一种开尔文探针式全尺寸防转动的测试治具的制作方法

本技术涉及半导体测试治具，具体为一种开尔文探针式全尺寸防转动的测试治具。

背景技术：

1、芯片又称集成电路，是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，在芯片的生产过程中，性能测试是其中重要的一环，其中开尔文测试一般用于有大电流要求或精密电阻测试要求的芯片测试。

2、现有的socket pogopin伸出测试部分没有导向，因pogopin的头部结构，会收到侧向力的影响，随着测试次数增加，开尔文测试针头间距会外扩，导致测试不良；ic芯片在放置时一般通过定位销对每个ic芯片进行定位，定位较为繁琐，从而影响了ic芯片放置时的便利程度。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种开尔文探针式全尺寸防转动的测试治具，以解决上述背景技术中提出测试治具使用时开尔文测试针头间距会外扩，导致测试不良，以及ic芯片放置时的便利程度低的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种开尔文探针式全尺寸防转动的测试治具，包括测试座，所述测试座的底部安装有底板，所述底板表面的两侧皆开设有防脱孔，所述测试座的表面通过螺钉安装有限位板，所述限位板的上方设置有浮动板，所述限位板内部的两侧皆安装有测试探针，所述测试探针与底板相互配合，所述测试探针的底部贯穿防脱孔，所述浮动板的表面设置有防转动机构，所述防转动机构由防转动构件、导向杆和伸缩弹簧组成，所述浮动板的表面设置有用于放置ic芯片的快速放置机构，所述快速放置机构的内部包括有定位放置部件和紧固螺栓。

3、优选的，所述浮动板表面的两侧皆设置有导向杆，所述导向杆的一端贯穿浮动板并与限位板的表面相固定连接，所述导向杆的表面套装有伸缩弹簧，所述伸缩弹簧的两端分别与限位板和浮动板的表面相固定连接，所述浮动板表面的两侧皆镶嵌有防转动构件，所述防转动构件与测试探针相互配合。

4、优选的，所述防转动构件的内部包括有引脚插槽、防转动凸台和限位槽，所述浮动板表面的两侧皆镶嵌有防转动凸台，所述防转动凸台的表面开设有引脚插槽，所述引脚插槽与间距为0.35mm-0.7mm，长度为0.1mm～0.6mm,宽度为0.1mm～0.3mm的引脚相匹配。

5、优选的，所述测试探针顶部位置处的一侧开设有限位槽，所述限位槽与防转动凸台相互插接配合，当伸缩弹簧处于正常状态时，防转动凸台远离限位槽。

6、优选的，所述浮动板的表面设置有定位放置部件，所述定位放置部件通过紧固螺栓与浮动板拆卸连接。

7、优选的，所述定位放置部件由放置框架、定位板和滚珠组成，所述浮动板的表面设置有放置框架，所述放置框架的长度与ic芯片的长度相匹配。

8、优选的，所述放置框架表面的两侧皆螺纹连接有紧固螺栓，所述紧固螺栓的一端贯穿放置框架并与浮动板的表面螺纹紧固，所述放置框架内部的两侧皆固定有定位板，所述定位板的表面嵌入设置有滚珠。

9、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该开尔文探针式全尺寸防转动的测试治具不仅提升了测试良率和测试探针的使用寿命，而且提高了测试治具放置ic芯片时的便利程度；

10、1、通过设置有防转动机构，在伸缩弹簧的作用下使防转动凸台远离测试探针，使ic芯片引脚与测试探针不接触，测试时，首先对测试探针进行通电，随后按压芯片，使芯片带动浮动板向下运动，并在导向杆的作用下对浮动板进行导向，此时，防转动凸台套至限位槽的表面，在防转动凸台与限位槽的插接配合下对测试探针进行限位，防止测试探针间距外扩，通过防转动凸台抵消测试探针所受的侧向力，保持测试处于垂直状态，此时，引脚插槽内部的引脚与测试探针相接触，对芯片进行测试，以实现测试治具对测试探针的防转动功能，从而提升了测试良率和测试探针的使用寿命；

11、2、通过设置有快速放置机构，将放置框架放置浮动板表面的指定位置处，随后通过旋转紧固螺栓将放置框架与浮动板相固定，由于放置框架的长度与待测试ic芯片的长度相匹配，此时可将待测试ic芯片放至定位板之间，在放置框架的作用下对ic芯片的长度进行限位，在定位板的作用下对ic芯片的宽度进行限位，并在滚珠的作用下辅助ic芯片沿定位板放至放置框架的内部，使ic芯片的引脚插入引脚插槽的内部，待此芯片测试完成后可方便对同一尺寸的芯片进行快速放置测试，以实现测试治具对ic芯片的快速放置功能，从而提高了测试治具放置ic芯片时的便利程度。

技术特征：

1.一种开尔文探针式全尺寸防转动的测试治具，包括测试座(1)，其特征在于：所述测试座(1)的底部安装有底板(101)，所述底板(101)表面的两侧皆开设有防脱孔(104)，所述测试座(1)的表面通过螺钉安装有限位板(102)，所述限位板(102)的上方设置有浮动板(105)，所述限位板(102)内部的两侧皆安装有测试探针(103)，所述测试探针(103)与底板(101)相互配合，所述测试探针(103)的底部贯穿防脱孔(104)，所述浮动板(105)的表面设置有防转动机构(2)，所述防转动机构(2)由防转动构件(201)、导向杆(202)和伸缩弹簧(203)组成，所述浮动板(105)的表面设置有用于放置ic芯片的快速放置机构(3)，所述快速放置机构(3)的内部包括有定位放置部件(301)和紧固螺栓(302)。

2.根据权利要求1所述的一种开尔文探针式全尺寸防转动的测试治具，其特征在于：所述浮动板(105)表面的两侧皆设置有导向杆(202)，所述导向杆(202)的一端贯穿浮动板(105)并与限位板(102)的表面相固定连接，所述导向杆(202)的表面套装有伸缩弹簧(203)，所述伸缩弹簧(203)的两端分别与限位板(102)和浮动板(105)的表面相固定连接，所述浮动板(105)表面的两侧皆镶嵌有防转动构件(201)，所述防转动构件(201)与测试探针(103)相互配合。

3.根据权利要求2所述的一种开尔文探针式全尺寸防转动的测试治具，其特征在于：所述防转动构件(201)的内部包括有引脚插槽(2011)、防转动凸台(2012)和限位槽(2013)，所述浮动板(105)表面的两侧皆镶嵌有防转动凸台(2012)，所述防转动凸台(2012)的表面开设有引脚插槽(2011)，所述引脚插槽(2011)与间距为0.35mm-0.7mm，长度为0.1mm～0.6mm,宽度为0.1mm～0.3mm的引脚相匹配。

4.根据权利要求3所述的一种开尔文探针式全尺寸防转动的测试治具，其特征在于：所述测试探针(103)顶部位置处的一侧开设有限位槽(2013)，所述限位槽(2013)与防转动凸台(2012)相互插接配合，当伸缩弹簧(203)处于正常状态时，防转动凸台(2012)远离限位槽(2013)。

5.根据权利要求1所述的一种开尔文探针式全尺寸防转动的测试治具，其特征在于：所述浮动板(105)的表面设置有定位放置部件(301)，所述定位放置部件(301)通过紧固螺栓(302)与浮动板(105)拆卸连接。

6.根据权利要求5所述的一种开尔文探针式全尺寸防转动的测试治具，其特征在于：所述定位放置部件(301)由放置框架(3011)、定位板(3012)和滚珠(3013)组成，所述浮动板(105)的表面设置有放置框架(3011)，所述放置框架(3011)的长度与ic芯片的长度相匹配。

7.根据权利要求6所述的一种开尔文探针式全尺寸防转动的测试治具，其特征在于：所述放置框架(3011)表面的两侧皆螺纹连接有紧固螺栓(302)，所述紧固螺栓(302)的一端贯穿放置框架(3011)并与浮动板(105)的表面螺纹紧固，所述放置框架(3011)内部的两侧皆固定有定位板(3012)，所述定位板(3012)的表面嵌入设置有滚珠(3013)。

技术总结
本技术涉及半导体测试治具技术领域，具体为一种开尔文探针式全尺寸防转动的测试治具，包括测试座，所述测试座的底部安装有底板，所述底板表面的两侧皆开设有防脱孔，所述测试座的表面通过螺钉安装有限位板，所述限位板的上方设置有浮动板，所述限位板内部的两侧皆安装有测试探针，所述测试探针与底板相互配合，所述测试探针的底部贯穿防脱孔，所述浮动板的表面设置有防转动机构，所述防转动机构由防转动构件、导向杆和伸缩弹簧组成，所述浮动板的表面设置有用于放置IC芯片的快速放置机构。本技术不仅提升了测试良率和测试探针的使用寿命，而且提高了测试治具放置IC芯片时的便利程度。

技术研发人员：彭勇,包宏伟,王钊,马全喜,朱赟
受保护的技术使用者：池州华宇电子科技股份有限公司
技术研发日：20230509
技术公布日：2024/1/15