集成电路测试压紧装置的制作方法

本技术涉及集成电路测试装置的，特别涉及一种集成电路测试压紧装置。

背景技术：

1、集成电路封装完成后，需要对其进行上电测试。测试时，将集成电路芯片放置在测试底座的测试槽内，再通过压紧装置将集成电路芯片压紧，以确保测试时，各引脚与测试槽内的探针紧密接触导通。

2、集成电路封装尺寸不一，为了使得压紧装置能适用各种不同尺寸的集成电路测试，申请号为cn202221671591.1，名称为“一种集成电路测试压紧装置”的现有专利公开了通过设置由固定筒、复位弹簧、安装块组成的伸缩组件与由滑槽、限位杆、滑动块组成的位移组件相互配合，可以对压杆的位置便捷的进行调整，进而可以对不同尺寸的电路板进行压紧固定的方案。但这个方案将在使用时，需要通过拉动把手将控制板固定在竖杆上部，把手的拉动行程需要比较长，才能不妨碍操作人员将集成电路芯片放置在测试底座的测试槽内，使用还不太方便。

技术实现思路

1、针对现有技术存在的问题，本实用新型的主要目的是提供一种集成电路测试压紧装置，旨在解决现有的集成电路测试压紧装置使用不方便的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提出的集成电路测试压紧装置，包括：工作台，工作台上设有测试底座和压紧装置，压紧装置横跨测试底座。压紧装置又包括：固定在测试底座两侧的立杆，两立杆的顶部转动连接有一横杆。横杆的两端的侧壁上均设有弹性定位销，立杆上设有与弹性定位销配合的定位槽。横杆的下方设有连接杆，连接杆的底部设有伸缩压杆，伸缩压杆的底部设有压块。连接杆的顶部设有竖直穿过横杆的导向杆，导向杆上套设有压紧弹簧，压紧弹簧的两端分别抵压在横杆和连接杆上，且导向杆的顶部设有限位把手。

3、优选地，伸缩压杆包括外杆和内杆，内杆的一端插入外杆，且内杆插入外杆内的部分通过驱动弹簧抵压连接。

4、优选地，压块为橡胶块。

5、优选地，伸缩压杆的顶部连接有滑块，连接杆的底部设有滑槽，滑块在滑槽内滑动。

6、优选地，滑块上嵌设有第一磁铁块，滑槽的顶壁嵌设有与第一磁铁块磁性连接的第二磁铁块。

7、与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：通过将压紧装置的立杆与横杆转动连接，并设置定位销与定位槽的配合结构，使得该压紧装置使用时，只需要通过限位把手拉动连接杆带动伸缩压杆及压块移动一小段行程，使其脱离集成电路芯片，然后转动横杆，即可不妨碍操作人员从测试槽内取放集成电路芯片，使用非常方便。

技术特征：

1.一种集成电路测试压紧装置，包括：工作台，所述工作台上设有测试底座和压紧装置，所述压紧装置横跨所述测试底座；其特征在于，所述压紧装置又包括：固定在所述测试底座两侧的立杆，两所述立杆的顶部转动连接有一横杆；所述横杆的两端的侧壁上均设有弹性定位销，所述立杆上设有与所述弹性定位销配合的定位槽；所述横杆的下方设有连接杆，所述连接杆的底部设有伸缩压杆，所述伸缩压杆的底部设有压块；所述连接杆的顶部设有竖直穿过所述横杆的导向杆，所述导向杆上套设有压紧弹簧，所述压紧弹簧的两端分别抵压在所述横杆和所述连接杆上，且所述导向杆的顶部设有限位把手。

2.如权利要求1所述的集成电路测试压紧装置，其特征在于，所述伸缩压杆包括外杆和内杆，所述内杆的一端插入所述外杆，且所述内杆插入所述外杆内的部分通过驱动弹簧抵压连接。

3.如权利要求1所述的集成电路测试压紧装置，其特征在于，所述压块为橡胶块。

4.如权利要求1所述的集成电路测试压紧装置，其特征在于，所述伸缩压杆的顶部连接有滑块，所述连接杆的底部设有滑槽，所述滑块在所述滑槽内滑动。

5.如权利要求4所述的集成电路测试压紧装置，其特征在于，所述滑块上嵌设有第一磁铁块，所述滑槽的顶壁嵌设有与所述第一磁铁块磁性连接的第二磁铁块。

技术总结
本技术公开了一种集成电路测试压紧装置，压紧装置包括：固定在测试底座两侧的立杆，两立杆的顶部转动连接有一横杆。横杆的两端的侧壁上均设有弹性定位销，立杆上设有与弹性定位销配合的定位槽。横杆的下方设有连接杆，连接杆的底部设有伸缩压杆，伸缩压杆的底部设有压块。连接杆的顶部设有竖直穿过横杆的导向杆，导向杆上套设有压紧弹簧，压紧弹簧的两端分别抵压在横杆和连接杆上，且导向杆的顶部设有限位把手。本技术的有益效果：使用时，只需要通过限位把手拉动连接杆带动伸缩压杆及压块移动一小段行程，使其脱离集成电路芯片，然后转动横杆，即可不妨碍操作人员从测试槽内取放集成电路芯片，使用非常方便。

技术研发人员：丁向东,徐春雷,孙大秀
受保护的技术使用者：深圳市英赛尔电子有限公司
技术研发日：20230228
技术公布日：2024/1/13