光学检测系统及检测装置的制作方法

文档序号:35493449发布日期:2023-09-17 02:35阅读:34来源:国知局
光学检测系统及检测装置的制作方法

本申请涉及检测,特别是涉及光学检测系统及检测装置。


背景技术:

1、现有技术中,由于光学检测系统对照射在待测目标上的光束的总光强有一定要求,在所需总光强较高时,通常会采用两个以上光源发射光源光束并通过相应的光学器件照射在待测目标上,从而使得待测目标接收到的光束的总光强能够满足需求。

2、现有技术的缺陷在于,现有光学系统中,由于需要将两个以上光源发射的光源光束分别通过相应光学器件引导至成像系统上,使得光学系统整体结构过于复杂且庞大,从而使得光源光束经待测目标生成的待测光束从待测目标处到传感模块处的距离过大,进而导致待测光束在被传感模块接收前因其光路过长而衰弱严重,为弥补该衰弱则需要提高光源的发光功率,综上,现有的光学检测系统的光能利用率较低。


技术实现思路

1、本申请主要解决的技术问题是如何光学检测系统的提高光能利用率。

2、为了解决上述技术问题,本申请采用的第一个技术方案是:一种光学检测系统,包括至少一个第一光源、至少一个第一反射件、分光模块、第二光源和传感模块;第一光源用于向相应的第一反射件发射第一光束;第一反射件用于对第一光束进行反射,以使反射后的第一光束向待测目标发射;第二光源用于向分光模块发射第二光束;分光模块用于对第二光束的一部分进行反射,以使反射后的第二光束向待测目标发射,并用于对从待测目标处发射的部分光束的进行透射,以使透射后的光束向传感模块发射;传感模块用于对接收到的光束进行光电转换,以得到待测目标的检测数据。

3、其中,光学检测系统还包括第二反射件,第二反射件用于对第二光束进行反射,以使反射后的光束向分光模块发射。

4、其中,第二反射件为弧面反射件,弧面反射件的凹面为用于对光束进行反射的反射面。

5、其中,光学检测系统包括两个第一光源和两个第一反射件;两个第一光源对称设置于从待测目标向分光模块发射的光束的光轴两侧,两个第一反射件分别位于从待测目标向分光模块发射的光束的光轴两侧。

6、其中,第一反射件为弧面反射件,弧面反射件的凹面为用于对光束进行反射的反射面。

7、其中,分光模块的受光面与从待测目标向分光模块发射的光束的光轴之间的夹角为45度。

8、其中,第二反射件反射后的光束的光轴与从待测目标向分光模块发射的光束的光轴垂直。

9、其中,第二光源为平行光源或点光源或汇聚光源。

10、其中,光学检测系统还包括检测平台,检测平台的放置面用于放置待测目标,放置面与从待测目标向分光模块发射的光束的光轴垂直。

11、为了解决上述技术问题,本申请采用的第二个技术方案是:一种检测装置,包括如上述光学检测系统。

12、本申请的有益效果在于:区别于现有技术,本申请的技术方案中,在传感模块与待测目标之间仅设置有一分光模块,第一光源所发射的第一光束经过第一反射件的反射而照射在待测目标上,而第二光源所发射的第二光束则经过该分光模块的反射而照射在待测目标上,待测目标在被第一光束和第二光束照射后会产生相应的光束,该光束从待测目标处向分光模块发射,传感模块能够接收到由分光模块透射的部分该光束,以进行光电转换得到相应的用于进行检测分析的电信号,基于上述方式,在所构建的光学检测系统中,使得光束从待测目标处到传感模块处之间并不存在多个反射器件或多个透射器件,而是仅存在一个用于部分透光的分光模块,使得从待测目标处发射并被传感模块接收的光束的光路总长度较短,减小该光束的衰弱幅度,提高了光学检测系统的光能的利用率。



技术特征:

1.一种光学检测系统,其特征在于,包括至少一个第一光源、至少一个第一反射件、分光模块、第二光源和传感模块;

2.根据权利要求1所述的光学检测系统,其特征在于,所述光学检测系统还包括第二反射件,所述第二反射件用于对所述第二光束进行反射,以使反射后的光束向所述分光模块发射。

3.根据权利要求2所述的光学检测系统,其特征在于,所述第二反射件为弧面反射件,所述弧面反射件的凹面为用于对光束进行反射的反射面。

4.根据权利要求1至3任一项所述的光学检测系统,其特征在于,所述光学检测系统包括两个所述第一光源和两个所述第一反射件;

5.根据权利要求1至3任一项所述的光学检测系统,其特征在于,所述第一反射件为弧面反射件,所述弧面反射件的凹面为用于对光束进行反射的反射面。

6.根据权利要求1至3任一项所述的光学检测系统,其特征在于,所述分光模块的受光面与从所述待测目标向所述分光模块发射的光束的光轴之间的夹角为45度。

7.根据权利要求2或3所述的光学检测系统,其特征在于,所述第二反射件反射后的光束的光轴与从所述待测目标向所述分光模块发射的光束的光轴垂直。

8.根据权利要求1至3任一项所述的光学检测系统,其特征在于,所述第二光源为平行光源或点光源或汇聚光源。

9.根据权利要求1至3任一项所述的光学检测系统,其特征在于,所述光学检测系统还包括检测平台,所述检测平台的放置面用于放置所述待测目标,所述放置面与从所述待测目标向所述分光模块发射的光束的光轴垂直。

10.一种检测装置,其特征在于,包括如权利要求1至9任一项所述的光学检测系统。


技术总结
本申请公开了光学检测系统及检测装置,该光学检测系统包括至少一个第一光源、至少一个第一反射件、分光模块、第二光源和传感模块;第一光源用于向相应的第一反射件发射第一光束;第一反射件用于对第一光束进行反射,以使反射后的第一光束向待测目标发射;第二光源用于向分光模块发射第二光束;分光模块用于对第二光束的一部分进行反射,以使反射后的第二光束向待测目标发射,并用于对从待测目标处发射的部分光束的进行透射,以使透射后的光束向传感模块发射;传感模块用于对接收到的光束进行光电转换,以得到待测目标的检测数据。基于上述方式,可提高光学检测系统的光能利用率。

技术研发人员:原进良,曹沿松,乔文龙,赵楠楠,徐跃凯
受保护的技术使用者:奥蒂玛光学科技(深圳)有限公司
技术研发日:20230331
技术公布日:2024/1/14
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