一种自校正测厚装置的制作方法

本技术涉及测厚，具体涉及一种自校正测厚装置。

背景技术：

1、薄膜测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量;如图1所示，现有的测厚装置通常为固定，无法实时调整装置的位置，再加上测厚过程中有干扰杂波的存在，在连续工作时会产生误差无法进行校准，因此，提供一种能够对测厚仪进行实时的厚度校正的自校正测厚装置是很有必要的。

技术实现思路

1、本实用新型要解决的技术问题是：提供一种能够在测量薄膜厚度时不受干扰并且可以实时调整检测位置的装置。

2、本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种自校正测厚装置，包括：一对镜像设置的底座本体，所述底座之间滑动设置有检测机构；所述检测机构的一端设置有停放区域，另一端设置有校正区域，所述校正区域内设置有校正板，以及所述检测机构设置有检测间隙，待测件穿过所述检测间隙。

3、进一步地，所述底座本体之间设置有若干支撑梁，所述支撑梁横向设置，且所述支撑梁的两端分别贴合所述底座本体的侧壁；所述支撑梁的一侧开设有滑槽，所述滑槽贯穿所述支撑梁，所述滑槽内滑动有滑块，所述滑块包括滑动座和设置在所述滑动座上的滑头，所述滑头的顶部和两个长沿侧壁，分别贴合所述滑槽的底壁和侧壁。

4、进一步地，所述检测机构包括镜像设置的检测头，所述检测头的一侧设置有安装板，所述滑动座的底部设置在所述安装板上。

5、进一步地，所述滑头与所述滑头贴合所述滑槽底部的一侧均开设有半圆孔，两个所述半圆孔拼合成一个圆孔，所述圆孔内插接有限位柱，所述限位柱的外圈与所述圆孔的侧壁贴合。

6、进一步地，所述底座本体的外侧设置有若干同步轮，所述同步轮上套设有同步带，所述同步轮的高度与所述滑槽的高度相同，所述底座本体上开设有若干适于所述同步带穿过的连接孔，所述同步带穿过所述连接孔在所述支撑梁的两侧滑动。

7、进一步地，所述底座本体的外侧设置有若干同步轮，所述同步轮上套设有同步带，所述同步轮的高度与所述滑槽的高度相同，所述底座本体上开设有若干适于所述同步带穿过的连接孔，所述同步带穿过所述连接孔在所述支撑梁的两侧滑动。

8、进一步地，所述安装板上设置有若干安装块，且所述安装块设置在所述滑块的两侧，所述安装块上设置有压紧块，所述压紧块将所述同步带设置在所述安装块上。

9、进一步地，所述底座本体的一侧设置有固定板，所述固定板的同侧设置有配合板，所述配合板设置在所述底座本体上，所述固定板和所述配合板上转动设置有同步轴，所述同步轮设置在所述同步轴的两端。

10、进一步地，所述同步轴上同轴设置有第一齿轮，所述第一齿轮固定在所述同步轴上，所述固定板上设置有同步电机，所述同步电机的转动端上设置有第二齿轮，所述第一齿轮与所述第二齿轮啮合。

11、进一步地，所述底座本体的底部插接有螺纹杆，所述螺纹杆上设置有支脚。

12、进一步地，所述底座本体上开设有若干调节孔，所述调节孔的两侧设置有限位环，所述限位环的内圈设置有与所述螺纹杆适配的螺纹，所述螺纹杆穿过所述调节孔后，所述限位环向所述调节孔的一侧拧紧，所述限位环的相对的一侧分别贴合所述调节孔的两端。

13、本实用新型的有益效果是：

14、1、实时调整测厚装置位置，可以准确测出待测件的厚度。

15、2、避免了测厚装置受到干扰波影响，提高了工作效率。

技术特征：

1.一种自校正测厚装置，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的自校正测厚装置，其特征在于，

3.如权利要求2所述的自校正测厚装置，其特征在于，

4.如权利要求3所述的自校正测厚装置，其特征在于，

5.如权利要求4所述的自校正测厚装置，其特征在于，

6.如权利要求5所述的自校正测厚装置，其特征在于，

7.如权利要求6所述的自校正测厚装置，其特征在于，

8.如权利要求7所述的自校正测厚装置，其特征在于，

9.如权利要求8所述的自校正测厚装置，其特征在于，

10.如权利要求9所述的自校正测厚装置，其特征在于，

技术总结
本技术涉及测厚技术领域，具体涉及一种自校正测厚装置。本技术包括一对镜像设置的底座本体，所述底座之间滑动设置有检测机构；所述检测机构的一端设置有停放区域，另一端设置有校正区域，所述校正区域内设置有校正板，以及所述检测机构设置有检测间隙，待测件穿过所述检测间隙。所述检测机构滑动到工作区域并且通过超声波准确测出薄膜的厚度，精准度高，保证了产品的质量。

技术研发人员：彭智,李赛赛
受保护的技术使用者：蓝冰河（常州）精密测量技术有限责任公司
技术研发日：20230402
技术公布日：2024/1/13