面粗糙度时快速、准确地测量不规则样品的表面粗糙度。

技术研发人员：翟亚楠,卢硕,叶司彤,王婷,邬小萍,李岩
受保护的技术使用者：国合通用测试评价认证股份公司
技术研发日：20230213
技术公布日：2024/1/15