本技术涉及校验,具体涉及一种校验组件及校验仪。
背景技术:
1、在机组正常运行过程中,需要定期对温度采集模件进行校验以确保机组各部件温度值上送准确。相关技术中在对温度采集模件进行校验时,需要将与温度采集模件连接的两根等电位线从端子排内侧的接线端子上解下,使用电工夹将两根等电位线同时接入校验仪公共端表笔,校验仪信号输出端使用指针式表笔插入温度采集模件的信号线端子孔进行校验,而且需要校验的温度采集模件的数量较多,校验时解线数量较多,校验时间过长,影响工作效率。
技术实现思路
1、本实用新型旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此,本实用新型的实施例提出了一种校验组件,可以提高校验效率。
2、本实用新型实施例的校验组件,包括:第一导线,所述第一导线具有第一接线端、第二接线端和第三接线端,所述第一接线端和所述第二接线端在第一方向上间隔布置,所述第一接线端与所述第三接线端在正交于所述第一方向的第二方向上间隔布置,所述第一接线端与所述第二接线端适于与温度采集模件相连,所述第三接线端位于所述第一导线远离所述温度采集模件的一端;第二导线,所述第二导线与所述第一导线在所述第一方向上间隔布置,且所述第二导线与所述第一导线绝缘连接,所述第二导线具有第四接线端和第五接线端,所述第四接线端与所述第五接线端在所述第二方向上间隔布置,所述第四接线端与所述温度采集模件相连,所述第五接线端位于所述第二导线远离所述温度采集模件的一端。
3、本实用新型实施例的校验组件,可以提高校验效率。
4、在一些实施例中,所述校验组件还包括连接件,所述连接件为绝缘连接件,所述连接件的一端与所述第一导线相连,所述连接件的另一端与所述第二导线相连以调整所述第一导线和所述第二导线在所述第一方向上的间隔距离。
5、在一些实施例中,所述连接件的数量设为多个,多个所述连接件在所述第二方向上间隔布置。
6、在一些实施例中,所述第一导线包括折弯段和两个连接段,所述连接段沿所述第二方向延伸,且两个所述连接段的一端通过折弯段连接,所述第一接线端和所述第二接线端分别设在两个所述连接段的另一端,所述第三接线端设在所述折弯段。
7、在一些实施例中,所述第一接线端、所述第二接线端和所述第四接线端在所述第一方向上平齐。
8、在一些实施例中,所述第一接线端与所述第二接线端之间的间隔距离与所述第二接线端与所述第四接线端之间的间隔距离相同。
9、在一些实施例中,所述第五接线端朝向远离所述第一导线的方向延伸。
10、在一些实施例中,所述第一导线与所述第二导线的直径相同。
11、在一些实施例中,所述第四接线端适于与端子排的其中一个插接口相连,所述端子排上具有至少三个插接口,所述第一接线端和所述第二接线端与所述端子排中的另两个所述插接口一一对应连接,所述端子排的另一端与所述温度采集模件相连。
12、本实用新型实施例的校验仪,包括:校验组件,所述校验组件为上述任一项所述的校验组件;校验本体,所述校验本体具有第一端和第二端,所述第一端与所述第三接线端相连,所述第二端与所述第五接线端相连以形成回路,便于向所述温度采集模件输出温度值。
13、本实用新型实施例的校验仪,可以提高校验仪的校验效率。
1.一种校验组件,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的校验组件,其特征在于,还包括连接件,所述连接件为绝缘连接件,所述连接件的一端与所述第一导线相连,所述连接件的另一端与所述第二导线相连以调整所述第一导线和所述第二导线在所述第一方向上的间隔距离。
3.根据权利要求2所述的校验组件,其特征在于,所述连接件的数量设为多个,多个所述连接件在所述第二方向上间隔布置。
4.根据权利要求1所述的校验组件,其特征在于,所述第一导线包括折弯段和两个连接段,所述连接段沿所述第二方向延伸,且两个所述连接段的一端通过折弯段连接,所述第一接线端和所述第二接线端分别设在两个所述连接段的另一端,所述第三接线端设在所述折弯段。
5.根据权利要求4所述的校验组件,其特征在于,所述第一接线端、所述第二接线端和所述第四接线端在所述第一方向上平齐。
6.根据权利要求5所述的校验组件,其特征在于,所述第一接线端与所述第二接线端之间的间隔距离与所述第二接线端与所述第四接线端之间的间隔距离相同。
7.根据权利要求1所述的校验组件,其特征在于,所述第五接线端朝向远离所述第一导线的方向延伸。
8.根据权利要求1所述的校验组件,其特征在于,所述第一导线与所述第二导线的直径相同。
9.根据权利要求1所述的校验组件,其特征在于,所述第四接线端适于与端子排的其中一个插接口相连,所述端子排上具有至少三个插接口,所述第一接线端和所述第二接线端与所述端子排中的另两个所述插接口一一对应连接,所述端子排的另一端与所述温度采集模件相连。
10.一种校验仪,其特征在于,包括: