一种老化测试装置的制作方法

本技术涉及芯片测试领域，尤其涉及一种老化测试装置。

背景技术：

1、现有技术中的老化测试装置，包括支撑座和压紧座，支撑座用于承载需要测试的工件，压紧座用于将工件压紧固定在支撑座上，压紧座通过螺丝固定在支撑座，在每一次检测产品时，都需要重新拆卸并安装压紧座，压紧座的安装较为麻烦，这降低了工件老化测试的效率。

2、有鉴于此，需要设计一种老化测试装置，以提升工件老化测试的效率。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种老化测试装置，以提升工件老化测试的效率。

2、为达此目的，本实用新型采用以下技术方案：

3、一种老化测试装置，包括支撑座和用于将工件压紧在所述支撑座上的下压转架，所述下压转架通过转动轴与所述支撑座转动连接；

4、所述支撑座上设置有第一卡勾，所述下压转架包括架体、滑动架和安装在所述滑动架上的第二卡勾，所述滑动架滑动设置在所述架体远离所述转动轴的一端；

5、所述滑动架用于带动所述第二卡勾沿第一方向往返移动，以使所述第一卡勾、所述第二卡勾相互分离或者相互卡接。

6、可选地，所述第一卡勾具有第一勾紧平面，所述第二卡勾具有第二勾紧平面；

7、当所述下压转架绕所述转动轴转动压合在所述支撑座上时，所述第一勾紧平面平行于所述第二勾紧平面，且所述滑动架的滑动方向平行于所述第一勾紧平面。

8、可选地，所述第一卡勾的顶面为平面；

9、当所述下压转架绕所述转动轴转动压合在所述支撑座上时，所述第一卡勾的顶面贴合所述下压转架。

10、可选地，所述架体上还设置有贯穿的滑动槽，所述滑动槽的中心线垂直于所述第一方向；

11、所述滑动槽中滑动安装有压板，所述压板连接有用于向工件施压的压块，且所述压板和所述压块之间设置有弹性件；

12、所述架体包括用于推动所述压板沿所述滑动槽滑动的施压组件。

13、可选地，所述施压组件包括安装在架体上的顶架和与所述顶架转动连接的l形件；

14、所述l形件的一端设置有用于推动所述压板沿所述滑动槽滑动的压紧滚轮，另一端形成握柄。

15、可选地，当所述压块压紧工件时，所述握柄位于所述滑动架和所述架体之间，且此时所述第一卡勾和所述第二卡勾相互卡接。

16、可选地，所述支撑座上还设置有用于冷却工件的进风流道；

17、所述支撑座上还连接有涡流风扇，所述涡流风扇的出风口连通所述进风流道。

18、可选地，所述支撑座上设置有n个第一测试探针和m个第二测试探针；

19、所述n个第一测试探针排列设置，所述m个第二测试探针排列设置，且所述第一测试探针的最大电流大于所述第二测试探针的最大电流。

20、可选地，老化测试装置还包括线路板和底板；所述支撑座安装在所述线路板上，且所述线路板分别连接所述第一测试探针和所述第二测试探针；所述线路板安装在所述底板上。

21、可选地，所述架体连接有用于拉动所述滑动架向靠近所述架体方向滑动的弹簧。

22、与现有技术相比，本实用新型具有以下有益效果：

23、本实施例中，下压转架转动安装在支撑座上，当需要放入工件时可以通过滑动架带动第二卡勾移动以使第一卡勾和第二卡勾相互分离，从而转动下压转架以放入工件；工件放入至支撑座后，反向转动下压转架，并通过滑动架带动第二卡勾移动以使第一卡勾和第二卡勾相互卡接，从而保持下压转架对工件的压紧力度，使工件固定在支撑座和下压转架之间进行测试。本实施例的老化测试装置，无需拆卸螺丝，能有效节省拆卸螺丝的时间，有利于提升上、下料的速度，从而有效提升了工件老化测试的效率

技术特征：

1.一种老化测试装置，其特征在于，包括支撑座(1)和用于将工件压紧在所述支撑座(1)上的下压转架(2)，所述下压转架(2)通过转动轴(3)与所述支撑座(1)转动连接；

2.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于，所述第一卡勾(11)具有第一勾紧平面，所述第二卡勾(23)具有第二勾紧平面；

3.根据权利要求2所述的老化测试装置，其特征在于，所述第一卡勾(11)的顶面为平面；

4.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于，所述架体(21)上还设置有贯穿的滑动槽(211)，所述滑动槽(211)的中心线垂直于所述第一方向；

5.根据权利要求4所述的老化测试装置，其特征在于，所述施压组件(25)包括安装在架体(21)上的顶架(251)和与所述顶架(251)转动连接的l形件(252)；

6.根据权利要求5所述的老化测试装置，其特征在于，当所述压块压紧工件时，所述握柄(254)位于所述滑动架(22)和所述架体(21)之间，且此时所述第一卡勾(11)和所述第二卡勾(23)相互卡接。

7.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于，所述支撑座(1)上还设置有用于输入气流以冷却工件的进风流道(101)；

8.根据权利要求1所述的老化测试装置，其特征在于，所述支撑座(1)上设置有n个第一测试探针和m个第二测试探针；

9.根据权利要求8所述的老化测试装置，其特征在于，还包括线路板(5)和底板(6)；所述支撑座(1)安装在所述线路板(5)上，且所述线路板(5)分别连接所述第一测试探针和所述第二测试探针；所述线路板(5)安装在所述底板(6)上。

10.根据权利要求9所述的老化测试装置，其特征在于，所述架体(21)连接有用于拉动所述滑动架(22)向靠近所述架体(21)方向滑动的弹簧。

技术总结
本技术涉及芯片测试领域，公开了一种老化测试装置，包括支撑座和用于将工件压紧在所述支撑座上的下压转架，所述下压转架通过转动轴与所述支撑座转动连接；所述支撑座上设置有第一卡勾，所述下压转架包括架体、滑动架和安装在所述滑动架上的第二卡勾，所述滑动架滑动设置在所述架体远离所述转动轴的一端；所述滑动架用于带动所述第二卡勾沿第一方向往返移动，以使所述第一卡勾、所述第二卡勾相互分离或者相互卡接。本技术的老化测试装置，能有利于提升工件老化测试的效率。

技术研发人员：张晓锋,刘月敏,梁发年
受保护的技术使用者：深圳市联合东创科技有限公司
技术研发日：20230427
技术公布日：2024/1/15