干法测试系统的下料装置的制作方法

本技术涉及粒度分析设备，特别涉及一种干法测试系统的下料装置。

背景技术：

1、在激光粒度分析仪的干法测试系统里，干法进样器是输送和分散样品的核心设备，测试人员将样品放置在干法进样器的下料装置，下料装置设于直线振动器上，通过控制单元控制直线振动器工作，使得下料装置均匀的将样品送入分散装置，最后分散好的样品通过压缩空气输送至激光粒度分析仪主机里进行测量。下料装置的核心功能是精确控制样品下料的多少，下料的多少和分散后的样品浓度成正比，样品浓度高会造成激光二次散射和样品之间相互粘连，对测量结果有致命影响。

2、现阶段，粉体颗粒状的样品受振动和静电影响，会造成样品团聚，团聚的样品造成下料装置的出料口出料不顺畅甚至出料口堵塞，最终使得下料装置无法精确控制样品的下料。

技术实现思路

1、本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型提出一种干法测试系统的下料装置，能够精准的进行下料。

2、根据本实用新型实施例的干法测试系统的下料装置，包括下料盘、调节件和振荡组件，下料装置使用的时候，下料盘与直线振动器连接等外部振动源设备连接，直线振动器连接等外部振动源设备驱使下料盘振动。所述下料盘设有出料口，所述下料盘用于收纳样品，将需要投进粒度分析仪的样品上料在下料盘。所述调节件可调节地设于所述出料口以调节所述出料口开启面积的大小，所述出料口开启面积的大小决定下料盘下料的速度以及下料的量。所述振荡组件可以采用与所述调节件或所述下料盘连接的方式设置，所述振荡组件设于所述调节件的内侧以振碎靠近所述出料口的所述样品。

3、至少具有如下有益效果：下料盘下料的时候，下料盘内的样品朝向出料口移动，振荡组件与靠近所述出料口的所述样品接触，振荡组件不断的振动，进而将样品振碎，特别是将团聚的样品振碎为分散的样品，样品可顺利地通过出料口，进而可实现精准地控制下料的速度和下料的量。

4、根据本实用新型的一些实施例，还包括固定块，所述固定块上设有限位槽，所述下料盘设于所述限位槽内。

5、根据本实用新型的一些实施例，所述调节件与所述固定块或所述下料盘位置可调地连接。

6、根据本实用新型的一些实施例，还包括紧固件，所述调节件上设有腰型孔，所述紧固件穿过所述腰型孔并与所述固定块或所述下料盘连接。

7、根据本实用新型的一些实施例，所述调节件包括遮挡部以及分设于所述遮挡部两侧的两个连接部，两个所述连接部上均设有所述腰型孔，所述遮挡部伸入所述出料口。

8、根据本实用新型的一些实施例，所述振荡组件为弹簧。

9、根据本实用新型的一些实施例，所述调节件的内侧设有挂耳，所述振荡组件的两端分别挂在两个所述挂耳上。

10、根据本实用新型的一些实施例，两个所述挂耳的两个相互背离的侧面均设有扣槽，所述振荡组件的两端分别扣在两个所述扣槽。

11、根据本实用新型的一些实施例，所述下料盘的上表面设有用于收纳样品的收纳槽，所述出料口设于所述下料盘的侧面并与所述收纳槽连通。

12、本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

技术特征：

1.干法测试系统的下料装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的干法测试系统的下料装置，其特征在于：还包括固定块，所述固定块上设有限位槽，所述下料盘设于所述限位槽内。

3.根据权利要求2所述的干法测试系统的下料装置，其特征在于：所述调节件与所述固定块或所述下料盘位置可调地连接。

4.根据权利要求2或3所述的干法测试系统的下料装置，其特征在于：还包括紧固件，所述调节件上设有腰型孔，所述紧固件穿过所述腰型孔并与所述固定块或所述下料盘连接。

5.根据权利要求4所述的干法测试系统的下料装置，其特征在于：所述调节件包括遮挡部以及分设于所述遮挡部两侧的两个连接部，两个所述连接部上均设有所述腰型孔，所述遮挡部伸入所述出料口。

6.根据权利要求1所述的干法测试系统的下料装置，其特征在于：所述振荡组件为弹簧。

7.根据权利要求6所述的干法测试系统的下料装置，其特征在于：所述调节件的内侧设有挂耳，所述振荡组件的两端分别挂在两个所述挂耳上。

8.根据权利要求7所述的干法测试系统的下料装置，其特征在于：两个所述挂耳的两个相互背离的侧面均设有扣槽，所述振荡组件的两端分别扣在两个所述扣槽。

9.根据权利要求1所述的干法测试系统的下料装置，其特征在于：所述下料盘的上表面设有用于收纳样品的收纳槽，所述出料口设于所述下料盘的侧面并与所述收纳槽连通。

技术总结
本技术公开了一种干法测试系统的下料装置，包括下料盘、调节件和振荡组件。下料盘设有出料口，下料盘用于收纳样品。调节件可调节地设于出料口以调节出料口开启面积的大小，出料口开启面积的大小决定下料盘下料的速度以及下料的量。振荡组件设于调节件的内侧以振碎靠近出料口的样品。下料盘下料的时候，振荡组件与靠近出料口的样品接触，振荡组件不断的振动，进而将样品振碎，特别是将团聚的样品振碎为分散的样品，样品可顺利地通过出料口，进而可实现精准地控制下料的速度和下料的量。

技术研发人员：陈浩
受保护的技术使用者：珠海欧美克仪器有限公司
技术研发日：20230329
技术公布日：2024/1/15