芯片外观检测装置的制作方法

本申请涉及芯片检测，尤其涉及芯片外观检测装置。

背景技术：

1、相关技术中，芯片外观检测采用人工检测的方式，检测质量完全取决于人工判断，导致检测结果波动较大，检测结果的准确性较差，并且检测效率较低。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请的目的在于提出芯片外观检测装置。

2、基于上述目的，本申请提供了一种芯片外观检测装置，包括：

3、若干夹持机构、图像采集机构以及转盘机构；

4、夹持机构用于夹持待检测芯片；

5、图像采集机构朝向若干夹持机构中的一个，以检测固定在该夹持机构上的待检测芯片的外观；

6、若干夹持机构均匀分布在转盘机构上，转盘机构用于进行旋转，切换图像采集机构朝向的夹持机构。

7、进一步地，夹持机构包括设置在转盘机构上的第一限位板、可调节与第一限位板之间的距离的第二限位板，以及用于夹紧第二限位板的夹紧模块；

8、夹紧模块的两端分别与第二限位板和转盘机构固定连接。

9、进一步地，转盘机构包括底盘、与底盘连接的从动转盘、带动从动转盘进行转动的主动转盘，以及驱动主动转盘进行转动的驱动模块；

10、若干夹持机构均匀分布在底盘上。

11、进一步地，主动转盘设置有对接柱，从动转盘设置有与对接柱适配的若干对接槽；

12、主动转盘进行旋转时，对接柱与若干对接槽周期性对接，以驱动从动转盘进行周期性旋转。

13、进一步地，图像采集机构包括采集相机，以及驱动采集相机进行升降的升降模块。

14、进一步地，升降模块包括与采集相机固定连接的活动板、用于提供升降动力的动力模块，以及连接动力模块的输出端与活动板的连接杆。

15、进一步地，图像采集机构还包括安装罩、至少两个连接板、至少两个安装板以及至少两个补偿灯；

16、活动板与至少两个连接板铰接，安装板的两端分别与连接板和安装罩铰接；

17、补偿灯固定连接在安装板上。

18、进一步地，图像采集机构还包括与采集相机电连接的检测模块。

19、进一步地，还包括底座；

20、底座设置有可升降支架；可升降支架用于固定图像采集机构，并能够带动图像采集机构进行升降。

21、从上面所述可以看出，本申请提供的芯片外观检测装置，通过图像采集机构对待检测芯片的外观进行检测，避免人工检测导致的检测结果波动，提高检测结果的准确性。并且，通过转盘机构进行旋转，切换图像采集机构朝向的夹持机构，对待检测芯片进行连续检测，提高检测效率。

技术特征：

1.一种芯片外观检测装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述夹持机构包括设置在所述转盘机构上的第一限位板、可调节与所述第一限位板之间的距离的第二限位板，以及用于夹紧所述第二限位板的夹紧模块；

3.根据权利要求1所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述转盘机构包括底盘、与所述底盘连接的从动转盘、带动所述从动转盘进行转动的主动转盘，以及驱动所述主动转盘进行转动的驱动模块；

4.根据权利要求3所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述主动转盘设置有对接柱，所述从动转盘设置有与所述对接柱适配的若干对接槽；

5.根据权利要求1所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述图像采集机构包括采集相机，以及驱动所述采集相机进行升降的升降模块。

6.根据权利要求5所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述升降模块包括与所述采集相机固定连接的活动板、用于提供升降动力的动力模块，以及连接所述动力模块的输出端与所述活动板的连接杆。

7.根据权利要求6所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述图像采集机构还包括安装罩、至少两个连接板、至少两个安装板以及至少两个补偿灯；

8.根据权利要求5所述的芯片外观检测装置，其特征在于，所述图像采集机构还包括与所述采集相机电连接的检测模块。

9.根据权利要求1所述的芯片外观检测装置，其特征在于，还包括底座；

技术总结
本申请提供了芯片外观检测装置，通过图像采集机构对待检测芯片的外观进行检测，避免人工检测导致的检测结果波动，提高检测结果的准确性。并且，通过转盘机构进行旋转，切换图像采集机构朝向的夹持机构，对待检测芯片进行连续检测，提高检测效率。

技术研发人员：周培松,许燚赟,张文昊
受保护的技术使用者：海宁集成电路与先进制造研究院
技术研发日：20230801
技术公布日：2024/2/1