一种晶闸管失效试验装置的制作方法

本技术涉及晶闸管领域，特别是涉及一种晶闸管失效试验装置。

背景技术：

1、晶闸管是一种固态半导体器件，具有四层交替的p型和n型材料，用于高功率应用，它专门用作双稳态开关(或锁存器)，当栅极接收到电流触发时导通，并继续导通，直到器件两端的电压反向偏置，或直到电压被移除；

2、现有技术中，公开号为cn116125239a的中国发明公开了一种晶闸管失效试验装置及其测试系统，一种晶闸管失效试验装置，包括：安装主板结构，所述安装主板结构设有定位孔和安装孔，所述安装孔内放置有第一磁性原件，所述定位孔用于放置待测试晶圆；负极压板结构，所述负极压板结构包括负极板、以及设于负极板上的第二磁性原件，所述第一磁性原件与第二磁性原件相互吸引以使负极板与待测试晶圆贴合，本发明解决晶闸管试验在固定晶圆时结构复杂的问题；

3、但由于主框架结构和卡块之间是固定设置的，导致卡块之间的间距无法进行改变，设置在卡块上的两组相邻的晶闸管之间的间距也将被固定，在测试晶闸管时，会产生一定的热量，若在较热的天气中进行测试，加上晶闸管本身产生的热量，则热量无法直接散出，会影响晶闸管的测试结果。

技术实现思路

1、本实用新型的目的在于提供一种晶闸管失效试验装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

2、为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种晶闸管失效试验装置，其特征在于，包括：

3、主框架本体，所述主框架本体的内部转动设置有螺纹杆，所述螺纹杆上套设有导向块；

4、卡块，设置在所述导向块上，且所述卡块和所述导向块之间设置有固定件；

5、限位件，设置在所述螺纹杆的端部，且一端插接在所述主框架本体的侧壁内部。

6、优选地，所述主框架本体的底部开设有沉槽，所述螺纹杆转动设置在所述沉槽的内部，且所述导向块滑动设置在所述沉槽的，所述沉槽的内部大小和所述导向块的大小相匹配，所述导向块螺接设置在所述螺纹杆的外表面。

7、优选地，所述固定件包括固定块，所述固定块固定设置在所述卡块的底部，且所述固定块的侧壁开设有插槽，所述导向块相应所述固定块的位置处开设有沉槽，所述沉槽的内部大小和所述固定块的大小相匹配。

8、优选地，所述沉槽相应所述插槽的位置处开设有收纳槽，所述收纳槽的内部插接设置有连接块，所述连接块的大小和所述收纳槽的内部大小相匹配，且所述连接块和所述收纳槽之间设置有第二复位弹簧，所述连接块通过所述第二复位弹簧弹性设置在所述收纳槽的内部。

9、优选地，所述连接块朝向所述插槽的一端端部和所述插槽的内部大小相匹配，所述连接块远离所述插槽的一端贯穿所述导向块的侧壁并延伸至所述导向块的外部。

10、优选地，所述螺纹杆的一端贯穿所述主框架本体的侧壁并连接有把手，且所述螺纹杆靠近所述把手的一端外表面开设有环形槽，所述环形槽靠近所述主框架本体的侧壁开设有限位槽，所述限位槽开设有多组，多组所述限位槽以所述环形槽为圆心呈圆周状态分布。

11、优选地，所述限位件包括套环，所述套环套设在所述螺纹杆的外表面，且所述套环与所述把手之间设置有第一复位弹簧，所述套环通过所述第一复位弹簧弹性设置，且所述套环的内壁固定设置有限位块，所述限位块滑动设置在所述限位槽的内部。

12、优选地，所述套环靠近所述主框架本体的侧壁位置处固定设置有插杆，所述主框架本体的侧壁相应所述插杆的位置处开设有固定孔，所述固定孔的内部大小和所述插杆的大小相匹配。

13、优选地，各所述导向块的螺距是相邻螺距的两倍。

14、与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

15、本实用新型提出的一种晶闸管失效试验装置，通过转动设置的螺纹杆带动多组导向块进行平移，导向块在平移的过程中，通过固定件带动卡块进行移动，从而实现多组卡块同步位移，且位移距离是相邻卡块的两倍，且可通过固定件对卡块进行拆卸，用于调节相邻两组卡块的间距，而设置在螺纹杆端部的限位件，用于限位螺纹杆的转动。

技术特征：

1.一种晶闸管失效试验装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种晶闸管失效试验装置，其特征在于：所述主框架本体的底部开设有沉槽，所述螺纹杆转动设置在所述沉槽的内部，且所述导向块滑动设置在所述沉槽的，所述沉槽的内部大小和所述导向块的大小相匹配，所述导向块螺接设置在所述螺纹杆的外表面。

3.根据权利要求2所述的一种晶闸管失效试验装置，其特征在于：所述固定件包括固定块，所述固定块固定设置在所述卡块的底部，且所述固定块的侧壁开设有插槽，所述导向块相应所述固定块的位置处开设有沉槽，所述沉槽的内部大小和所述固定块的大小相匹配。

4.根据权利要求3所述的一种晶闸管失效试验装置，其特征在于：所述沉槽相应所述插槽的位置处开设有收纳槽，所述收纳槽的内部插接设置有连接块，所述连接块的大小和所述收纳槽的内部大小相匹配，且所述连接块和所述收纳槽之间设置有第二复位弹簧，所述连接块通过所述第二复位弹簧弹性设置在所述收纳槽的内部。

5.根据权利要求4所述的一种晶闸管失效试验装置，其特征在于：所述连接块朝向所述插槽的一端端部和所述插槽的内部大小相匹配，所述连接块远离所述插槽的一端贯穿所述导向块的侧壁并延伸至所述导向块的外部。

6.根据权利要求5所述的一种晶闸管失效试验装置，其特征在于：所述螺纹杆的一端贯穿所述主框架本体的侧壁并连接有把手，且所述螺纹杆靠近所述把手的一端外表面开设有环形槽，所述环形槽靠近所述主框架本体的侧壁开设有限位槽，所述限位槽开设有多组，多组所述限位槽以所述环形槽为圆心呈圆周状态分布。

7.根据权利要求6所述的一种晶闸管失效试验装置，其特征在于：所述限位件包括套环，所述套环套设在所述螺纹杆的外表面，且所述套环与所述把手之间设置有第一复位弹簧，所述套环通过所述第一复位弹簧弹性设置，且所述套环的内壁固定设置有限位块，所述限位块滑动设置在所述限位槽的内部。

8.根据权利要求7所述的一种晶闸管失效试验装置，其特征在于：所述套环靠近所述主框架本体的侧壁位置处固定设置有插杆，所述主框架本体的侧壁相应所述插杆的位置处开设有固定孔，所述固定孔的内部大小和所述插杆的大小相匹配。

技术总结
本技术涉及晶闸管技术领域，具体为一种晶闸管失效试验装置，包括：主框架本体，内部转动设置有螺纹杆，螺纹杆上套设有导向块；卡块，设置在导向块上，且卡块和导向块之间设置有固定件；限位件，设置在螺纹杆的端部，且一端插接在所主框架本体的侧壁内部；有益效果为：通过转动设置的螺纹杆带动多组导向块进行平移，导向块在平移的过程中，通过固定件带动卡块进行移动，从而实现多组卡块同步位移，且位移距离是相邻卡块的两倍，且可通过固定件对卡块进行拆卸，用于调节相邻两组卡块的间距，而设置在螺纹杆端部的限位件，用于限位螺纹杆的转动。

技术研发人员：李玉玲,房亚辉
受保护的技术使用者：杭州西风半导体有限公司
技术研发日：20230724
技术公布日：2024/1/15