一种高温偏置试验测试板的制作方法

本技术属于测试板领域，特别涉及一种高温偏置试验测试板。

背景技术：

1、一种使用持续时间较短的高温偏置试验过程称为老化试验，可用于筛选封装芯片与早夭失效相关的故障。该测试用于确定偏置条件和温度对固态器件随时间变化的影响。它以加速的方式模拟设备的运行条件，主要用于器件鉴定和可靠性监控。目前分立器件封装种类繁多，针对不同的封装所需测试板有所不同，从而需要制作不同封装的测试板来满足不同封装器件的测试需求，使用通用型老化试验测试板可以大大提高效率，节约成本投入。

技术实现思路

1、为了解决上述不同封装需要不同的测试板的技术问题，本实用新型提供了一种高温偏置试验测试板。具体的，本实用新型的技术方案如下：一种高温偏置试验测试板，包括：若干个测试电路，所述测试电路包括：跳线电路、测试模块和保护电路；

2、所述跳线电路包括：第一跳线插孔、第二跳线插孔和可分离连接在所述第一跳线插孔和所述第二跳线插孔之间的跳线；

3、所述测试模块包括：第一引脚插孔、第二引脚插孔和第三引脚插孔；所述第一引脚插孔通过所述保护电路与电源电连接；所述第二引脚插孔与所述第一跳线插孔电连接；所述第三引脚插孔与所述第二跳线插孔电连接，所述第三引脚插孔还与接地端连接。

4、测试时具有两种状态：第一测试状态，所述跳线与所述第一跳线插孔和所述第二跳线插孔连接，用于低压三引脚封装芯片试验；

5、第二测试状态，所述跳线不与所述第一跳线插孔和所述第二跳线插孔连接，用于高压双引脚封装芯片试验。

6、通过跳线的不同设置，使测试板既可以进行低压三引脚封装芯片试验，也可以进行高压双引脚封装芯片试验，从而实现不需要更换测试板即可进行两种测试。

7、在一些实施方式中，所述保护电路包括：过载保护器和保护电阻；所述过载保护器与电源电连接，所述保护电阻一端与所述过载保护器电连接，另一端与所述第一引脚插孔电连接。

8、通过设置保护电路，保护测试模块及测试器件免受过电压和过电流的影响而损坏。

9、在一些实施方式中，所述第一引脚插孔、所述第二引脚插孔和所述第三引脚插孔中均设置一金属弹片，所述金属弹片用于夹紧测试器件引脚。

10、在一些实施方式中，所述过载保护器的两端与高温偏置试验测试板可分离设置；

11、通过过载保护器与高温偏置试验测试板可分离设置，使得当过载保护器动作失效后，过载保护器可替换维修，减少维修成本；同时可根据不同的测试器件设置不同参数的过载保护器。

12、在一些实施方式中，所述保护电阻两端与高温偏置试验测试板可分离设置。

13、通过保护电阻两端与高温偏置试验测试板可分离设置，使得保护电阻可根据不同的测试器件设置不同参数的保护电阻。

14、在一些实施方式中，所述过载保护器为保险丝或熔断器。

15、在一些实施方式中，所述过载保护器的额定电流为50ma-100ma。

16、在一些实施方式中，所述保护电阻的电阻值为10kω-1mω。

17、在一些实施方式中，还包括接地母线，所述接地母线还包括：若干接地保护电阻，若干所述接地保护电阻并联跨接在两段所述接地线之间，使两段所述接地线串联。

18、在一些实施方式中，所述接地保护电阻两端与高温偏置试验测试板可分离设置。

19、与现有技术相比，本实用新型至少具有以下一项有益效果：

20、1.通过与高温偏置试验测试板可分离设置的跳线，使高温偏置试验测试板既可以进行低压三引脚封装芯片的htgb高温栅极偏压试验，也可以进行高压双引脚封装芯片的htrb高温反向偏压试验，从而实现不需要更换测试板即可进行两种测试。

21、2.通过设置保护电路，保护测试模块和测试器件免受测试试验过程中产生的过电流和过电压的危害。

22、3.通过过载保护器和保护电阻与高温偏置试验测试板的可分离设置，按照测试器件的参数规格进行替换设置，可以使高温偏置试验测试板应对多种不同参数规格的测试器件。

23、4.通过过载保护器和保护电阻与高温偏置试验测试板的可分离设置，可以在过载保护器和保护电阻损坏时，快速维修替换，提高维修效率，节省使用成本。

技术特征：

1.一种高温偏置试验测试板，其特征在于，包括：若干个测试电路，所述测试电路包括：跳线电路、测试模块和保护电路；

2.根据权利要求1所述的一种高温偏置试验测试板，其特征在于，

3.根据权利要求1所述的一种高温偏置试验测试板，其特征在于，所述第一引脚插孔、所述第二引脚插孔和所述第三引脚插孔中均设置一金属弹片，所述金属弹片用于夹紧测试器件引脚。

4.根据权利要求2所述的一种高温偏置试验测试板，其特征在于，所述过载保护器的两端与高温偏置试验测试板可分离设置。

5.根据权利要求2所述的一种高温偏置试验测试板，其特征在于，所述保护电阻两端与高温偏置试验测试板可分离设置。

6.根据权利要求2-5任一项所述的高温偏置试验测试板，其特征在于，所述过载保护器为保险丝或熔断器。

7.根据权利要求2-5任一项所述的一种高温偏置试验测试板，其特征在于，所述过载保护器的额定电流为50ma-100ma。

8.根据权利要求2-5任一项所述的一种高温偏置试验测试板，其特征在于，所述保护电阻的电阻值为10kω-1mω。

9.根据权利要求1所述的一种高温偏置试验测试板，其特征在于，还包括两段接地母线和若干接地保护电阻，若干所述接地保护电阻并联跨接在两段接地母线之间，使两段所述接地母线串联。

10.根据权利要求9所述的一种高温偏置试验测试板，其特征在于，所述接地保护电阻两端与高温偏置试验测试板可分离设置。

技术总结
本技术公开了一种高温偏置试验测试板，包括：若干个测试电路，测试电路包括：跳线电路、测试模块和保护电路；跳线电路包括：第一跳线插孔、第二跳线插孔和可分离连接在第一跳线插孔和第二跳线插孔之间的跳线；测试模块包括：第一引脚插孔、第二引脚插孔和第三引脚插孔；第一引脚插孔通过保护电路与电源电连接；第二引脚插孔与第一跳线插孔电连接；第三引脚插孔与第二跳线插孔电连接，第三引脚插孔还与接地端连接。第一测试状态，跳线与第一跳线插孔和第二跳线插孔连接，用于HTGB试验；第二测试状态，跳线不与第一跳线插孔和第二跳线插孔连接，用于HTRB试验。本技术可切换进行两个试验，成本节约效果好。

技术研发人员：胥亚军
受保护的技术使用者：北测（上海）电子科技有限公司
技术研发日：20230523
技术公布日：2024/1/15