一种探针温度检测装置及探针组件的制作方法

本技术涉及设备检测，具体为一种探针温度检测装置及探针组件。

背景技术：

1、现有技术中，通常利用探针对产品(如pcb板等)进行检测，以评估其剩余使用寿命，但探针也有其使用寿命，因此需要适时更换探针，以保证检测结果的准确性。

2、目前，多采用单独对探针通电，然后用电桥测量法计算探针电阻，根据电阻值评估探针寿命，确定是否需要更换探针。但该方法需要设置电桥以及配套的其他设备，如测试夹、检流计等，且操作过程繁琐，如需要将测试夹住待测电阻两端，从最高位开始反复调试，直至检流计归零等，需要耗费大量的时间和人力，无法适应大批量检测的需求。

技术实现思路

1、本实用新型旨在解决现有技术或相关技术中存在的技术问题，其可以通过采样电阻间接获取探针的温度信息，进一步根据探针的温度信息判断探针的使用情况，以决定是否需要进行探针更换。

2、为此，本实用新型所采用的技术方案为：

3、一方面，提供了一种探针温度检测装置，其包括：

4、采样电阻；

5、导热层，其同时覆盖所述采样电阻和探针的表面；

6、电源，其连接所述采样电阻，用于向所述采样电阻提供电压；

7、放大电路，其连接所述采样电阻，用于对电压进行放大；

8、以及电阻计算单元，其连接所述放大电路，用于根据放大后的电压获得所述采样电阻的电阻值。

9、优选的，所述采样电阻为ptc热敏电阻或ntc热敏电阻。

10、优选的，所述导热层由高导热材料制成。

11、优选的，所述采样电阻与探针的距离为0.5-3cm。

12、优选的，所述放大电路300包括：第一电容c1、第二电容c2、第三电容c3、第四电容c4、第一电阻r1、第二电阻r2、第三电阻r3、第四电阻r4以及运算放大器u1；

13、所述第一电阻r1的第一端串联采样电阻100，第二端连接运算放大器u1的同相输入端；

14、所述第一电容c1的第一端连接所述第一电阻r1的第一端、第二端接地；

15、所述第二电阻r2的第一端连接所述第一电阻r1的第二端、第二端接地；

16、所述第二电容c2的第一端连接所述第一电阻r1的第二端、第二端接地；

17、所述第三电阻r3的第一端分别连接运算放大器u1的反相输入端以及输出端、第二端连接所述第四电阻r4的第一端；

18、所述第三电容c3的第一端连接所述第三电阻r3的第二端、第二端接地；

19、所述第四电容c4的第一端连接所述第四电阻r4的第二端、第二端接地；

20、以及所述第四电阻r4的第二端连接电阻计算单元。

21、优选的，所述放大电路还包括：第五电阻r5以及测试点tp，其中，所述第五电阻r5两端分别对应连接所述第三电阻r3的第二端以及测试点tp。

22、优选的，所述放大电路还包括：静电保护单元，其分别连接电源以及第四电阻r4的第一端。

23、优选的，所述静电保护单元为bav99开关二极管，其第一引脚、第二引脚分别对应连接电源以及接地，第三引脚连接第四电阻r4的第一端。

24、优选的，所述探针温度检测装置还包括：

25、报警单元，其连接所述电阻计算单元，用于当电阻计算单元获得的采样电阻电阻值超过阈值时产生报警信号。

26、另一方面，还提供了一种探针组件，其包括探针以及上述探针温度检测装置。

27、本实用新型具有如下有益技术效果：

28、本实用新型中的探针温度检测装置可以通过采样电阻间接获取探针的温度信息，进一步根据探针的温度信息判断探针的使用情况，以决定是否需要进行探针更换。

技术特征：

1.一种探针温度检测装置，其特征在于，包括：

2.如权利要求1所述的探针温度检测装置，其特征在于，所述采样电阻为ptc热敏电阻或ntc热敏电阻。

3.如权利要求2所述的探针温度检测装置，其特征在于，所述导热层由高导热材料制成。

4.如权利要求1所述的探针温度检测装置，其特征在于，所述采样电阻与探针的距离为0.5-3cm。

5.如权利要求1所述的探针温度检测装置，其特征在于，所述放大电路（300）包括：第一电容c1、第二电容c2、第三电容c3、第四电容c4、第一电阻r1、第二电阻r2、第三电阻r3、第四电阻r4以及运算放大器u1；

6.如权利要求5所述的探针温度检测装置，其特征在于，所述放大电路还包括：第五电阻r5以及测试点tp，其中，所述第五电阻r5两端分别对应连接所述第三电阻r3的第二端以及测试点tp。

7.如权利要求5所述的探针温度检测装置，其特征在于，所述放大电路还包括：静电保护单元，其分别连接电源以及第四电阻r4的第一端。

8.如权利要求7所述的探针温度检测装置，其特征在于，所述静电保护单元为bav99开关二极管，其第一引脚、第二引脚分别对应连接电源以及接地，第三引脚连接第四电阻r4的第一端。

9.如权利要求1所述的探针温度检测装置，其特征在于，所述探针温度检测装置还包括：

10.一种探针组件，其特征在于，包括探针以及权利要求1-9任一项所述的探针温度检测装置。

技术总结
本技术具体为一种种探针温度检测装置及探针组件，其包括：采样电阻；导热层，其同时覆盖所述采样电阻和探针的表面；电源，其连接所述采样电阻，用于向所述采样电阻提供电压；放大电路，其连接所述采样电阻，用于对电压进行放大；以及电阻计算单元，其连接所述放大电路，用于根据放大后的电压获得所述采样电阻的电阻值。本申请可以通过采样电阻间接获取探针的温度信息，进一步根据探针的温度信息判断探针的使用情况，以决定是否需要进行探针更换。

技术研发人员：李少华,邓卫华,昝国骥,阮班栋,董雷,高腾,汪洋,黄文章,程航,潘懋舜
受保护的技术使用者：武汉永力睿源科技有限公司
技术研发日：20230515
技术公布日：2024/1/14