水导激光穿透检测系统的光谱检测光路结构的制作方法

本技术涉及水导激光加工领域，具体是涉及水导激光穿透检测系统的光谱检测光路结构。

背景技术：

1、水导激光切割与传统激光切割相比具有以下优势：不会产生热损伤，这是因为喷射的水流可以在激光脉冲间隙冷却材料，极大地降低材料的热变形和热损伤，使材料保持其原来结构和性能；水射流工作距离大，不需要聚焦；喷射水流会在切割过程中带走熔融的材料，减少污染物；加工精度高，特别适用于薄壁件的高精度加工。

2、目前在确定激光设备对工件的加工情况，通常采用光谱仪对反射回设备内部的光谱进行检测，根据不同波段的光谱来判断工件是否被击穿，但是目前市场上的光谱仪成本较高，进而增加了设备的制作成本，同时激光切割时反射的光束在进入设备内部的时候，均是散乱无序的，进而降低传感器对光谱的检测精度。

技术实现思路

1、针对上述问题，提供水导激光穿透检测系统的光谱检测光路结构，通过设置多个传感器，并且将每个传感器设定成只检测某一特定波长的光强度变化，以此采用较为便宜的普通传感器即可。

2、为解决现有技术问题，本实用新型提供水导激光穿透检测系统的光谱检测光路结构，包括有第一仓室和第二仓室，所述第二仓室的底端与第一仓室的顶端固定连接，第一仓室的外侧设有提供激光光束的激光发生器，第一仓室的底部设有输出端头，第一仓室的内部设有将激光光束反射到输出端头的激光反射镜；第二仓室的底部设有贯穿至第二仓室上方的光路路径，第二仓室的外侧设有若干个贯穿至光路路径的导向孔；光路路径内部自下而上的设有若干个半反半透镜，半反半透镜之间间隔分布；第二仓室的外侧设有至少一个安装座，安装座与导向孔之间实现可拆卸式的固定连接，安装座的内腔通过导向孔与半反半透镜所处的空间相互连通，安装座上设有传感器；传感器的检测端深入安装座内部并且正对半反半透镜。

3、优选的，所述安装座内部设有聚焦镜和滤光镜；聚焦镜靠近传感器的检测端。

4、优选的，激光反射镜上镀有反射膜。

5、优选的，第二仓室的外侧还设有用于密封导向孔的封盖。

6、优选的，第二仓室的顶端设有工业相机，工业相机的镜头伸入第二仓室内部。

7、优选的，第二仓室的外侧设有光源组件；光源组件与靠近第二仓室顶端的导向孔可拆卸式的固定连接。

8、优选的，所有的连接处均设有至少一个密封圈。

9、本实用新型相比较于现有技术的有益效果是：

10、1、本实用新型通过在第二仓室上设置多个传感器，并且将各个传感器分别设置为仅检测特定波段的状态，以此通过多个传感器对反射回的光谱进行独立检测，当某一个传感器检测到特定波长的光强度变化时，可以快速判断出工件是否被击穿，从而无需使用过于昂贵的光谱仪，降低了设备的制作成本。

11、2、本实用新型固定传感器的安装座内部设有滤光镜和聚焦镜，以此通过滤光镜将多余的光谱过滤掉，之后通过聚焦镜将杂乱的光谱聚焦到同一点上，进而确保传感器能够精准的对光谱进行检测。

12、3、本实用新型在激光反射镜上镀有专门反射激光波长的反射膜，以此避免激光光束反射到第二仓室内，减少激光光束对传感器检测结果的影响。

技术特征：

1.水导激光穿透检测系统的光谱检测光路结构，包括有第一仓室(1)和第二仓室(2)，所述第二仓室(2)的底端与第一仓室(1)的顶端固定连接，第一仓室(1)的外侧设有提供激光光束的激光发生器(12)，第一仓室(1)的底部设有输出端头(11)，第一仓室(1)的内部设有将激光光束反射到输出端头(11)的激光反射镜(13)；

2.根据权利要求1所述的水导激光穿透检测系统的光谱检测光路结构，其特征在于，所述安装座(23)内部设有聚焦镜(24)和滤光镜(25)；

3.根据权利要求1所述的水导激光穿透检测系统的光谱检测光路结构，其特征在于，激光反射镜(13)上镀有反射膜。

4.根据权利要求1所述的水导激光穿透检测系统的光谱检测光路结构，其特征在于，第二仓室(2)的外侧还设有用于密封导向孔的封盖(26)。

5.根据权利要求1所述的水导激光穿透检测系统的光谱检测光路结构，其特征在于，第二仓室(2)的顶端设有工业相机(27)，工业相机(27)的镜头伸入第二仓室(2)内部。

6.根据权利要求5所述的水导激光穿透检测系统的光谱检测光路结构，其特征在于，第二仓室(2)的外侧设有光源组件(28)；

7.根据权利要求1所述的水导激光穿透检测系统的光谱检测光路结构，其特征在于，所有的连接处均设有至少一个密封圈(231)。

技术总结
本技术涉及水导激光加工领域，具体是涉及水导激光穿透检测系统的光谱检测光路结构，包括有第一仓室和第二仓室，第一仓室设有激光发生器、输出端头和激光反射镜；第二仓室的底部光路路径，第二仓室的外侧设有导向孔；光路路径内部设有半反半透镜；第二仓室的外侧设有安装座，安装座上设有传感器；传感器的检测端深入安装座内部并且正对半反半透镜。本技术通过在第二仓室上设置多个传感器，并且将各个传感器分别设置为仅检测特定波段的状态，以此通过多个传感器对反射回的光谱进行独立检测，当某一个传感器检测到特定波长的光强度变化时，可以快速判断出工件是否被击穿，从而无需使用过于昂贵的光谱仪，降低了设备的制作成本。

技术研发人员：敖荟兰,林健森,黄嘉伟
受保护的技术使用者：东莞市科诗特技术有限公司
技术研发日：20230530
技术公布日：2024/1/13