一种测试系统的制作方法

本技术涉及板卡测试，更具体的说是涉及一种测试系统。

背景技术：

1、服务器板卡晶振测试是服务器板级功能验证的重要环节。晶振频率是否符合目标芯片的需求关系到器件是否能够长期稳定可靠运行。

2、在对服务器板卡晶振进行频率测试过程中，需要经常调试修正其负载电容，改变外部电容的容值以达到目标芯片的需求频率范围。为了减小信号在pcb(printedcircuitboard，印制电路板)走线产生的电容，晶振负载电容通常靠近晶振管脚摆放。测试调试时，在狭小的空间使用烙铁频繁更换和调试电容的过程非常复杂，且容易损伤电容的焊点，也降低了调试效率。

技术实现思路

1、有鉴于此，本实用新型提供如下技术方案：

2、一种测试系统，包括控制芯片、输出装置和两组规格参数相同的可调电容；

3、所述控制芯片分别与所述输出装置和两组所述可调电容连接，在工作状态下，两组所述可调电容分别串接在板卡的输入管脚和输出管脚上；

4、所述控制芯片在工作状态下分别向两组所述可调电容输出相同的第一信号，两组所述可调电容接收所述第一信号，在所述第一信号的作用下具有对应的电容值，所述输出装置输出显示第一信号数值、所述可调电容的电容值和测试参数数值。

5、可选地，还包括：

6、与所述控制芯片连接的输入装置，所述输入装置接收到输入信号后，触发所述控制芯片基于所述输入信号调整所述第一信号的数值。

7、可选地，所述输出装置和所述输入装置集成一体。

8、可选地，其中，两组所述可调电容分别连接在板卡的输入管脚和输出管脚的电容焊盘上。

9、可选地，所述可调电容为薄膜可调电容。

10、可选地，其中，所述控制芯片为具有数模转换功能的芯片。

11、经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本实用新型公开提供了一种测试系统，包括控制芯片、输出装置和两组规格参数相同的可调电容；所述控制芯片分别与所述输出装置和两组所述可调电容连接，在工作状态下，两组所述可调电容分别串接在板卡的输入管脚和输出管脚上；所述控制芯片在工作状态下分别向两组所述可调电容输出相同的第一信号，两组所述可调电容接收所述第一信号，在所述第一信号的作用下具有对应的电容值，所述输出装置输出显示第一信号数值、所述可调电容的电容值和测试参数数值。上述测试系统作为一可调电容的测试工具，其可以连接在板卡指定的触点，能够确定板卡晶振频率达到目标值时对应的外接匹配电容的电容值，避免了当前调试板卡晶振频率时反复更换电容存在的过程复杂和损伤电容焊点的问题。

技术特征：

1.一种测试系统，其特征在于，包括控制芯片、输出装置和两组规格参数相同的可调电容；

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，还包括：

3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述输出装置和所述输入装置集成一体。

4.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，两组所述可调电容分别连接在板卡的输入管脚和输出管脚的电容焊盘上。

5.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述可调电容为薄膜可调电容。

6.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述控制芯片为具有数模转换功能的芯片。

技术总结
本申请提供了一种测试系统，包括控制芯片、输出装置和两组规格参数相同的可调电容；控制芯片分别与输出装置和两组可调电容连接，在工作状态下，两组可调电容分别串接在板卡的输入管脚和输出管脚上；控制芯片在工作状态下分别向两组可调电容输出相同的第一信号，两组可调电容接收第一信号，在第一信号的作用下具有对应的电容值，输出装置输出显示第一信号数值、所述可调电容的电容值和测试参数数值。上述测试系统作为一可调电容的测试工具，其可以连接在板卡指定的触点，能够确定板卡晶振频率达到目标值时对应的外接匹配电容的电容值，避免了当前调试板卡晶振频率时反复更换电容存在的过程复杂和损伤电容焊点的问题。

技术研发人员：马帅,徐萌
受保护的技术使用者：联想（北京）信息技术有限公司
技术研发日：20230223
技术公布日：2024/1/15