插芯光纤检测装置的制作方法

本申请属于激光检测，尤其涉及一种插芯光纤检测装置。

背景技术：

1、在半导体封装中，经常使用到插芯光纤结构，采用环氧树脂将光纤与陶瓷插芯固定，再将整体插芯光纤与光源进行耦合、封装。在器件的生产制造中，需要对所使用的元件进行检测，以确保物料的合格。

2、相关技术中，对光纤进行检测，但是无法完全检测出插芯光纤的不良，检测结果准确率低。

技术实现思路

1、本申请实施例提供插芯光纤检测装置，以解决现有的插芯光纤不良检测结果准确率低的问题。

2、本申请实施例提供一种插芯光纤检测装置，包括：

3、激光发生器，用于发射预设功率的激光束；

4、聚焦组件，用于将所述激光束聚焦至所述待测试插芯光纤端面，射入所述待测试插芯光纤内，以根据所述待测试插芯光纤发亮判断所述待测试插芯存在不良。

5、可选的，若所述待测试插芯光纤的尾胶处发亮，判断出所述待测试插芯光纤存在点胶不良的情况；

6、和/或，若所述光纤发亮，判断出所述待测试插芯光纤存在光纤漏光的情况。

7、可选的，还包括：

8、本体，具有容纳空间，所述本体侧壁开设有第一安装槽和第二安装槽，所述第一安装槽用于安装所述待检测插芯光纤，使得所述待检测插芯光纤的插芯位于所述容纳空间内，所述待检测插芯光纤的尾胶处位于所述本体外，所述第二安装槽安装所述激光发生器，所述聚焦组件安装于所述容纳空间内。

9、可选的，还包括：

10、所述第一安装槽和所述第二安装槽相对设置，所述聚焦组件位于所述第一安装槽和所述第二安装槽之间。

11、可选的，所述本体具有底座和盖板，所述第一安装槽和所述第二安装槽设置于所述底座上，所述盖板与所述底座可拆卸连接。

12、可选的，所述盖板设有可视区，所述可视区与所述容纳空间相对。

13、可选的，所述聚焦组件包括聚焦透镜，所述聚焦透镜安装于所述本体内。

14、可选的，所述聚焦组件还包括调节件，设置于所述本体内，所述调节件连接所述聚焦透镜和所述本体，所述调节件用于驱动所述聚焦透镜靠近或远离所述第一安装槽。

15、可选的，所述激光束的波段在400nm至700nm之间；

16、和/或，所述激光发生器的功率在100mw以上。

17、可选的，所述激光发生器为红光二极管。

18、本申请实施例提供的插芯光纤检测装置，采用聚焦组件将激光发生器发射的预设功率的激光束聚焦至待测试插芯光纤的端面上，激光束射入待测试插芯光纤内，根据待测试插芯光纤发亮判断待测试插芯存在不良，若待测试插芯光纤无任何发亮说明待测试光纤良好，克服了现有的插芯光纤不良检测结果准确率低的问题，能够检测出插芯光纤各种不良，测试结果准确率高。

技术特征：

1.一种插芯光纤检测装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的插芯光纤检测装置，其特征在于，若所述待测试插芯光纤的尾胶处发亮，判断出所述待测试插芯光纤存在点胶不良的情况；

3.根据权利要求1所述的插芯光纤检测装置，其特征在于，还包括：

4.根据权利要求3所述的插芯光纤检测装置，其特征在于，还包括：

5.根据权利要求3所述的插芯光纤检测装置，其特征在于，所述本体具有底座和盖板，所述第一安装槽和所述第二安装槽设置于所述底座上，所述盖板与所述底座可拆卸连接。

6.根据权利要求5所述的插芯光纤检测装置，其特征在于，所述盖板设有可视区，所述可视区与所述容纳空间相对。

7.根据权利要求3所述的插芯光纤检测装置，其特征在于，所述聚焦组件包括聚焦透镜，所述聚焦透镜安装于所述本体内。

8.根据权利要求7所述的插芯光纤检测装置，其特征在于，所述聚焦组件还包括调节件，设置于所述本体内，所述调节件连接所述聚焦透镜和所述本体，所述调节件用于驱动所述聚焦透镜靠近或远离所述第一安装槽。

9.根据权利要求1所述的插芯光纤检测装置，其特征在于，所述激光束的波段在400nm至700nm之间；

10.根据权利要求1所述的插芯光纤检测装置，其特征在于，所述激光发生器为红光二极管。

技术总结
本申请公开一种插芯光纤检测装置，该装置包括激光发生器和聚焦组件，激光发生器用于发射预设功率的激光束，聚焦组件用于将激光束聚焦至待测试插芯光纤端面，射入待测试插芯光纤内，根据待测试插芯光纤发亮判断待测试插芯存在不良。克服了现有的插芯光纤不良检测结果准确率低的问题，能够检测出插芯光纤各种不良，测试结果准确率高。

技术研发人员：王冲,费华
受保护的技术使用者：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
技术研发日：20230710
技术公布日：2024/2/19