一种激光对焦传感器垂直结构及光学装置的制作方法

文档序号:35012017发布日期:2023-08-04 05:33阅读:30来源:国知局
一种激光对焦传感器垂直结构及光学装置的制作方法

本技术涉及激光传感器,具体涉及一种激光对焦传感器垂直结构及光学装置。


背景技术:

1、激光传感器:利用激光技术进行测量的传感器,它能把被测物理量(如长度,流量,速度等)转换成光信号,然后应用光电转换器把光信号变成电信号,通过相应电路的过滤、放大,整流得到输出信号,从而算出被测量。

2、在当前快速发展的环境下,由于产品的多样性,对于检测的精确度、速度都有很高的要求,工业镜头搭配激光对焦传感器在实际场景测试中,需准确、快速的对产品进行对焦、检测。


技术实现思路

1、本实用新型旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此,本实用新型的一个目的在于提出一种激光对焦传感器垂直结构,

2、包括:

3、安装盒;

4、激光组件,设于所述安装盒内,并朝第一光路发出激光束;

5、棱镜组件,设于所述第一光路的方向上,用于接收所述激光束以将所述激光束偏转至第二光路;

6、第一反射镜,设于所述安装盒内且位于所述第二光路上,当所述激光束经由所述棱镜组件偏转至所述反射镜组件上,以经由所述反射镜组件输出至所述安装盒外。

7、优选地,所述激光组件包括:

8、安装座,设于所述安装盒内;

9、狭缝座,设于所述安装座上,并沿所述第一光路的方向延伸;

10、狭缝筒,套接于所述狭缝座上以限定所述狭缝座的位置;

11、激光器,设于所述狭缝座内,用于朝向所述狭缝筒方向输出所述激光束。

12、优选地,所述棱镜组件包括:

13、固定座,设于所述安装盒内,并与所述激光组件间隔设置;

14、第一棱镜,嵌设于所述固定座上,并将所述第一光路的所述激光束偏转至所述第二光路并照射至所述第一反射镜上,以使所述激光束偏转至第三光路。

15、优选地,所述安装盒上具有通孔,所述通孔位于所述第三光路的出光方向。

16、优选地,所述安装盒外具有反射光束透过通孔照射至所述第一反射镜上,以通过所述第一反射镜偏转至第四光路。

17、优选地,所述棱镜组件还包括

18、第二棱镜,所述第二棱镜设于安装盒内与所述第一棱镜间隔设置,且设于所述第四光路的路径上,用于将所述反射光束偏转至第五光路。

19、优选地,所述安装盒内设有第二反射镜,所述第二反射镜与第一反射镜间隔设置,且第二反射镜设于所述第五光路上,当所述反射光束照射至所述第二反射镜时,所述第二反射镜将所述反射光束偏转至所述安装盒外。

20、优选地,一种光学装置,包括如所述的激光对焦传感器垂直结构。

21、本实用新型的上述方案至少包括以下有益效果:

22、激光组件发出朝第一光路发出激光束照射至棱镜组件上,棱镜组件将激光束偏转至第二光路,激光束沿着第二光路照射至第一反射镜上,第一反射镜再将激光束偏转至安装盒外,并照射至外部的被测物体上。

23、本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本实用新型的实践了解到。



技术特征:

1.一种激光对焦传感器垂直结构,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的激光对焦传感器垂直结构,其特征在于,所述激光组件包括:

3.根据权利要求1所述的激光对焦传感器垂直结构,其特征在于,所述棱镜组件包括:

4.根据权利要求3所述的激光对焦传感器垂直结构,其特征在于,所述安装盒上具有通孔,所述通孔位于所述第三光路的出光方向。

5.根据权利要求4所述的激光对焦传感器垂直结构,其特征在于,所述安装盒外具有反射光束透过通孔照射至所述第一反射镜上,以通过所述第一反射镜偏转至第四光路。

6.根据权利要求5所述的激光对焦传感器垂直结构,其特征在于,所述棱镜组件还包括

7.根据权利要求6所述的激光对焦传感器垂直结构,其特征在于,所述安装盒内设有第二反射镜,所述第二反射镜与第一反射镜间隔设置,且第二反射镜设于所述第五光路上,当所述反射光束照射至所述第二反射镜时,所述第二反射镜将所述反射光束偏转至所述安装盒外。

8.一种光学装置,其特征在于,包括如权利要求1至7任一项所述的激光对焦传感器垂直结构。


技术总结
本技术公开了一种激光对焦传感器垂直结构及光学装置,该激光对焦传感器垂直结构包括:安装盒;激光组件,设于所述安装盒内,并朝第一光路发出激光束;棱镜组件,设于所述第一光路的方向上,用于接收所述激光束以将所述激光束偏转至第二光路;第一反射镜,设于所述安装盒内且位于所述第二光路上,当所述激光束经由所述棱镜组件偏转至所述反射镜组件上,以经由所述反射镜组件输出至所述安装盒外;激光组件发出朝第一光路发出激光束照射至棱镜组件上,棱镜组件将激光束偏转至第二光路,激光束沿着第二光路照射至第一反射镜上,第一反射镜再将激光束偏转至安装盒外,并照射至外部的被测物体上。

技术研发人员:请求不公布姓名
受保护的技术使用者:江苏慕藤光精密光学仪器有限公司
技术研发日:20230220
技术公布日:2024/1/13
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