一种包含不共地被测支路的电子产品电路板的测试电路的制作方法

本技术属于电子产品的测试技术，尤其涉及消费类电子产品电路板的测试技术。

背景技术：

1、消费类电子产品—譬如电动理发剪、电动剃须刀、电吹风机、电动吸奶器、led灯具、电动牙刷以及电池供电的电动工具等已广泛应用于市场。在上述电子产品的测试中，为了节省成本，普遍采用被测产品与测试电路共用同一个电源，二者在电路上是共地的。然而，当被测产品存在两组或两组以上与测试电路不共地的电压需要进行测量时，通常需要两个或两个以上的单片机进行采样和测量，并需要各自通过与上位机通讯的方式发送测量数据，由上位机进行比较并将测量结果予以显示或用于其它状态执行的条件。由于需要设置两组以上电源或者使用两个以上单片机以及涉及两级控制和它们之间的通讯，不仅测试装置成本较高，同时也增加了测试装置的复杂程度。

技术实现思路

1、针对上述技术问题，本实用新型提供一种包含不共地被测支路的电子产品电路板的测试电路，该电路在原有测试电路基础上，增加了单电源差分输入的ad采样单元，在同一个单片机的控制下，该差分输入的ad采样单元可以采样与测试电路不共地的电压信号，并通过该ad采样单元所具有的i2c通讯功能将采样数据发送给单片机，单片机对所接收的数据进行处理并予以比较和判断。依照上述方式，可以扩展多路单电源差分输入ad采样单元，构成多支路不共地采样单元，以满足不同消费类电子产品的检测需求。

2、本实用新型的技术方案如下：

3、一种包含不共地被测支路的电子产品电路板的测试电路，包括被测产品电路板、测试电路、与被测产品电路板和测试电路连接的电源，所述被测成品电路板包括至少一个与测试电路连接并与测试电路共地的被测支路，所述测试电路包括微处理器，所述被测产品电路板还至少包括一个与测试电路不共地的被测支路，在该被测支路与测试电路之间设有第一差分采样单元，该差分采样单元测取与测试电路不共地被测支路的电信号，并经数据处理后发送给测试电路微处理器对应接口。

4、进一步地，所述第一差分采样单元包括与被测产品电路板电池正极连接的第一输入端和与第一被测支路连接的第二输入端，以及与微处理器第一接口连接的第一输出端和与微处理器第二接口连接的第二输出端。

5、优选地，所述第一差分采样单元包括第一集成芯片、连接于第一集成芯片第一管脚与电源正极之间的第一电阻、连接于第一集成芯片第一管脚与第六管脚之间的第一电容，以及第一集成芯片第六管脚与第一被测支路第二输入端连接，第一集成芯片第三管脚与微处理器第一接口连接，第一集成芯片第四管脚与微处理器第二接口连接，第一集成芯片第二管脚接公共地，第一集成芯片第五管脚接电源正极。

6、在上述技术方案的基础上，还可以包括与第一差分单元类似的第二差分采样单元，该第二差分采样单元包括与被测产品电路板电源正极连接的第三输入端和与第二被测支路连接的第四输入端，以及与微处理器第一接口连接的第三输出端和与微处理器第二接口连接的第四输出端。于此类推，可以扩展为多支路不共地差分采样单元。各差分采样单元的输出端可以与采用分时轮流采样方式的同一微处理机输入接口连接，也可以采用各差分采样单元的输出端与微处理机多个对应的输入接口连接。

7、优选地，在上述技术方案中，所述微处理器型号为stm8s103，所述第一集成芯片和第二集成芯片型号为ads1100，所述电源为可充电锂电池。

8、与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

9、由于采用了单电源差分输入的ad采样单元以及该单元所具有的i2c通讯功能，在同一个单片机的控制下，实现与测试装置不共地的被测电子产品的电压信号的测量。与多单片机结构相比，具有电路结构简单，控制软件编程容易，工作可靠性高，维护成本低，不仅大大降低了测试设备成本，而且易于推广应用。

技术特征：

1.一种包含不共地被测支路的电子产品电路板的测试电路，包括被测产品电路板、测试电路、与被测产品电路板和测试电路连接的电源，所述被测产品电路板包括至少一个与测试电路连接并与测试电路共地的被测支路，所述测试电路包括微处理器，其特征是：所述被测产品电路板还至少包括一个与测试电路不共地的被测支路，在该被测支路与测试电路之间设有第一差分采样单元，该差分采样单元测取与测试电路不共地被测支路的电信号，并经数据处理后发送给测试电路微处理器对应接口。

2.根据权利要求1所述的包含不共地被测支路的电子产品电路板的测试电路，其特征是：所述第一差分采样单元包括与被测产品电路板电源正极连接的第一输入端和与第一被测支路连接的第二输入端，以及与微处理器第一接口连接的第一输出端和与微处理器第二接口连接的第二输出端。

3.根据权利要求2所述的包含不共地被测支路的电子产品电路板的测试电路，其特征是：所述第一差分采样单元包括第一集成芯片、连接于第一集成芯片第一管脚与电源正极之间的第一电阻、连接于第一集成芯片第一管脚与第六管脚之间的第一电容，以及第一集成芯片第六管脚与第一被测支路第二输入端连接，第一集成芯片第三管脚与微处理器第一接口连接，第一集成芯片第四管脚与微处理器第二接口连接，第一集成芯片第二管脚接公共地，第一集成芯片第五管脚接电池正极。

4.根据权利要求1所述的包含不共地被测支路的电子产品电路板的测试电路，其特征是：还包括与第一差分单元类似的第二差分采样单元，该第二差分采样单元包括与被测产品电路板电源正极连接的第三输入端和与第二被测支路连接的第四输入端，以及与微处理器第一接口连接的第三输出端和与微处理器第二接口连接的第四输出端。

5.根据权利要求1所述的包含不共地被测支路的电子产品电路板的测试电路，其特征是：所述微处理器型号为stm8s103，所述电源为锂电池。

6.根据权利要求3所述的包含不共地被测支路的电子产品电路板的测试电路，其特征是：所述第一集成芯片和第二集成芯片型号为ads1100。

技术总结
本技术提供一种包含不共地被测支路的电子产品电路板的测试电路，包括单电源差分输入的AD采样单元，在同一个单片机的控制下，该差分输入的AD采样单元可以采样与测试电路不共地的电压信号，并通过该AD采样单元所具有的I<supgt;2</supgt;C通讯功能将采样数据发送给单片机，单片机对所接收的数据进行处理并予以比较和判断。依照上述方式，可以扩展多路单电源差分输入AD采样单元，构成多支路不共地采样单元，以满足不同消费类电子产品的检测需求。

技术研发人员：张学龙,何运俊
受保护的技术使用者：宁波壹科芯电子科技有限公司
技术研发日：20230413
技术公布日：2024/1/14