用于芯片功能测试的测试装置的制作方法

本技术涉及芯片测试，尤其涉及一种用于芯片功能测试的测试装置。

背景技术：

1、芯片在使用之前，需要先对芯片的gpio(general purpose input output，通用输入输出)进行各种功能测试。

2、相关技术中，芯片的gpio测试通常是通过人工的方式，使用万用表或示波器等测量仪器对芯片的gpio逐个进行测量，通过检测其电平状态判断gpio是否功能正常。

3、然而，上述通过人工测试的方式可靠性较差，操作繁琐。

技术实现思路

1、针对上述技术问题的至少一个方面，本申请实施例提供了一种用于芯片功能测试的测试装置，测试装置包括测试电路，测试电路通过开关元件的控制电极电连接至芯片的pin脚，这样，在pin脚输出高电平时测试电路导通，在pin脚输出低电平时测试电路断路，从而通过测试电路中连接的信号元件即可直观判断芯片的输出是否正常，可靠性和操作效率均较高。

2、本申请实施例提供一种用于芯片功能测试的测试装置，所述测试装置用于对芯片进行功能测试，所述芯片包括控制单元和pin脚，所述控制单元用于控制所述pin脚分别处于输入状态和输出状态；

3、所述测试装置包括测试电路，所述测试电路包括串联的信号元件和开关元件，所述开关元件的第一电极、第二电极和所述信号元件串联于所述测试电路的高电平和低电平之间，所述开关元件的控制电极电连接至所述pin脚；

4、其中，所述开关元件被配置为：

5、在所述控制电极接收到所述pin脚处于输出状态的高电平时导通所述第一电极和所述第二电极，以使所述测试电路处于通路状态；并且，

6、在所述控制电极接收到所述pin脚处于输出状态的低电平时断开所述第一电极和所述第二电极，以使所述测试电路处于断路状态。

7、在一实施例中，所述芯片包括若干所述pin脚；

8、所述测试装置包括若干所述测试电路；

9、其中，若干所述pin脚分别电连接至不同的所述测试电路的所述控制电极。

10、在一实施例中，所述测试装置还包括电路测试板，若干所述测试电路呈阵列状布置于所述电路测试板；

11、其中，所述电路测试板还安装有芯片插接槽，所述芯片插接槽用于供所述pin脚插接。

12、在一实施例中，所述开关元件包括mos管，所述mos管的漏极为所述第一电极，所述mos管的源极为所述第二电极，所述mos管的栅极为所述控制电极。

13、在一实施例中，所述测试电路还包括操作元件，所述操作元件至少包括第一触点和第二触点，所述第一触点电连接至所述pin脚，所述第二触点电连接至所述控制电极；

14、其中，所述操作元件包括操作开关，所述操作开关控制所述第一触点与所述第二触点之间的通、断。

15、在一实施例中，所述操作元件还包括第三触点，所述第三触点用于电连接至外部高电平；

16、其中，所述操作开关在第一档位置时导通所述第一触点与所述第二触点，所述操作开关在第二档位置时导通所述第一触点与所述第三触点。

17、在一实施例中，所述操作元件还包括第四触点，所述第四触点用于接地；

18、其中，所述操作开关在第三档位置时导通所述第二触点与所述第四触点，并且，所述第一触点与所述第二触点之间还通过导线连接。

19、在一实施例中，所述操作元件包括三位单刀单置开关。

20、在一实施例中，所述信号元件包括信号灯。

21、在一实施例中，所述测试电路并联有电压检测装置。

22、本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：

23、本申请实施例提供了一种用于芯片功能测试的测试装置，该测试装置用于对芯片进行功能测试，芯片包括控制单元和pin脚，控制单元可以控制pin脚分别处于输入状态和输出状态；该测试装置包括测试电路，测试电路中串联有信号元件和开关元件，其中，开关元件具有第一电极、第二电极和控制电极，该开关元件的第一电极、第二电极和信号元件串联于测试电路的高电平和低电平之间，然后，该开关元件通过控制电极电连接至芯片的pin脚；并且，芯片的控制单元控制其pin脚处于输出模式；这样，当pin脚输出高电平时，开关元件根据该高电平信号导通第一电极和第二电极，使测试电路处于通路状态，此时，应理解，有电流流过该信号元件；当pin脚输出低电平时，开关元件根据该低电平信号不导通第一电极和第二电极，使测试电路处于断路状态，此时，应理解，没有电流流过该信号元件；

24、也就是说，测试电路的开关元件可以根据pin脚输出的电平高低控制测试电路的通、断，进而可以根据信号元件的亮、灭(信号元件例如可以是信号灯)来测试芯片的高电平输出和低电平输出是否功能正常；相较使用测量仪器对芯片的gpio逐个进行测量的方案，本申请首先可以更加直观的判断芯片的高、低电平输出，提高了可靠性；此外，由于不同的芯片可能输出高电平的数值不同，本申请可以适用不同芯片的高电平状态，而不会出现由于芯片pin脚输出的高电平不够驱动信号元件、即使pin脚输出高电平而信号元件没有点亮的情况，适应性强。

技术特征：

1.一种用于芯片功能测试的测试装置，其特征在于，所述测试装置用于对芯片(100)进行功能测试，所述芯片(100)包括控制单元(101)和pin脚(102)，所述控制单元(101)用于控制所述pin脚(102)分别处于输入状态和输出状态；

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括电路测试板(20)，若干所述测试电路(10)呈阵列状布置于所述电路测试板(20)；

4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述开关元件(12)包括mos管，所述mos管的漏极为所述第一电极(121)，所述mos管的源极为所述第二电极(122)，所述mos管的栅极为所述控制电极(123)。

5.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试电路(10)还包括操作元件(13)，所述操作元件(13)至少包括第一触点(131)和第二触点(132)，所述第一触点(131)电连接至所述pin脚(102)，所述第二触点(132)电连接至所述控制电极(123)；

6.根据权利要求5所述的测试装置，其特征在于，所述操作元件(13)还包括第三触点(133)，所述第三触点(133)用于电连接至外部高电平；

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述操作元件(13)还包括第四触点(134)，所述第四触点(134)用于接地；

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述操作元件(13)包括三位单刀单置开关。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述信号元件(11)包括信号灯。

10.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试电路(10)并联有电压检测装置。

技术总结
本申请公开了一种用于芯片功能测试的测试装置，测试装置包括测试电路，测试电路通过开关元件的控制电极电连接至芯片的PIN脚，这样，在PIN脚输出高电平时测试电路导通，在PIN脚输出低电平时测试电路断路，从而通过测试电路中连接的信号元件即可直观判断芯片的输出是否正常，可靠性和操作效率均较高。

技术研发人员：王国伟,艾国,杨作兴
受保护的技术使用者：北京边锋信息技术有限公司
技术研发日：20230531
技术公布日：2024/1/15