一种简易的芯片开尔文测试工装的制作方法

本技术涉及转向系统，具体地说是一种简易的芯片开尔文测试工装。

背景技术：

1、在当前高速发展的科技时代，芯片即是全球竞争的核心竞争力。目前国内eps（electric power steering）产品大部分还是选用技术更成熟，工艺更稳定的进口芯片。受全球芯片核心竞争的影响，进口芯片缺货乱象已是产业链紊乱的关键问题，所以发展芯片国产化替代是大势所趋，也迫在眉睫。

2、现有技术针对eps产品上的表面贴装式mosfet提出了一种测试工装，其功能是将mosfet与keysight b1506电测设备的扩展夹具相连接。现实中常见的测试工装从机械结构分有翻盖式和下压咬合式，从测试针接触方式分有翘起式面接触和pin针式点接触，这样的搭配存在一些问题。翻盖式工装在翻盖上有下压部件，用来将测试芯片与测试针压合在一起，但是在翻盖闭合过程中下压部件最先与芯片棱接触，从而受斜切力作用导致芯片在测试槽中的位置发生偏移。随着芯片尺寸越来越小，管脚长度和厚度也受到限制，下压咬合式虽然可以解决闭合过程中芯片偏移的问题，但是在咬合过程中会使芯片管脚划伤甚至压断。翘起式面接触工装目前的市场占有率最高，但是其在下压过程中导致芯片偏移的可能性最大。pin针式点接触工装在芯片放入时探针尖端也会剐蹭到芯片，压合力偏大时甚至会在管脚上出现凹坑。

3、mosfet在eps系统中起着相当重要的角色，相比消费级产品其功能安全等级更高，需要满足车规级芯片的“零失效”标准。通常选用的mosfet具有低电压大电流的特性，所以在电参测试时部分功能参数会在大电流的条件下进行，当mosfet与测试针接触偏移时便容易出现打火现象，导致器件烧伤或者夹具损坏。

技术实现思路

1、本实用新型为克服现有技术的不足，提供一种简易的芯片开尔文测试工装，结构简单，底座与压盖分开，使得芯片的受力更均匀；浮块与埋入式pin线配合使得芯片管脚与pin线压紧过程中不会出现移位。

2、为实现上述目的，设计一种简易的芯片开尔文测试工装，包括压盖、底座，其特征在于：所述的底座呈矩形模块结构，位于底座的前后两侧分别设有导向槽，底座的左右两侧分别设有锁扣凹槽，位于底座的中央设有凹槽，凹槽内设有浮块，浮块的下方设有埋入式pin线；所述的压盖为矩形模块结构，位于压盖的前后两侧分别连接限位导轨，位于压盖的左右两侧分别连接锁扣；压盖通过左右两侧的锁扣与底座连接。

3、所述的压盖的限位导轨与底座的导向槽相配合。

4、位于压盖的左右两侧分别通弹簧一连接锁扣；位于压盖的底部中央通过弹簧二连接压块。

5、所述的锁扣的一端与弹簧一连接，锁扣的另一端呈钩子型与底座左右两侧的凹槽相配合。

6、所述的浮块为中间镂空结构，浮块的底部通过弹簧三与底座的底部连接。

7、所述的埋入式pin线包括漏极pin线、源极pin线、栅极pin线，并且漏极pin线、源极pin线、栅极pin线的底部连接金属针的一端，金属针的另一端贯穿底座并位于底座的下方。

8、本实用新型同现有技术相比，提供一种简易的芯片开尔文测试工装，结构简单，底座与压盖分开，压盖在导向槽的作用下垂直下压芯片，使得芯片的受力更均匀，不易出现位置偏移；浮块与埋入式pin线配合使得芯片管脚与pin线压紧过程中不会出现移位，另外pin线与芯片管脚的面接触面积更大，进一步防止大电流测试出现的打火现象；通过选取弹簧的大小可以调节芯片下压时承受的压紧力，避免力太小芯片管脚与pin线虚接，力太大使得芯片内部产生应力源。

技术特征：

1.一种简易的芯片开尔文测试工装，包括压盖、底座，其特征在于：所述的底座（1）呈矩形模块结构，位于底座（1）的前后两侧分别设有导向槽（13），底座（1）的左右两侧分别设有锁扣凹槽（15），位于底座（1）的中央设有凹槽，凹槽内设有浮块（11），浮块（11）的下方设有埋入式pin线（12）；所述的压盖（2）为矩形模块结构，位于压盖（2）的前后两侧分别连接限位导轨（23），位于压盖（2）的左右两侧分别连接锁扣（21）；压盖（2）通过左右两侧的锁扣（21）与底座（1）连接。

2.根据权利要求1所述的一种简易的芯片开尔文测试工装，其特征在于：所述的压盖（2）的限位导轨（23）与底座（1）的导向槽（13）相配合。

3.根据权利要求1所述的一种简易的芯片开尔文测试工装，其特征在于：位于压盖（2）的左右两侧分别通弹簧一（24）连接锁扣（21）；位于压盖（2）的底部中央通过弹簧二（25）连接压块（22）。

4.根据权利要求3所述的一种简易的芯片开尔文测试工装，其特征在于：所述的锁扣（21）的一端与弹簧一（24）连接，锁扣（21）的另一端呈钩子型与底座（1）左右两侧的凹槽相配合。

5.根据权利要求1所述的一种简易的芯片开尔文测试工装，其特征在于：所述的浮块（11）为中间镂空结构，浮块（11）的底部通过弹簧三（14）与底座（1）的底部连接。

6.根据权利要求1所述的一种简易的芯片开尔文测试工装，其特征在于：所述的埋入式pin线（12）包括漏极pin线（122）、源极pin线（121）、栅极pin线（123），并且漏极pin线（122）、源极pin线（121）、栅极pin线（123）的底部连接金属针（4）的一端，金属针（4）的另一端贯穿底座（1）并位于底座（1）的下方。

技术总结
本技术涉及转向系统技术领域，具体地说是一种简易的芯片开尔文测试工装。一种简易的芯片开尔文测试工装，其特征在于：所述的底座呈矩形模块结构，位于底座的前后两侧分别设有导向槽，底座的左右两侧分别设有锁扣凹槽，位于底座的中央设有凹槽，凹槽内设有浮块，浮块的下方设有埋入式Pin线；所述的压盖为矩形模块结构，位于压盖的前后两侧分别连接限位导轨，位于压盖的左右两侧分别连接锁扣；压盖通过左右两侧的锁扣与底座连接。同现有技术相比，提供一种简易的芯片开尔文测试工装，结构简单，底座与压盖分开，压盖在导向槽的作用下垂直下压芯片，使得芯片的受力更均匀，不易出现位置偏移。

技术研发人员：张腾,周平,王健,聂俊彦
受保护的技术使用者：博世华域转向系统有限公司
技术研发日：20230712
技术公布日：2024/3/21