一种线束塑壳防退PIN测试治具的制作方法

本技术涉及一种测试治具，尤其涉及一种线束塑壳防退pin测试治具，属于线束通断检测领域。

背景技术：

1、随着新能源汽车的兴起，与新能源汽车配套使用的部件也随之发展，其中，线束就是新能源汽车中所不可缺少的重要部件。线束通断检测是线束生产中的一部分，主要起到检测产品通断的作用。

2、由于原检测方式基本通过公母头塑壳对插件进行检测，存在寿命短(10w次)，难插拔并且无法检测端子退pin状态的问题。

技术实现思路

1、为了解决上述技术所存在的不足之处，本实用新型提供了一种线束塑壳防退pin测试治具，通过提供一种测试治具，用于防止塑壳二次卡扣未锁紧和端子退pin状态产品的流出。

2、为了解决以上技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种线束塑壳防退pin测试治具，包括治具本体，治具本体包括由上向下依次组装的上壳体、下壳体，上壳体的表面开设有与待测塑壳相适配的凹槽，凹槽的一侧设置有用于压住待测塑壳的限位机构；

3、凹槽的底面均匀开设有若干个插置孔，插置孔内均插置有台阶探针，台阶探针的另一端位于下壳体内。

4、优选的，限位机构包括拨扣支架、斜坡拨扣，拨扣支架位于上壳体的表面并与凹槽互相平行，拨扣支架靠近凹槽的一侧活动连接有斜坡拨扣。

5、优选的，斜坡拨扣呈长条形且分为活动部、拨动部，拨扣支架的底面形成有与斜坡拨扣相配合的容纳腔，活动部位于容纳腔内并与容纳腔活动相接。

6、优选的，活动部末端靠近凹槽的一侧形成有斜面，活动部朝向容纳腔的一面通过弹簧与容纳腔的内壁弹性相接。

7、优选的，拨扣支架表面开设有一号通孔，活动部上对应开设有二号通孔，拨扣支架通过销轴与斜坡拨扣转动相接。

8、优选的，下壳体的中部沿纵向形成有放置腔，凹槽的底部形成有与放置腔相连通的中空腔，台阶探针的底部延伸至放置腔内。

9、优选的，放置腔的四周顶角处均开设有螺纹孔，上壳体与下壳体通过螺栓相接。

10、优选的，台阶探针的底部连接有导线、顶部插入长度为1.8-2.2mm。

11、优选的，拨扣支架与上壳体通过螺栓紧固相接。

12、优选的，上壳体与下壳体的形状、尺寸相同。

13、本实用新型不仅寿命长(能达到50w次)，而且易插拔，能检测二次卡扣锁紧状态、以及检测塑壳中端子退pin状态，从而杜绝不良品的流出，提高了产品质量。

技术特征：

1.一种线束塑壳防退pin测试治具，包括治具本体(10)，其特征在于：所述治具本体(10)包括由上向下依次组装的上壳体(1)、下壳体(2)，所述上壳体(1)的表面开设有与待测塑壳相适配的凹槽(11)，凹槽(11)的一侧设置有用于压住待测塑壳的限位机构；

2.根据权利要求1所述的线束塑壳防退pin测试治具，其特征在于：所述限位机构包括拨扣支架(4)、斜坡拨扣(5)，所述拨扣支架(4)位于上壳体(1)的表面并与凹槽(11)互相平行，拨扣支架(4)靠近凹槽(11)的一侧活动连接有斜坡拨扣(5)。

3.根据权利要求2所述的线束塑壳防退pin测试治具，其特征在于：所述斜坡拨扣(5)呈长条形且分为活动部(51)、拨动部(52)，所述拨扣支架(4)的底面形成有与斜坡拨扣(5)相配合的容纳腔(41)，所述活动部(51)位于容纳腔(41)内并与容纳腔(41)活动相接。

4.根据权利要求3所述的线束塑壳防退pin测试治具，其特征在于：所述活动部(51)末端靠近凹槽(11)的一侧形成有斜面(53)，活动部(51)朝向容纳腔(41)的一面通过弹簧(6)与容纳腔(41)的内壁弹性相接。

5.根据权利要求4所述的线束塑壳防退pin测试治具，其特征在于：所述拨扣支架(4)表面开设有一号通孔，所述活动部(51)上对应开设有二号通孔，拨扣支架(4)通过销轴与斜坡拨扣(5)转动相接。

6.根据权利要求1所述的线束塑壳防退pin测试治具，其特征在于：所述下壳体(2)的中部沿纵向形成有放置腔(21)，凹槽(11)的底部形成有与放置腔(21)相连通的中空腔，所述台阶探针(3)的底部延伸至放置腔(21)内。

7.根据权利要求6所述的线束塑壳防退pin测试治具，其特征在于：所述放置腔(21)的四周顶角处均开设有螺纹孔(22)，所述上壳体(1)与下壳体(2)通过螺栓相接。

8.根据权利要求1所述的线束塑壳防退pin测试治具，其特征在于：所述台阶探针(3)的底部连接有导线、顶部插入长度为1.8-2.2mm。

9.根据权利要求5所述的线束塑壳防退pin测试治具，其特征在于：所述拨扣支架(4)与上壳体(1)通过螺栓紧固相接。

10.根据权利要求1-9任一项所述的线束塑壳防退pin测试治具，其特征在于：所述上壳体(1)与下壳体(2)的形状、尺寸相同。

技术总结
本技术公开了一种线束塑壳防退PIN测试治具，包括治具本体，治具本体包括由上向下依次组装的上壳体、下壳体，上壳体的表面开设有与待测塑壳相适配的凹槽，凹槽的一侧设置有用于压住待测塑壳的限位机构；凹槽的底面均匀开设有若干个插置孔，插置孔内均插置有台阶探针，台阶探针的另一端位于下壳体内。本技术不仅寿命长(能达到50W次)，而且易插拔，能检测二次卡扣锁紧状态、以及检测塑壳中端子退PIN状态，从而杜绝不良品的流出，提高了产品质量。

技术研发人员：吴振宇
受保护的技术使用者：溧阳壹连电子有限公司
技术研发日：20230214
技术公布日：2024/1/15